电路保护装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术揭示一种电路保护装置，与测试设备和待测设备相连，所述电路保护装置包括：第一接口，与所述待测设备电性连接，取得第一电平状态；保护电路，其一端与所述第一接口电性连接，获取所述第一电平状态，依据所述第一电平状态控制所述保护电路的通断；第二接口，其一端与所述保护电路另一端电性连接，另一端与所述测试设备电性连接。利用本实用新型专利技术的电路保护装置，由于通过第一接口获取所述待测设备的第一电平状态，依据所述第一电平状态控制所述保护电路的通断，从而可以达到对测试设备的保护。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

电路保护装置
本技术涉及一种电路保护装置，特别是涉及一种测试设备的电路保护装置。
技术介绍
随着科技的发展进步，电子产品越来越广泛的应用于家庭和办公场合，尤其是个人台式电脑和笔记本电脑，更是成为人们生活中必不可少的工具。因此，需要大量生产该类电子产品。在工厂需要出货前，都需要对其性能进行测试，以确保其品质。请参阅图1，其绘示为现有技术电子产品的测试结构图。目前的测试通常都是将测试设备100与待测设备200直接电性连接。待测设备200以笔记本电脑的显示器为例，而测试设备100以笔记本电脑的主机为例。利用所述主机对所述显示器进行19V以下的电源测试的时候，将二者直接相连。然而，采用上述方式进行测试的时候，由于测试设备100与待测设备200直接电性连接。如果待测设备200本身的电路短路，则在测试设备100供电后，会使得测试设备100 短路而不能正常工作甚至烧毁。有鉴于此，实有必要开发一种电路保护装置，以解决上述问题。
技术实现思路
因此，本技术的目的是提供一种电路保护装置，可以保证在测试设备和待测设备电性连接的安全性。为了达到上述目的，本技术提供的电路保护装置，与测试设备和待测设备相连，所述电路保护装置包括第一接口，与所述待测设备电性连接，取得第一电平状态； 保护电路，其一端与所述第一接口电性连接，获取所述第一电平状态，依据所述第一电平状态控制所述保护电路的通断；第二接口，其一端与所述保护电路另一端电性连接，另一端与所述测试设备电性连接。可选的，所述第一电平状态为低电平，所述保护电路通路；第一电平状态为高电平，所述保护电路断路。可选的，所述第二接口与所述测试设备电性连接，获取第二电平状态，所述第一、 第二电平状态皆为低电平，所述保护电路通路；第一、第二电平状态其中之一为高电平，所述保护电路断路。可选的，所述保护电路包括MOS管，所述MOS管导通，则所述保护电路通路。可选的，所述电路保护装置还包括监测电路，与所述第一接口电性连接，依据所述第一电平状态产生监测信号。可选的，所述电路保护装置还包括监测电路，与所述第二接口电性连接，依据所述第二电平状态产生监测信号。可选的，所述电路保护装置还包括警示单元，与所述监测电路连接，所述监测信号正常时，所述警示单元显示为第一状态；所述监测信号异常时，所述警示单元显示为第一状态。可选的，所述警示单元为发光二极管，所述第一状态为不发光，所述第二状态为发光。可选的，所述警示单元为扬声器，所述第一状态为不发声，所述第二状态为发声。相较于现有技术，利用本技术的电路保护装置，由于通过第一接口获取所述待测设备的第一电平状态，依据所述第一电平状态控制所述保护电路的通断，从而可以达到对测试设备的保护。同时，在本技术的一个实施例中，通过第二接口获取所述测试设备的第二电平状态，依据所述第一、第二电平状态共同控制所述保护电路的通断，从而可以达到对测试设备和待测设备的共同保护。在本技术的一个实施例中，还包括监测电路， 可以与所述第一接口电性连接，依据所述第一电平状态产生监测信号，达到对待测设备的监测；也可以与所述第二接口电性连接，依据所述第二电平状态产生监测信号，达到对测试设备的监测。附图说明图1绘示为现有技术电子产品的测试结构图。图2为本技术的电路保护装置第一实施例应用状态的方框结构图。图3为本技术的电路保护装置第二实施例应用状态的方框结构图。具体实施方式请参阅图2，图2为本技术的电路保护装置第一实施例应用状态的方框结构图。