玻璃上芯片型液晶显示器及其检查方法技术

技术编号:4302250 阅读:186 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种玻璃上芯片型液晶显示器,具有在连接驱动IC之前检测块模糊效应的测试线和测试焊盘,可以精确地判断块模糊效应,实现阵列基板的更加详细的检查并且可以防止由于误判断造成的制造成本增加。还公开一种玻璃上芯片型液晶显示器的检查方法,提供了检测数据连接线的断开的附加的测试线和焊盘。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种液晶显示器(IXD),更具体地,涉及一种玻璃上芯片(COG)型IXD及其检查方法。
技术介绍
随着信息科技的快速发展,提出并发展了厚度薄、重量轻且功耗低的平板显示设 备(FPD)。在这些显示设备中,液晶显示器(LCD)由于具有高清晰度、高质量、优异的运动图 像显示和高对比率的优点,被广泛地应用于笔记本电脑的监视器、个人电脑的监视器和电 视中。LCD包括两个基板和插入在两个基板之间的液晶层。电极形成在各个基板上,基板 设置为使电极彼此面对。当提供电压给电极时,就在电极之间产生电场。通过改变电场的 强度来控制液晶分子的排列方向,并改变通过液晶层的光的透射率以显示图像。图1是根据现有技术的IXD分解透视图。如图1所示,IXD包括阵列基板10、滤色 器基板20和液晶层30。阵列基板10和滤色器基板20彼此面对,液晶层30插入在两者之 间。阵列基板10包括在透明基板12的内侧表面上的栅线14和数据线16。栅线14和 数据线16彼此交叉以将形成在栅线14和数据线16之间的区域界定为像素区P。薄膜晶体 管Tr形成在栅线14和数据线16的各个交叉部分,像素电极18形成在每个像素区P中并 且连接到薄膜晶体管Tr。滤色器基板20包括在面对阵列基板10的透明基板22的内侧表面上的黑矩阵25、 滤色器层26和公共电极28。黑矩阵25具有格子的形状以覆盖例如栅线14、数据线16、薄 膜晶体管Tr等的非显示区。滤色器层26包括按顺序重复排列的红、绿和蓝色滤色器图案 26a、26b和26c。每个滤色器图案26a、26b和26c与每个像素区P对应。公共电极28形成 在黑矩阵25和滤色器层26上,并在基板22的整个表面的上方。密封剂(未示出)沿着阵列基板10和滤色器基板20的外围形成以防止液晶层30 的液晶分子泄露。取向层(未示出)形成在液晶层30和阵列基板10之间以及液晶层30 和滤色器基板20之间,以确定液晶分子的初始方向。偏振器(未示出)设置在阵列基板10 和滤色器基板20的至少一个的外侧表面上。背光单元(未示出)设置在阵列基板10的外 侧表面上方以提供光。将用于导通/截止薄膜晶体管Tr的扫描信号顺序地提供给栅线14,将数据信号通 过数据线16提供给被选中的像素区域P内的像素电极18。在像素电极18和公共电极28 之间产生垂直于基板12和22的电场。电场控制液晶分子的排列,通过改变液晶分子的排列来改变透光率从而显示图像。在IXD中,可以将阵列基板、滤色器基板和液晶层定义为液晶面板。IXD还包括在 液晶面板的外围驱动液晶面板的驱动单元。驱动单元包括印刷电路板(PCB)和驱动集成电 路(IC)。PCB上安装有产生控制信号和数据信号的元件,驱动IC连接到液晶面板和PCB并 给液晶面板的信号线提供信号。根据液晶面板上的驱动IC的封装方式,可以将IXD分类为玻璃上芯片型(COG)、载 带封装型(TCP)和膜上芯片型(COF)。与TCP型和COF型相比,COG型具有简单的结构,并提高了液晶面板占据IXD的比 率。因此,近期以来,COG型广泛地应用于小尺寸的IXD。在COG型IXD中,驱动IC连接至阵列基板的非显示区。在连接驱动IC之前,对 COG型LCD进行检查以检测缺陷。因此,测试线和焊盘形成在阵列基板的非显示区。图2是示意性示出根据现有技术的COG型LCD的检查结构的示图。图2中示出了 测试线、测试焊盘和测试薄膜晶体管。在图2中,现有技术COG型IXD 50包括显示区DA和基本上包围显示区DA的非 显示区。栅线GL和数据线DL形成在显示区DA中。在图中所示的情况下,栅连接线(link line)GLLU GLL2、GLL3和GLL4形成在显示区DA的左侧和右侧的非显示区中,并且栅连接 线GLL1、GLL2、GLL3和GLL4连接到栅线GL。在图中所示的情况下,数据连接线DLL形成在 显示区DA的下侧的非显示区中,并且数据连接线DLL连接到数据线DL。第一、第二和第三 测试晶体管ITrl、ITr2和ITr3与测试焊盘IPl至IP12形成在非显示区中。第一、第二和 第三测试晶体管ITrl、ITr2和ITr3形成在栅连接线GLL1、GLL2、GLL3和GLL4与测试焊盘 IPl至IP12之间,或者形成在数据连接线DLL与测试焊盘IPl至IP12之间。