一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法和装置。本发明专利技术中，通过修改上位机软件中的参考量化值（ＡＤｓｅｔ），补偿被控量经信号处理电路或模拟数字转换器后出现的采样偏差，节约了硬件电路中的可调器件，又实现了远程的生产调试，提高了调试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法和装置。
技术介绍
在生产调试过程中，由于信号调理电路和模拟数字转换器的离散性的存在，被控 量的反馈值将出现量化误差，一般地，这种量化误差将经过闭环运算与被控量叠加，并进一 步演变为输出误差或显示误差。现有的解决方法是在允许的偏差范围内，在信号调理电路 中设计电位器之类的可调器件，结合检测仪器，调节可调器件使被控量对应其标准值。但是 这种调节硬件电路中可调器件的现有方法存在着许多问题1、硬件设计通常有多个信号输 入输出通道，需要调节的可调器件很多，生产调试过程非常麻烦复杂，可操作性差；2、调试 手段原始，不能实现远程遥控调试，如果下位机处于调试人员不能到达的环境，就无法进行 调试。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法 和装置，该专利技术既节约了硬件电路中的可调器件，又实现了远程的生产调试，提高了调试效率。 为了实现上述目的，本专利技术采用一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法，该方法包括以下步骤 检测被控量的真实值； 将上述被控量的真实值与其对应的标准值作比较，若相等，则执行步骤A ;否则， 执行步骤B ; 步骤A :操作上位机软件，向下位机发送保存参考量化值(ADset)的指令； 步骤B :操作上位机软件，向下位机发送递增或递减参考量化值(ADset)的指令。 本专利技术的方法中，所述步骤B还包括以下步骤 若所述被控量的真实值大于与其对应的标准值，执行步骤B1 ;若所述被控量的真 实值小于与其对应的标准值，则执行步骤B2 ; 步骤B1 :操作上位机软件，向下位机发送参考量化值(ADsrt)减1指令； 步骤B2 :操作上位机软件，向下位机发送参考量化值(ADsrt)加1指令。 本专利技术还提供了一种通过上位机对系统被控量进行调试的装置，包括上位机软件，检测仪器，下位机。 所述上位机软件，用于向下位机发送指令； 所述检测仪器，用于测量下位机被控量的真实值； 所述下位机，包括CPU，模拟数字转换器和数据储存单元。 其中， 所述CPU，用于控制运算； 所述模拟数字转换器，用于量化被控量； 所述数据储存单元，用于储存参考量化值(ADsrt)。 本专利技术的技术方案和现有技术的主要区别在于本专利技术通过修改上位机软件中的 参考量化值(ADset)，补偿被控量经信号处理电路或模拟数字转换器后出现的采样偏差，既 节约了硬件电路中的可调器件，又实现了远程的生产调试，提高了调试效率。附图说明 图1是本专利技术通过上位机对系统被控量进行调试的流程示意图； 图2是本专利技术通过上位机对系统被控量进行调试的装置的结构示意图。具体实施例方式为了使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术作进 一步地详细描述。 本专利技术方法的核心在于将被控量的真实值与其对应的标准值作比较，根据比较结 果调节参考量化值(ADsrt)，补偿被控量经信号处理电路或模拟数字转换器后出现的采样偏差。 图1是本专利技术通过上位机对系统被控量进行调试的流程示意图。该流程开始于步 骤101。在步骤102中，调试人员使用检测仪器读取下位机被控量的真实值。在步骤103 中，将步骤102的结果与其对应的标准输出值做比较。 若步骤103的结果为大于，则进入步骤104 ;若步骤103的结果为小于，则进 入步骤105 ;若步骤103的结果为等于则进入步骤106。 在步骤104中，操作上位机软件，向下位机发送参考量化值(ADset)减1指令，经过 CPU闭环运算后，检测仪器显示该被控量的真实值减小。反复操作该步骤直至步骤103的结 果为等于。 在步骤105中，操作上位机软件，向下位机发送参考量化值(ADsrt)加1指令，经过 CPU闭环运算后，检测仪器显示该被控量的真实值增大。反复操作该步骤直至步骤103的结 果为等于。 在步骤106中，上位机软件向下位机发送保存参考量化值(ADsrt)指令，此时，下 位机将参考量化值(ADsrt)固化在数据储存单元中。每次当下位机启动时，以参考量化值 (ADsrt)作为闭环输入量进行闭环运算。 在步骤107中，结束调试。 本专利技术的方法和现有技术相比，现有技术是调节信号调理电路中的可调器件，这 种调试方法的缺点是过程麻烦复杂，可操作性差；本专利技术是通过上位机软件，修改参考量化 值(AD^)，进而补偿因信号调理电路和模拟数字转换器导致的采样误差，以代替现有技术 中的调试方法，既节约了硬件电路中的可调器件，又为实现了远程的调试提供了可能，提高 了调试效率。 采用本专利技术的方法，须使通过上位机对系统被控量进行调试的装置适应该方法的 实施，图2为本专利技术通过上位机对系统被控量进行调试的装置的结构示意图。通过上位机 对系统被控量进行调试的装置包括上位机软件，检测仪器和下位机。 其中上位机软件，用于向下位机发送指令； 其中检测仪器，用于测量下位机被控量的真实值； 其中下位机，包括CPU，模拟数字转换器和数据储存单元。 下位机中的CPU，用于控制运算； 下位机中的模拟数字转换器，用于量化被控量； 下位机中的数据储存单元，用于储存参考量化值(ADsrt)。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法，其特征在于，包括以下步骤：检测被控量的真实值；将上述被控量的真实值与其对应的标准值作比较，若相等，则执行步骤Ａ；否则，执行步骤Ｂ；步骤Ａ：操作上位机，向下位机发送保存参考量化值（ＡＤ↓［ｓｅｔ］）的指令；步骤Ｂ：操作上位机，向下位机发送递增或递减参考量化值（ＡＤ↓［ｓｅｔ］）的指令。

【技术特征摘要】
一种通过上位机对系统被控量进行调试的方法，其特征在于，包括以下步骤检测被控量的真实值；将上述被控量的真实值与其对应的标准值作比较，若相等，则执行步骤A；否则，执行步骤B；步骤A操作上位机，向下位机发送保存参考量化值(ADset)的指令；步骤B操作上位机，向下位机发送递增或递减参考量化值(ADset)的指令。2. 如权利要求1所述的调试的方法，其特征在于，步骤B还包括以下步骤 若所述被控量的真实值大于与其对应的标准值，执行步骤B 1 ;若所述被控量的真实值小于与其对应的标准值，则执行步骤B2 ;步骤Bl :操作...

【专利技术属性】
技术研发人员：周熙文，方兴余，
申请(专利权)人：三科电器有限公司，
类型：发明
国别省市：33[中国|浙江]