本发明专利技术有效地使用测试模块具有的资源，提供测试至少1个被测试设备的测试装置，该测试装置具有测试模块，其具有在与被测试设备之间传送信号，测试该被测试设备的多个测试部；多个测试控制部，控制上述多个测试部；所述测试模块，能够对所述多个测试部的各个独立地设定所述多个测试部的各个接受由所述多个测试控制部中的任意一个测试控制部的控制。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测试装置及测试模块。
技术介绍
测试被测试设备(DUT)的测试装置具有多个测试模块。多个测试模块分别具有多个测试部。多个测试部的各个与DUT的一端连接，测试该DUT。同时，并行测试多个DUT的测试装置，具有与多个DUT的各自对应的位置控制器 (寸〃卜二 >卜口一，)。多个位置控制器分别控制与对应的DUT连接的测试部，使之执行对应的DUT的测试。
技术实现思路
但是，测试装置以测试模块为单位，分配了多个位置控制器各自控制的测试部。可是，当以测试模块为单位对位置控制器分配测试部时，可能产生不被任何一个位置控制器使用的测试部。比如，如果用具有12个模拟测试部的测试模块测试了具有8个模拟输入输出终端的DUT时，该测试模块没有使用12个中的4个模拟测试部。在这样的现有的测试装置中， 存在不能有效地使用测试模块具有的资源的问题。解决问题的手段为了解决上述问题，本专利技术的第1方式中，提供测试装置，以及该测试装置中的测试模块。所述测试装置测试至少1个被测试装置，具有测试模块，其包括在与被测试设备之间传送信号、测试该被测试设备的多个测试部；多个测试控制部，控制所述多个测试部； 所述测试模块能够对所述多个测试部的各个独立地设定所述多个测试部的各个接受由所述多个测试控制部中的任意一个测试控制部的控制。另外，本专利技术的第2方式中，提供测试装置，是测试至少1个被测试设备的测试装置，具有控制被测试设备测试的测试控制部、在与被测试设备之间传送信号的多个测试模块、连接上述测试控制部及上述多个测试模块之间的连接部；上述测试控制部具有执行为了控制上述被测试设备的测试程序的控制处理器和通讯接口，该通讯接口是根据上述控制处理器的控制，在处理上述测试控制部及上述连接部之间的通讯的同时，从上述多个测试模块的其中一测试模块，接收应该对其他的测试模块转送信息时，借助上述连接部，将该信息向上述其他的测试模块转送。另外，上述专利技术的概要，并未列举出本专利技术的全部必要特征，这些特征群的辅助结合也能够形成专利技术。附图说明图1与多个被测试设备10共同表示本实施方式涉及的测试装置100的功能构成。图2表示多个测试控制部130里面的一测试控制部130的构成，及，1或者多个测4试模块120中的一测试模块120的构成。图3表示在从一测试控制部130向该一测试控制部130对应的被测试设备10连接的测试部210发送访问请求时，访问请求流的一个例子。图4表示在从接收了来自一测试控制部130的访问请求的一测试部210，向一测试控制部130发送访问结果情况下的访问结果的流程的一个例子。图5表示在从一测试部210，向与被该一测试部210连接的被测试设备10对应的一测试控制部130发送中断请求时的中断请求的流程的一个例子。图6表示在多个测试模块120中的一测试模块120具有的测试部210，向其他的测试模块120的测试部210发送信息时的，信息流的一个例子。图7表示在多个测试模块120里面的一测试模块120具有的测试部210，向多个其他的测试模块120的测试部210发布信息时的，信息流的一个例子。图8表示本实施方式的变形例的测试模块120的构成。图9表示有关本实施方式的测试部210构成的一个例子。具体实施例方式下面通过专利技术的实施方式对本专利技术的一个方面进行说明。下面的实施方式并不限定权利要求的范围。在实施方式中说明的特征组合并非全部为本专利技术所必须。图1与多个被测试设备(DUT) 10 一起表示本实施方式涉及的测试装置100的功能构成。测试装置100测试至少1个被测试设备10。即，测试装置100既可以是测试1个被测试设备10的装置，也可以是并行测试多个被测试设备10的装置。测试装置100具有系统控制部110、1个或多个测试模块120、多个测试控制部130 和连接部140。