在显示区域DA内的栅线GL包括奇数栅线GLl和GL3与偶数栅线GL2和GL4。奇 数栅线GLl和GL3交替地连接到在显示区DA左侧的非显示区内的第一栅连接线GLLl和第 二栅连接线GLL2。偶数栅线GL2和GL4交替地连接到在显示区DA右侧的非显示区内的第 三栅连接线GLL3和第四栅连接线GLL4。此处,第一测试薄膜晶体管ITrl分别连接到第一栅连接线GLLl和第二栅连接线 GLL2,第一栅使能线60连接到第一测试薄膜晶体管ITrl的栅电极并控制第一测试薄膜晶 体管ITrl的导通/截止。第一栅使能焊盘IP3连接到第一栅使能线60。第二测试薄膜晶 体管ITr2分别连接到第三栅连接线GLL3和第四栅连接线GLL4,第二栅使能线62连接到第 二测试薄膜晶体管ITr2的栅电极并控制第二测试薄膜晶体管ITr2的导通/截止。第二栅 使能焊盘IP4连接到第二栅使能线62。此外,第一栅测试线51和第二栅测试线52通过第一测试薄膜晶体管ITrl电连接 到第一栅连接线GLLl和第二栅连接线GLL2。第三栅测试线53和第四栅测试线54通过第 二测试薄膜晶体管ITr2电连接到第三栅连接线GLL3和第四栅连接线GLL4。第一、第二、 第三和第四栅测试焊盘IP1、IP2、IP5和IP6分别设置在第一、第二、第三和第四栅连接线 GLL1、GLL2、GLL3 和 GLL4 的末端。在图中所示的情况下,在显示区DA的下侧的非显示区中,第一数据测试线64通过 第三测试薄膜晶体管ITr3和数据连接线DLL电连接到与红色子像素R连接的第一数据线 DL1,第一数据测试焊盘IP8连接到第一数据测试线64。第二数据测试线66通过第三测试薄膜晶体管ITr3和数据连接线DLL电连接到与绿色子像素G连接的第二数据线DL2,第二 数据测试焊盘IP9连接到第二数据测试线66。第三数据测试线68通过第三测试薄膜晶体 管ITr3和数据连接线DLL电连接到与蓝色子像素B连接的第三数据线DL3,第三数据测试 焊盘IPlO连接到第三数据测试线68。数据使能线70连接到与第一、第二和第三数据线DL1、DL2和DL3电连接的第三测 试薄膜晶体管ITr3的栅电极,并控制第三测试薄膜晶体管ITr3的导通/截止。数据使能 焊盘IPll连接到数据使能线70。第一公共连接线71和第二公共连接线72形成在非显示区中,以将公共电压提供 给形成在滤色器基板(未示出)上的公共电极(未示出)。第一公共焊盘IP7和第二公共 焊盘IP12分别连接到第一公共连接线71和第二公共连接线72。此处,连接到数据连接线DLL的第三测试薄膜晶体管ITr3位于连接有驱动集成电 路(IC)的区域中。将电压提供给测试焊盘IPl至IP12,并控制第一、第二和第三测试薄膜晶体管 ITrUITr2和ITr3的导通/截止。从而进行检查处理以检测显示区DA中的子像素R、G和 B的缺陷本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种玻璃上芯片型液晶显示器,包括:具有显示区和包围所述显示区的非显示区的第一基板,其中所述非显示区包括第一、第二、第三和第四非显示区;在所述第一基板上的所述显示区中并且彼此交叉以界定像素区的栅线和数据线;在所述栅线和数据线的每个交叉部分处并且连接到所述栅线和数据线的开关薄膜晶体管;在每个所述像素区中并且连接到所述开关薄膜晶体管的像素电极;在所述第二非显示区中并且连接到所述数据线的第一测试薄膜晶体管,所述第一测试薄膜晶体管以固定的间距彼此隔开;通过所述第一测试薄膜晶体管连接到所述数据线的一端的第一、第二和第三数据测试线,其中所述第一数据测试线连接到第3n-2数据线,所述第二数据测试线连接到第3n-1数据线,所述第三数据测试线连接到第3n数据线,n是自然数;分别连接到所述第一、第二和第三数据测试线的第一、第二和第三数据测试焊盘;在所述第一非显示区中并且连接到所述数据线的另一端的数据连接线;在所述第一非显示区中并且连接到所述数据连接线的第二测试薄膜晶体管;连接到所述栅线的栅连接线;连接到所述栅连接线的第三测试薄膜晶体管;通过所述第三测试薄膜晶体管连接到所述栅线的栅测试线;连接到所述栅测试线的栅测试焊盘;在所述非显示区中的公共测试线和公共焊盘;与所述第一基板隔开的第二基板;顺序地形成在所述第二基板的内侧表面上的滤色器层和公共电极,其中所述公共电极连接到所述公共测试线;以及在所述第一和第二基板之间的液晶层,其中驱动IC被连接在所述第一非显示区中。...

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:金炳究金可卿
申请(专利权)人:乐金显示有限公司
类型:发明
国别省市:KR[韩国]

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