用于卷轴上器件的材料输送器制造技术

本发明专利技术涉及一种用于向用于测试的测试器传送卷轴上器件的材料输送器，所述材料输送器包括：可旋转组件，所述可旋转组件接合卷轴上器件并且朝着测试器旋转该卷轴上器件，所述测试器具有探针头；比较器装置，所述比较器装置比较该器件关于该探针头的位置；对准装置，该对准装置与该比较器装置进行通信，以将该器件定位到该用于测试的探针头，其中，该对准装置将该器件定位到探针头，以供在用于直对接的器件上执行测试。有利地，这消除了在测试头上将该探针旋转到该器件的需要，并且进一步减小了信号长度并且因此减小了信号通路中的电容量。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种材料输送器，用于将巻轴上的器件移动到测试器 以对该器件进行测试。
技术介绍
随着消费性电子产品遍布市场，为消费者提供了越来越多的选择。 为了获得竞争优势，芯片制造商的动机转向具有高性能、高速度、小 尺寸和低成本的半导体器件。带载封装(TCP, tape carrier package)和覆晶薄膜(COF， chip on film)形式的封装是满足目前所需要的高性能器件的小外形和高脚数 (leadcount)互连的期望的方式。这些器件必须经过测试。专用输送器已经被设计成对被称为巻轴上器件的这些封装形式进 行测试。通过相对于被测器件(DUT)移动探针卡(probe card)来测 试这些巻轴上器件。然而，测试过程遭受由于在测试期间所遇到的长 的信号通路而导致的信号干扰。此外，向DUT移动测试头延长了测试过程。本专利技术的目的在于改进上述问题。
技术实现思路
根据本专利技术的第一实施例，提供了一种用于向用于测试的测试器 传送巻轴上器件的材料输送器，所述材料输送器包括可旋转组件， 该可旋转组件接合(engage)巻轴上器件并且朝着测试器旋转巻轴上器 件，该测试器具有探针头；比较器装置，该比较器装置比较器件关于探针头的位置；对准装置，该对准装置与比较器装置通信，以将器件 定位到用于测试的探针头，其中，该对准器装置将器件定位到探针头， 以供在用于直接对接的器件上执行测试。有利地，这消除了在测试头 上将探针旋转到器件的需要，并且进一步减小了信号长度并且因此减 小了信号通路中的电容量。优选地，可旋转组件与对准装置集成在一起。还优选地，可旋转组件在至少x、 y和e方向上移动。优选地，比较器装置是光学比较器，例如，图像捕获设备。优选地，该图像捕获设备是第一和第二光学照相机，其中，第一 光学照相机识别巻轴上器件的位置，并且第二光学照相机识别探针头 的位置。优选地，该图像捕获设备进一步包括逻辑控制器，该逻辑控制器 用以确定在x、 y和/或e方向上的任何一个或其组合上将器件移动到用 于测试的探针头的运动范围。根据本专利技术的第二实施例，提供了一种用于向测试器传送巻轴上 器件的材料输送器，所述测试器具有用于测试的探针头，该材料输送 器包括可旋转组件，该可旋转组将能够在x、 y和e方向上移动；接 收器，该接收器被连接到可旋转组件，以接收巻轴上器件；比较器装 置，该比较器装置用以比较关于探针头的器件的位置，其中，该比较 器装置与该可旋转组件通信，以将该器件移动到用于测试的探针头。优选地，该接收器是接触平板。还优选地，该接触平板进一步包括对准向导(guide)来对准接收到的器件巻轴。优选地，该比较器装置是光学比较器，例如，图像捕获设备。优选地，该图像捕获设备是第一和第二光学照相机，其中，该第 一光学照相机识别巻轴上器件的位置，并且第二光学照相机识别探针 头的位置。优选地，该图像捕获设备进一步包括逻辑控制器，该逻辑控制器用以确定在x、 y和/或e方向的一个或其组合上将器件移动到用于测试 的探针头的运动范围。优选地，将器件巻轴与探针头之间的定位位移通信到可旋转组件， 以将器件移动到探针头以供执行测试。根据本专利技术的第三实施例，提供了一种用于向测试器传送巻轴上器件的材料输送器，所述测试器具有探针头，该材料输送器包括可 旋转组件，该可旋转组件具有接触平板和器件巻轴；以及光学比较器， 该光学比较器用以识别该器件关于探针头的位置，所述光学比较器与 该可旋转组件进行通信，其中，可旋转组件响应于光学比较器来将器 件移动到探针头。根据本专利技术的另一个方面，提供了一种对巻轴上器件进行测试的 方法，所述方法包括将材料输送器和巻轴上器件旋转到具有探针头 的探针；比较该探针头到该器件的位移；对准该材料输送器，以将该 器件对准该探针头；以及执行测试。