电磁材料屏蔽性能测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术为电磁材料屏蔽性能测试装置，涉及一种测试装置。目的是提供一种结构简单且易于拆卸更换，屏蔽性能好的电磁材料屏蔽性能测试装置。技术方案：包括外壳和位于外壳内部的连接测试装置，连接测试装置包括位于两侧的两个微波钉销，微波钉销的外侧分别与外部检测装置连接，中部为两根圆柱连接头，圆柱连接头的外侧一端分别与微波钉销的内侧一端可拆卸连接，两根圆柱连接头的内侧一端接触连接，两个环状的支撑片分别套接在微波钉销上，支撑片的外壁套接在外壳的内壁上，两根圆柱连接头连接部位的外壳内壁上向壁内凹陷形成一个测试空腔，环状的测试材料套接在圆柱连接头上且测试材料置于测试空腔内。主要用于电磁材料的电磁特性参数测试。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测试装置，特别是涉及一种用于电磁材料屏蔽性能测试的测试装置。
技术介绍
现有技术当中的电磁材料测试装置是圆柱形和矩形结构，体积较大，采用法兰连 接，不具有定位结构，在操作测试时直接将测试材料放入测试腔体中，这样容易在法兰对齐 时因材料移动错位而影响测试结果的可靠性和稳定性，并且使得屏蔽性能下降。另外，现有 技术当中的测试装置不易操作，不易更换易损耗部件，测试带宽也较窄。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种结构简单且易于拆卸更换，屏蔽性能好的电磁材料 屏蔽性能测试装置。 本技术的目的是通过下列技术方案实现的电磁材料屏蔽性能测试装置，包 括中空的外壳和位于外壳内部中空部分的连接测试装置，所述连接测试装置包括位于两侧 的两个微波钉销，每个微波钉销的外侧分别与外部检测装置连接，中部为两根圆柱连接头， 每根圆柱连接头的外侧一端分别与微波钉销的内侧一端可拆卸连接，两根圆柱连接头的内 侧一端接触连接，两个环状的支撑片分别套接在微波钉销上，支撑片的外壁套接在外壳的 内壁上，两根圆柱连接头连接部位的外壳内壁上向壁内凹陷形成一个测试空腔，环状的测 试材料套接在圆柱连接头上且测试材料置于测试空腔内。 所述两根圆柱连接头的连接部位为凹凸连接，其中一根圆柱连接头的端部为凸出 结构，另一根圆柱连接头的端部为与凸出结构形状匹配的凹陷结构。 所述测试空腔内还设置有一个形状和测试材料相同的垫片，测试材料和垫片一起完全填充满测试空腔，测试材料和垫片分别套接在两根圆柱连接头的端部。 所述垫片和支撑片为聚四氟乙烯材料。 所述外壳为左右对称的两部分可拆卸连接而成，每一部分包括一个套环、一个与 套环的一端可拆卸连接的微波连接环和一个可将微波连接环的另一端与外部装置连接的 连接螺母，其中两个套环连接的部位向外侧弯曲。 所述两个套环向外弯曲的部位上对应设置有用于将两个套环可拆卸连接的安装 孔。 所述安装孔包括销孔和螺栓孔，其中螺栓孔包括大孔端和小孔端，螺栓可从大孔 端放入后滑到小孔端并可在小孔端进行固定。 从本技术的结构特征可以看出，本技术的优点在于1、本技术采用 了套环的结构，可拆卸连接在装置内部，对于易损耗部件来说，更换方便；2、本技术采 用了低损耗的聚四氟乙烯制作的垫片来定位测试材料和支撑测试材料；3、本技术的套 环与套环之间采用的凹凸连接方式，既具有信号传输的功能，也具有对测试材料和垫片的定位功能；4、本技术的外壳采用销钉和螺栓双重固定方式，先用销钉固定位置，然后将 螺栓从安装孔的大孔端滑入到小孔端进行拧紧，固定更为准确稳定且起到了有效防止电磁 波泄露的作用；5、本技术结构简单，易于加工且便于拆卸，可随时清洗，操作方便，测试 带宽比现有技术的测试装置要宽。附图说明本技术将通过实施例并参照附图的方式说明 图1是本技术的结构剖视示意图 图2为本技术的外壳连接部位的剖视示意图 其中附图标记l是外壳 2是微波钉销 4是支撑片 5是测试空腔 6是测试材料 8是套环 9是微波连接环IO是连接螺母 12是螺栓孔 13是螺栓具体实施方式以下结合附图对本技术做进一步的说明 优选实施例 如图1和图2所示的电磁材料屏蔽性能测试装置，包括中空的外壳1和位于外壳 1内部中空部分的连接测试装置，所述连接测试装置包括位于两侧的两个微波钉销2，每个 微波钉销2的外侧分别与外部检测装置连接，中部为两根圆柱连接头3，每根圆柱连接头3 的外侧一端分别与微波钉销2的内侧一端可拆卸连接，两根圆柱连接头3的内侧一端接触 连接，两个环状的支撑片4分别套接在微波钉销2上，支撑片4的外壁套接在外壳1的内壁 上，两根圆柱连接头3连接部位的外壳1内壁上向壁内凹陷形成一个测试空腔5，环状的测 试材料6套接在圆柱连接头3上且测试材料6置于测试空腔5内。 