一种磁卡解码电路的自动化测试方法技术

技术编号:6459977 阅读:438 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种磁卡解码电路的自动化测试方法,通过PC主控设备发送指令请求被测设备处于磁卡等待刷卡测试的状态;PC主控设备再次发送指令通知测试设备的CPU模拟F2F编码格式信号跳变来产生测试信号,所述测试信号通过测试设备的信号转换器处理后,发送给被测设备的磁卡解码电路进行放大滤波、整形、磁卡解码后送至被测设备CPU,被测设备CPU将其测试结果传送给PC主控设备,从而完成测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及磁卡测试领域,尤其涉及。
技术介绍
磁卡目前被广泛地应用于银行卡、身份识别卡等。磁卡的磁条上所记录的是一系列二进制代码,这些二进制代码通过双相编码(也称F2F编码)的方式编码而成。所谓双相编码如图1所示即在一个数据周期内,如果磁条上记录的信息没有变化,则代表此处记录的数据为0(如图1中的(a));如果信息在一个数据周期里有电平的高低变化,代表该处磁条记录的数据为1(如图1中的(b));如图1中的(c)表示磁条上的数据存在0,1变化时的情况。为了使CPU处理磁卡信号更加容易,一般需要将编码中的数据信息和时钟信息分离,磁卡解码芯片的作用就是将双向码转化为同步的数据和时钟信号,供CPU处理。其中解码的过程即将图1中的(c)中的F2F编码的信号,分离出的同步CLK信号以及DATA 信号的过程。磁卡解码电路为模拟电路,通过磁头将磁条上的F2F编码的磁卡信号进行放大、 整形、解码,得到数字信号便于CPU的处理。其流程为读磁头-> 放大滤波电路-> 整形-> 解码->CPU系统处理。在正常情况下,磁卡通过磁头读取到小信号,在放大滤波电路正常, 整形电路正常,解码电路正常的情况下,CPU加载正常的驱动程序后,能够正常读取到磁卡上的数据并进行较验。程序提示三个磁道上的相关数据字节数。若读取数据错误,磁卡上的信号有丢失,则系统交互界面上报磁卡读取错误,并提示具体的错误信息。由于磁卡解码电路本身的特殊性,对于生产的板卡测试,所使用传统的测试方法均为通过人工手持磁卡进行刷卡测试(后称为传统方案)。传统方案的测试存在以下几个问题1、测试卡损耗;2、手动刷卡成功率低;3、需人工判断刷卡结果;4、测试效率低。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题,在于提供,实现了自动化测试,测试成功率高,测试速度快。本专利技术是这样实现的,通过PC主控设备发送指令请求被测设备处于磁卡等待刷卡测试的状态;PC主控设备再次发送指令通知测试设备的CPU模拟F2F编码格式信号跳变来产生测试信号,所述测试信号通过测试设备的信号转换器处理后,发送给被测设备的磁卡解码电路进行放大滤波、整形、磁卡解码后送至被测设备CPU,被测设备CPU将其测试结果传送给PC主控设备,从而完成测试。其中所述被测设备处于磁卡等待刷卡测试的状态是被测设备接收到PC主控设备发送的指令请求后,进入执行按磁卡规范解析磁卡数据处理的状态。其中所述测试信号通过测试设备的信号转换器处理具体为测试设备将测试信号通过信号转换器电容的冲激效应产生大幅度的模拟磁卡信号,然后通过电阻分压以及二极管降压得到幅度为200mv的模拟磁卡信号,即通过CPU的IO接口和外围阻容器件实现模拟3磁头读卡的功能。其中被测设备CPU将其测试结果通过通讯串口传送给PC主控设备。本专利技术具有如下优点通过测试设备的CPU模拟F2F编码格式信号跳变来产生测试信号,将其信号通过测试设备的信号转换器处理后,发送给被测设备的磁卡解码电路进行放大滤波、整形、磁卡解码后送至被测设备CPU,被测设备CPU将其测试结果传送给PC主控设备,从而完成测试。本专利技术测试成功率高,测试速度快,测试成本比较低,实现了自动化测试。附图说明图1为现有技术中的双相编码示意图。图2为本专利技术测试硬件结构示意图。图3为本专利技术测试信号通过电容的冲激效应后得到波形信号原理示意图。