本技术提供的电路保护装置300，与测试设备100和待测设备200相连，于该第一实施例，所述电路保护装置300包括第一接口 301，与所述待测设备200电性连接，取得第一电平状态；保护电路302，其一端与所述第一接口 301电性连接，获取所述第一电平状态，依据所述第一电平状态控制所述保护电路302的通断；第二接口 303，其一端与所述保护电路302另一端电性连接，另一端与所述测试设备100电性连接。此处，所述保护电路302可以为包括MOS管，所述MOS管导通，则所述保护电路通路。采用MOS管可以方便控制。此处，所述第一电平状态为低电平，所述待测设备200正常，所述保护电路302通路；第一电平状态为高电平，所述待测设备200短路，所述保护电路302断路。可见，利用本技术的电路保护装置300，由于通过第一接口 301获取所述待测设备200的第一电平状态，依据所述第一电平状态控制所述保护电路302的通断，从而可以达到对测试设备100的保护。当然，所述第二接口 303与所述测试设备100电性连接，也可以为获取第二电平状态，所述第一、第二电平状态皆为低电平，所述测试设备100和待测设备200皆正常，所述保护电路302通路；第一、第二电平状态其中之一为高电平，所述测试设备100和待测设备 200其中之一短路，所述保护电路302断路。由于通过第二接口 303获取所述测试设备100的第二电平状态，依据所述第一、第二电平状态共同控制所述保护电路302的通断，从而可以达到对测试设备100喝待测设备 200的共同保护。请参阅图3，图3为本技术的电路保护装置第二实施例应用状态的方框结构图。于该第二实施例，所述电路保护装置300除包括第一实施例中的各功能模块外， 还包括监测电路304。当然，监测电路304可以与所述第一接口 301电性连接，依据所述第一电平状态产生监测信号。所述监测电路304也可以为与所述第二接口 302电性连接，依据所述第二电平状态产生监测信号。此处，所述电路保护装置300还包括警示单元305，与所述监测电路304连接，所述监测信号正常时，所述警示单元305显示为第一状态；所述监测信号异常时，所述警示单元305显示为第一状态。当然，所述警示单元305可以为发光二极管，所述第一状态为不发光，所述第二状态为发光。当然，所述警示单元305也可以为扬声器，所述第一状态为不发声，所述第二状态为发声。于该第二实施例，由于该电路保护装置300还包括监测电路304，可以与所述第一接口 301电性连接，依据所述第一电平状态产生监测信号，从而达到对待测设备200的监测；也可以与所述第二接口 302电性连接，依据所述第二电平状态产生监测信号，从而达到对测试设备100的监测。本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种电路保护装置，与测试设备和待测设备相连，其特征在于，所述电路保护装置包括：第一接口，与所述待测设备电性连接，取得第一电平状态；保护电路，其一端与所述第一接口电性连接，获取所述第一电平状态，依据所述第一电平状态控制所述保护电路的通断；第二接口，其一端与所述保护电路另一端电性连接，另一端与所述测试设备电性连接。

【技术特征摘要】
1.一种电路保护装置，与测试设备和待测设备相连，其特征在于，所述电路保护装置包括第一接口，与所述待测设备电性连接，取得第一电平状态；保护电路，其一端与所述第一接口电性连接，获取所述第一电平状态，依据所述第一电平状态控制所述保护电路的通断；第二接口，其一端与所述保护电路另一端电性连接，另一端与所述测试设备电性连接。2.如权利要求1所述的电路保护装置，其特征在于，所述第一电平状态为低电平，所述保护电路通路；第一电平状态为高电平，所述保护电路断路。3.如权利要求1所述的电路保护装置，其特征在于，所述第二接口与所述测试设备电性连接，获取第二电平状态，所述第一、第二电平状态皆为低电平，所述保护电路通路；第一、第二电平状态其中之一为高电平，所述保护电路断路。4.如权利要求1所述的电路保护装置，其特征在于，所述保护电路包括MOS管，所述 M...

【专利技术属性】
技术研发人员：任光明，
申请(专利权)人：神讯电脑昆山有限公司，
类型：实用新型
国别省市：32