所述两根圆柱连接头3的连接部位为凹凸连接，其中一根圆柱连接头3的端部为凸出结构，另一根圆柱连接头3的端部为与凸出结构形状匹配的凹陷结构。 所述测试空腔5内还设置有一个形状和测试材料6相同的垫片7，测试材料6和垫片7 —起完全填充满测试空腔5，测试材料6和垫片7分别套接在两根圆柱连接头3的端部。 所述垫片7和支撑片4为聚四氟乙烯材料。 所述外壳1为左右对称的两部分可拆卸连接而成，每一部分包括一个套环8、一个 与套环8的一端可拆卸连接的微波连接环9和一个可将微波连接环9的另一端与外部装置 连接的连接螺母10，其中两个套环8连接的部位向外侧弯曲。 所述两个套环8向外弯曲的部位上对应设置有用于将两个套环8可拆卸连接的安 装孔。 所述安装孔包括销孔11和螺栓孔12，其中螺栓孔12包括大孔端和小孔端，螺栓 13可从大孔端放入后滑到小孔端并可在小孔端进行固定。 本技术的原理或是工作过程可以描述为整个装置由外壳的两部分通过销钉 和螺栓可拆卸连接在一起，左右对称，内部为中空，两端与外部测试装置连接进行测试，外,其中3是圆柱连接头 7是垫片 ll是销孔壳内部安装有两根圆柱连接头，圆柱连接头的两端通过微波钉销与外部测试装置连接，微 波钉销通过支撑片支撑在外壳内部，一般是支撑在外壳两端的微波连接环的内壁上，微波 连接环由连接螺母与外部连接，这样就形成了内部信号连通的整体结构，在圆柱连接头互 相接触的部位，为了起到更好的定位和稳固性，将圆柱连接头的端部设置为凹凸的结构，互 相镶嵌在一起，定位准确，将待测试的测试材料制作成环状套接在圆柱连接头上，测试材料 放置在测试空腔内部，这样即可进行外部连接开始测试。作为本技术更为优化的方案， 可以在测试空腔内加设一个和测试材料形状结构完全相同的垫片，垫片套接在圆柱连接头 的端部，与测试材料一起填充在测试空腔内部，起到保护测试材料以及防止电磁波泄露的 作用，垫片和测试材料的位置可以互相更换，或左或右都可以，一般采用低损耗的聚四氟乙 烯材料制作垫片。本技术的外壳连接设置方式是一个新型的结构，通过左右对称的两 部分可拆卸连接，设置有销孔和螺栓孔，在安装时，将两部分的安装孔对齐，然后在销孔里 面插入销钉进行预先固定，然后将螺栓从螺栓孔的大孔端滑入小孔端，最后将螺栓均匀拧 紧至两个对称部分中间没有缝隙，以避免电磁波从中间泄露，这种安装设计精密，不会对腔 体内的电磁场产生扰动。 本技术除了用于测量电磁材料的屏蔽性能，还可以用于测量电磁材料的介电 常数、电磁材料的磁介常数、对微波的吸收性能以及其它电磁特性。 本说明书中公开的所有特征，除了互相排斥的特征以外，均可以以任何方式组合。 本说明书(包括任何附加权利要求、摘要和附图)中公开的任一特征，除非特别叙 述，均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只 是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。 以上所述仅为本技术的较佳实施例而已，并不用以限制本技术，凡在本 技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本技术 的保护范围之内。权利要求电磁材料屏蔽性能测试装置，包括中空的外壳(1)和位于外壳(1)内部中空部分的连接测试装置，其特征在于所述连接测试装置包括位于两侧的两个微波钉销(2)，每个微波钉销(2)的外侧分别与外部检测装置连接，中本文档来自技高网...

【技术保护点】
电磁材料屏蔽性能测试装置，包括中空的外壳（１）和位于外壳（１）内部中空部分的连接测试装置，其特征在于所述连接测试装置包括位于两侧的两个微波钉销（２），每个微波钉销（２）的外侧分别与外部检测装置连接，中部为两根圆柱连接头（３），每根圆柱连接头（３）的外侧一端分别与微波钉销（２）的内侧一端可拆卸连接，两根圆柱连接头（３）的内侧一端接触连接，两个环状的支撑片（４）分别套接在微波钉销（２）上，支撑片（４）的外壁套接在外壳（１）的内壁上，两根圆柱连接头（３）连接部位的外壳（１）内壁上向壁内凹陷形成一个测试空腔（５），环状的测试材料（６）套接在圆柱连接头（３）上且测试材料（６）置于测试空腔（５）内。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李少甫，王忠，杨文彬，蔡文新，董发勤，陈晓燕，潘建，
申请(专利权)人：西南科技大学，
类型：实用新型
国别省市：51[中国|四川]