图4为本专利技术测试设备的信号转换器中的电路示意图。具体实施方式参照图2所示,为本专利技术测试硬件结构示意图,其组成部分为用于发送测试指令和接受测试结果的PC主控设备1、内设有CPU21和信号转换器22的测试设备2以及内设有被测主板CPU31和被测磁卡解码电路32的被测设备3组成;本专利技术是结合该硬件结构来实现的。,通过PC主控设备1发送指令请求被测设备 3处于磁卡等待刷卡测试的状态;PC主控设备1再次发送指令通知测试设备2的CPU21模拟 F2F编码格式信号跳变来产生测试信号,所述测试信号通过测试设备2的信号转换器22处理后,发送给被测设备3的磁卡解码电路32进行放大滤波、整形、磁卡解码后送至被测设备 CPU31,被测设备CPU31将其测试结果通过通讯串口传送给PC主控设备1,从而完成测试。其中所述被测设备3处于磁卡等待刷卡测试的状态是被测设备接收到PC主控设备发送的指令请求后,进入执行按磁卡规范解析磁卡数据处理的状态。其中所述测试信号通过测试设备的信号转换器处理具体为测试设备将测试信号通过信号转换器电容的冲激效应产生大幅度的模拟磁卡信号,然后通过电阻分压以及二极管降压得到幅度为200mv的模拟磁卡信号,即通过CPU的IO接口和外围阻容器件实现模拟磁头读卡的功能。如图3所示,为本专利技术测试信号通过电容的冲激效应后得到波形信号原理示意图。其得到的波形信号是近似于磁卡刷卡时产生的磁卡信号;此波形信号即为磁卡信号的模拟信号。其实现的原理就是通过将测试设备的CPU模拟F2F编码格式信号跳变来产生测试信号进行逆向转变,通过满足磁卡编码的一系列方波信号,将方波的上升沿和下降沿转成脉冲信号(该波形在方波上升沿时出现正脉冲,在下降沿时为负脉冲,与磁卡解码的过程相反)。如图4所示,为本专利技术测试设备的信号转换器中的电路示意图,其中HA输入为 3. 3V的模拟F2F信号,A点约为3. 3V的模拟磁卡信号,B点为约0. 98V的模拟磁卡信号,C 点约为小于300mV的模拟磁卡信号。二级管D6的作用,起到降压及减小数字噪声的作用,电容C5为耦合电容。本专利技术通过信号转换器电容的冲激效应产生大幅度的模拟磁卡信号, 然后通过电阻(如图4所示)分压以及二极管降压得到幅度为200mv的模拟磁卡信号。这里要说明的是磁卡的刷卡过程中磁卡信号与刷卡速度、磁条的强度等是相关的。但本专利技术的目的为测试磁卡解码电路在焊接过程中是否存在焊接问题,因此,可在测试过程中,以固定的磁卡信号周期和幅度输入解码电路以达到测试目的。以上所述仅为本专利技术的较佳实施例,凡依本专利技术申请专利范围所做的均等变化与修饰,皆应属本专利技术的涵盖范围。本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种磁卡解码电路的自动化测试方法,其特征在于:通过PC主控设备发送指令请求被测设备处于磁卡等待刷卡测试的状态;PC主控设备再次发送指令通知测试设备的CPU模拟F2F编码格式信号跳变来产生测试信号,所述测试信号通过测试设备的信号转换器处理后,发送给被测设备的磁卡解码电路进行放大滤波、整形、磁卡解码后送至被测设备CPU,被测设备CPU将其测试结果传送给PC主控设备,从而完成测试。

【技术特征摘要】
1.一种磁卡解码电路的自动化测试方法,其特征在于通过PC主控设备发送指令请求被测设备处于磁卡等待刷卡测试的状态;PC主控设备再次发送指令通知测试设备的CPU模拟F2F编码格式信号跳变来产生测试信号,所述测试信号通过测试设备的信号转换器处理后,发送给被测设备的磁卡解码电路进行放大滤波、整形、磁卡解码后送至被测设备CPU,被测设备CPU将其测试结果传送给PC主控设备,从而完成测试。2.根据权利要求1所述的一种磁卡解码电路的自动化测试方法,其特征在于所述被测设备处于磁卡等待刷卡测试的状态是被测设备接收到PC主...

【专利技术属性】
技术研发人员:郑云斌曹小苏苏龙
申请(专利权)人:福建联迪商用设备有限公司
类型:发明
国别省市:35

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