一种实现版图验证中密度检查的方法技术

本发明专利技术涉及一种快速实现版图验证中密度检查的方法，属于ＩＣ　ＣＡＤ工具中版图验证领域。密度检查是ＩＣ　ＣＡＤ工具版图验证中设计规则检查（ＤＲＣ）中的一种图形操作。密度检查的基本含义是检查某一层图形的面积在总的区域面积中所占的百分比。有些密度检查要求计算层的图形位于另外一个对照图形层内部时面积计算才有效。它的描述方式是：Ｄｅｎｓｉｔｙ被计算图形层Ｉｎｓｉｄｅ　ｏｆ对照图形层。在这种条件下，密度计算实现难度大。本发明专利技术提出了针对上述条件的密度检查实现方法，可以大大提高密度检查有对照层的计算效率。

Method for realizing density checking in layout verification

The invention relates to a method for rapidly realizing density checking in layout verification, belonging to the field of CAD authentication in IC. Density checking is a graphical operation in the design rule check (DRC) in IC CAD tool layout verification. The basic meaning of the density check is to check the percentage of the area of a graph in the total area. Some density checks require that the graphics of the computing layer be within the other control graphics layer and that the area calculation is valid. Its description is: Density is calculated, graphics layer, Inside, of control graphics layer. In this case, density calculation is difficult to implement. The invention provides a density checking realization method according to the above conditions, which can greatly improve the density and check the calculation efficiency of the control layer.

