【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及移动通信终端防电磁干扰
,尤其是一种解决 因辐射干扰导致SIM卡丟卡的方法。
技术介绍
随着个人移动通讯技术的发展,个人移动通信终端的更替日新月 异,集成度越来越高,单体终端上实现的功能日益增多,在此基础上, 各功能模块之间相互影响已经达到了一个突出的位置,EMC已经成 为最严重的问题和发展瓶颈之一。手机作为最广泛应用的日常消费电 子产品之一,已经与人类生活息息相关。手机最基本的功能是要求能够识别SIM卡,保证手机待机、正 常接听拨打电话,但是由于现代手机产品越来越朝小型化、集成化发 展,而天线等射频器件受客观技术水平的影响还必须作为独立^f莫块存 在,因此作为射频干扰源,经常会对手机某些性能造成影响,有些影 响是致命的。在实际工程中,由于天线辐射影响,而导致SIM卡受千扰,不 能正常工作的情况时有发生(如通话过程中突然产生SIM卡失卡 或及重启等现象发生)。因此,如何在保证手机天线性能指标的情况 下,最大程度减小对SIM卡因辐射干扰,保证手机基本功能不受影响,就成为需要解决的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于一种解决因辐射干扰导致SIM卡丢卡的方法, 主要解决现有技术中移动通信终端使用中,因天线辐射影响而导致 SIM卡受干扰,不能正常工作的技术问题,避免了通话过程中突然产 生SIM卡失卡或及重启等现象发生。为实现上述专利技术目的,本专利技术是这样实现的一种解决因辐射干扰导致SIM卡丟卡的方法,其特征在于,它 包括如下步骤步骤A:将移动通信终端置于微波暗室中,利用专业的仪器设备, 测试出手机天线电磁场辐射方向图;所述的专业仪器设备 ...
【技术保护点】
一种解决因辐射干扰导致SIM卡丢卡的方法,其特征在于,它包括如下步骤: 步骤A:将移动通信终端置于微波暗室中,利用专业的仪器设备,测试出手机天线电磁场辐射方向图;所述的专业仪器设备包括:一套satimo测试系统,无线综合测试仪CMU200,网络分析仪agilent 5071B; 步骤B:利用场强计,测试移动通信终端在固定功率等级通话中,SIM卡上承受的电磁波辐射的场强和分布; 步骤C:分析出对天线辐射状态影响最大的是靠近天线支架的RF模块屏蔽罩,通过改变该屏蔽罩形状,即在屏蔽罩一条边上增加挡板,来改变天线场的分布,使得SIM卡上测得的干扰信号强度降低直至可接受范围内;或者,通过改变屏蔽罩挡板高度、及宽度和位置,调整天线辐射电磁场形态,使得SIM卡上测得的干扰信号强度降低直至可接受范围内。
【技术特征摘要】
1、一种解决因辐射干扰导致SIM卡丢卡的方法,其特征在于,它包括如下步骤步骤A将移动通信终端置于微波暗室中,利用专业的仪器设备,测试出手机天线电磁场辐射方向图;所述的专业仪器设备包括一套satimo测试系统,无线综合测试仪CMU200,网络分析仪agilent5071B;步骤B利用场强计,测试移动通信终端在固定功率等级通话中,SIM卡上承受的电磁波辐射的场强和分布;步骤C分析出对天线辐射状态影响最大的是靠近天线支架的RF模块屏蔽罩,通过改变该屏蔽罩形状,即在屏蔽罩一条边上增加挡板,来改变天线场的分布,使得SIM卡上测得的干扰信号强度降低直至可接受范围内;或者,通过改变屏蔽罩挡板高度、及宽度和位置,调整天线辐射电磁场形态,使得...
【专利技术属性】
技术研发人员:王洪飞,赵宝发,
申请(专利权)人:上海闻泰电子科技有限公司,
类型:发明
国别省市:31[]
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