系统控制部110与多个测试控制部130连接，控制该测试装置100全体。系统控制部110和多个测试控制部130之间，作为一个例子，由通用或专用的高速串行总线等连接。1个或多个测试模块120的各个，例如是被装在测试头内的基板。1个或多个测试模块120的各个具有多个测试部210。多个测试部210的各个分别与作为该测试装置100 的测试对象的全部被测试设备10里面的任意1个被测试设备10的终端连接。并且，多个测试部210的各个在与被连接的被测试设备10之间传送信号，测试该被测试设备10。多个测试控制部130的各个分别与是该测试装置100测试对象的至少1个被测试设备10里面的任意1个或多个被测试设备10相对应。多个测试控制部130的各个，分别根据系统控制部110提供的控制命令及测试程序等控制与对应的被测试设备10连接的1个或多个测试部210，控制所对应的被测试设备10的测试。S卩，多个测试控制部130的各个， 分别将1个或多个测试部210作为资源利用，控制对应的被测试设备10测试。连接部140 连接测试控制部130及1个或多个测试模块120之间。在这里，1个或多个测试模块120的各个能分别对多个测试部210各自独立设定该测试模块120具有的多个测试部210各自受到由多个测试控制部130中任意一个测试控制部130的控制。由此，比如，能够设定为，1个或多个测试模块120各个多个测试部210其中一部分接受第1测试控制部130的控制，多个测试部210的另外一部分接受第2测试控制部130的控制。这样，测试装置100，能够分别独立地任意地设定一测试模块120具有的多个测试部210接受控制的测试控制部130。由此，根据测试装置100，能高效率地使用测试模块120 里面的资源来测试。图2表示多个测试控制部130里面的一测试控制部130的构成，及1个或多个测试模块120里面的一测试模块120的构成。测试模块120具有多个测试部210和设定存储部220和接口部230。多个测试部210分别与某一个被测试设备10的终端连接。多个测试部210的各自具有实行测试程序的处理器或序列器等。并且，多个测试部210的各自在与被连接的被测试设备10之间授受与从测试控制部130被给予的测试程序对应的信号，测试该被测试设备10。设定存储部220，存储把多个测试部210各自与多个测试控制部130的其中任意一个测试控制部130对应的设定。在本例中，设定存储部220，存储关于多个测试部210的每一个，用于识别多个测试控制部130中测试部210对应的测试控制部130的识别号码。艮口， 设定存储部220，对多个测试部210的每一个，存储控制该被该测试部210连接的被测试设备10测试的测试控制部130识别号码。这样的设定，在测试之前比如由系统控制部110写入。接口部230，与多个测试部210连接。并且，接口部230，借助连接部140在与多个测试控制部130之间，收发访问请求，中断请求及信息等。比如，接口部230，借助连接部140，接收多个测试控制部130中一测试控制部130 向该测试模块120的访问请求及信息。并且，接口部230，按照存储部220所存储的设定，将来自所接收的一测试控制部130的向该测试模块120的访问请求及信息提供给多个测试部 210中与一测试控制部130对应的一测试部210。同时，比如，接口部230借助连接部140，将从多个测试部210其中一测本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种测试装置，是测试至少１个被测试设备的测试装置，具有：测试模块，其具有在与被测试设备之间传送信号、测试该被测试设备的多个测试部；多个测试控制部，控制所述多个测试部；所述测试模块，能够对所述多个测试部的各个独立地设定所述多个测试部的各个接受由所述多个测试控制部中的任意一个测试控制部的控制。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：森田直志，小石哲也，矢口刚史，
申请(专利权)人：爱德万测试株式会社，
类型：发明
国别省市：JP
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