优选地，比较步骤包括下述步骤识别器件的器件引脚的位置； 识别探针卡的探针引脚的位置；以及建立该探针头到该器件引脚的位 移。附图说明为了可以更加充分地理解本专利技术，仅通过示例的方式，参考附图 描述了专利技术的实施例，在附图中图1A涉及现有技术的输送器。图1B示出了现有技术的输送器的图1A的G部分。图2示出了本专利技术的材料输送器的第一实施例。图3A示出了本专利技术的材料输送器的第二实施例。图3B图示了图3A的A-A截面。图3C图示了图3A的B-B截面。图4示出了当器件被测试时的本专利技术的材料输送器。图5图示了根据本专利技术的处理器件的方法。在实施例和变体的每一个中，仅仅为了容易理解本说明书，对于 类似的部件已经使用了相同的附图标记。具体实施例方式现在将对本专利技术的优选实施例详细地作出参考，在附图中图示了 其示例。尽管将结合优选实施例来描述本专利技术，但是应当理解，不希 望将本专利技术限于这些实施例。相反，本专利技术意在涵盖包括在如所附权 利要求所限定的本范明的精神和范围内的替代、修改和等价物。而且， 在本专利技术的下述详细描述中，阐述了许多特定细节，以便于提供本发 明的透彻理解。然而，对于本领域普通技术人员来说明显的是，本发 明可以不通过这些特定细节来实践。在其它的情况中，没有详细地描 述公知的方法、程序、部件和特征，以免不必要地掩盖本专利技术的各方 面。图1A图示了现有技术的输送器500。该输送器包括要在测试器200 上被测试的巻轴300上的器件。待测器件被连接到带或膜并且被巻起， 以将器件传送到测试器200的测试头210以供进行测试。输送器5009位于最接近测试头的位置，以最小化信号干扰。测试头210旋转以进 行该器件所需要的各种测试。如可以在图1A中所看到的，在测试过程中，测试头和被测器件 (DUT)之间存在信号通路S。这在当信号通路很长时在测试期间转变 成增加的信号干扰。图1B示出了图1A的A部分。在测试期间，关于DUT旋转探针 卡，使得可以执行各种测试。输送器500在x-y方向上移动来定位要由 测试器测试的巻轴上器件。可以看到长的信号长度S。图2示出了本专利技术的材料输送器100的第一实施例。材料输送器 输送用于测试的巻轴12上的器件11。该巻轴旋转以推进每个器件11 以供测试器执行测试。材料输送器100包括可旋转组件20，该可旋转 组件20用以朝着测试器或测试头210定位巻轴上器件。材料输送器100 进一步包括比较器装置30，该比较器装置30被示作以第一光学照相机 32和第二光学照相机33的形式的光学比较器31。第一光学照相机32朝向器件11，并且第二光学照相机33朝向测 试头210。第一光学照相机32识别巻轴上器件的位置，而第二光学照 相机33识别测试头210的探针头211的位置。在该实施例中，对准装 置(图中未示出)与比较器装置通信，并且该对准装置与可旋转组件 集成在一起。该可旋转组件是机动化的，并且能够在x、 y和e方向上 移动。响应于来自第一和第二光学照相机的关于器件引脚到探针头的 位移的反馈，促动该可旋转组件来定位器件到探针头的直接对接处 (direct dock)以供执行测试。这消除了现有技术所遇到的任何信号干 扰或高Z干扰。可以由逻辑控制器来执行该反馈，以确定准确地将器件对接到探 针头以供执行测试所必需的运动范围。图3A示出了具有可旋转组件、接收器40和比较器装置的材料输 送器的第二实施例。示出接收器40以接触平板41的形式本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于向用于测试的测试器传送卷轴上器件的材料输送器，所述材料输送器包括：　可旋转组件，所述可旋转组件接合所述卷轴上器件并且朝着测试器旋转所述卷轴上器件，所述测试器具有探针头；　比较器装置，所述比较器装置用以比较所述器件关于所述 探针头的位置；　对准装置，所述对准装置与所述比较器装置进行通信，以将所述器件定位到用于测试的所述探针头；　其中，所述对准装置将所述器件定位到所述探针头，以供在所述器件上执行测试。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：约翰亚当斯，
申请(专利权)人：泰瑞达亚洲股份有限公司，
类型：发明
国别省市：SG[新加坡]