【技术实现步骤摘要】

密度检查是IC CAD工具中版图验证中设计规则检査(DRC)中的一种图形操作。本专利技术 属于IC CAD工具中版图验证领域。
技术介绍
集成电路(IC)设计的后期包括版图设计和版图验证，而这两项功能是.EDA工具中的重 要环节；版图验证是根据版图设计规则、电学规则和原始输入的逻辑关系对版图设计进行正 确性的验证并且可以通过对电路和参数的提取，产生电路模拟的输入文件进行后模拟，以进 一步检査电学性能。密度检査是版图验证中设计规则检査(DRC)中一种常见的检查，它的基本含义是检査某 一层图形的面积在总的区域面积中所占的百分比。当该检查没有其它限制条件时，实现比较 简单。但是，有些密度检查要求在计算面积时增加一些附加条件，比较典型的条件是要求计 算层的图形位于另外一个对照图形层内部时面积计算才有效，它的描述方式是Density被计算图形层Inside of对照图形层在这种条件下，密度计算实现难度大。本专利技术提出了针对上述条件的密度检查实现方法， 可以大大提高密度检査有对照层(Density Inside of Layer)的计算效率。 假设按照一般的实现方法，密度检査中有对照层的实现步骤是1、 形成对照层的图形；2、 对每个对照层的图形做循环，执行步骤3、 4、 5、 6、 7;3、 自左到右扫描版图，寻找被计算图形层和对照图形层的图形公共部分，即计算两层图 形"逻辑与"的结果；4、 将步骤3的结果作为新的输入层，累加其面积作为计算密度的分子；5、 计算当前对照图形层图形边框的面积，以其作为计算密度的分母；6、 计算比值；7、 判断是否符合约束，得到符合预期的结果，加以输出。这种实现方法的弊端在于实际应用的情况往往是对照图形层的图形数目巨大，由于需要 多次循环重复检査，因此计算效率不高。例如，假设被计算图形层的图形数目为IO万个，对照图形层的图形数目为IO万个，采 用上述方法，共需要检查10万xl0万-100亿次图形，计算量十分庞大，效率太低。 为了解决上述问题，本专利技术提出了一种高效的实现方法。
技术实现思路
本专利技术针对版图验证中密度检查带有对照层(Density Inside Layer) —般方法需要进行m xn次计算(m为对照层图形总数，n为被计算层图形总数)速度较慢的问题，提出了一种高 效的实现方法。本专利技术的总体思路从密度检查的应用目的出发，将111乂11次计算降为&* (m + n)次 计算(m为对照层图形总数，n为被计算层图形总数，a为常数，它远远小于m,n)。被计算层、 对照层分别扫描，只处理一遍。为了快速确定被计算层位于哪个对照层的范围内，利用版图 分布具有均匀性的原理，引进桶的概念，确定较优的分桶方案，确保每个桶中的对照层图形 数量较少，达到迅速定位的效果。每个被计算层图形一次只与一个有交迭关系的对照层图形 做"逻辑与"。本专利技术包含以下主要步骤1、 自左向右扫描对照层，计算对照层图形的边框；2、 按照对照层图形的图形数目确定分桶原则，划分均匀的两维的桶，将对照层图形的边 框分配到桶中；3、 自左向右扫描被计算层，在每个被计算层图形结束时，计算该被计算层图形位于哪个 桶内，查找该桶内的每个对照层图形的边框，执行步骤4、 5、 6;.4、临时层3^ 7丄0>^^=该被计算层图形，2fewi^jw2=该对照层图形边框，remlaj/eH-And 7fe加ZayeW 7fem丄ayer2;5、 以rem丄a，H的面积作为计算密度的分子，以7bn丄qy"2的面积作为计算密度的分母， 计算比值；6、 判断比值是否符合约束，如果符合，该对照层图形即为结果，进行输出。 上述方法与一般方法的显著不同点在于， 一般方法为了寻找两层图形之间是否有公共部分，需要遍历搜索所有的图形，而本方法，寻找两层图形的公共部分，仅仅需要搜索图形临 近区域的相关图形，大大减少了计算量，提高了计算效率。例如，假设被计算图形层的图形数目为IO万个，对照图形层的图形数目为IO万个，采 用本专利技术方法，假设在两维空间上划分了均匀的100x100个桶，平均每个桶内有IO个图形。 在寻找对照层图形与被计算层图形的公共部分时，平均每个图形只需要查找10遍，就可以省 找完毕。总的査找次数为10x(10万+10万)-200万次，远远小于一般方法的IO亿次。附图说明4图1原始版图图2对照层图形的边框图3分桶方案图4在桶内检査密度图5临时层rew丄o[yer7图6临时层7fem丄a;w2图7临时层7fe附丄a少er3图8结果层具体实施例方式以下结合附图说明本专利技术具体实施方式。设原来的版图如图1所示，图中所示的/a;;eW 为被计算层，/a少er2为对照层。假设命令为DENSITY /ayer7 constaint Inside of Layer /a"d。第1步自左向右扫描/fl少er2，计算to_ye"图形的边框。结果如图2所示；第2步按照/^e^图形的图形数目确定分桶原则，划分均匀的两维的桶，将/ajed图形 的边框分配到桶中。结果如图3所示；第3步自左向右扫描/a，r/，在每个/c^eW图形结束时，计算该图形位于哪个桶 内，査找该桶内的每个/q)^2图形的边框，执行步骤4、 5、 6。结果如图4所示第4步临时层rem丄a;;eW =该/ajw7图形，7fe附丄fl^er2 =该/a"d图形边框，7femZ^yed =And 7fe附iajw/ rem丄aj;eW。 2fe附i^yeW结果如图5所示。re附Z^ye"结果如图6所示。 7few￡a_y"3结果如图7所示；第5步以7fe/M丄^^3的面积作为计算密度的分子，以7fewZ^e"的面积作为计算密度的 分母，计算比值；第6步判断比值是否符合约束，如果符合，该对照层图形即为结果，进行输出。结果如 图8所示。通过本专利技术公开的一种快速实现版图验证中密度检查的方法，提出了针对具有对照层 (Density被计算图形层Inside of Layer对照图形层)的密度检查实现方法，大大提高了 密度检査有对照层的计算效率。权利要求1.版图验证中密度检查的一种快速分桶实现方法，用于检查被计算层图形位于对照图形层内部的面积在对照图形层面积中所占的百分比，其特征在于该方法具体步骤如下(1)自左向右扫描对照层，计算对照层图形的边框；(2)按照对照层图形的图形数目确定分桶原则，划分均匀的两维的桶，将对照层图形的边框分配到桶中；(3)自左向右扫描被计算层，在每个被计算层图形结束时，计算该被计算层图形位于哪个桶内，查找该桶内的每个对照层图形的边框，执行步骤(4)、(5)、(6)；(4)临时层TemLayer1＝该被计算层图形，TemLayer2＝该对照层图形边框，TemLayer3＝AndTemLayer1 TemLayer2；(5)以TemLayer3的面积作为计算密度的分子，以TemLayer2的面积作为计算密度的分母，计算比值；(6)判断比值是否符合约束，如果符合，该对照层图形即为结果，进行输出。全文摘要本专利技术涉及一种快速实现版图验证中密度检查的方法，属于IC CAD工具中版图验证领域。密度检查是IC CAD工具版图验证中设计规则检查(DRC)中的一种图形操作。密度检查的基本含义是检查某一层图本文档来自技高网...

【技术保护点】
版图验证中密度检查的一种快速分桶实现方法，用于检查被计算层图形位于对照图形层内部的面积在对照图形层面积中所占的百分比，其特征在于该方法具体步骤如下：　（１）自左向右扫描对照层，计算对照层图形的边框；　（２）按照对照层图形的图形数 目确定分桶原则，划分均匀的两维的桶，将对照层图形的边框分配到桶中；　（３）自左向右扫描被计算层，在每个被计算层图形结束时，计算该被计算层图形位于哪个桶内，查找该桶内的每个对照层图形的边框，执行步骤（４）、（５）、（６）；　（４） 临时层ＴｅｍＬａｙｅｒ１＝该被计算层图形，ＴｅｍＬａｙｅｒ２＝该对照层图形边框，ＴｅｍＬａｙｅｒ３＝ＡｎｄＴｅｍＬａｙｅｒ１　ＴｅｍＬａｙｅｒ２；　（５）以ＴｅｍＬａｙｅｒ３的面积作为计算密度的分子，以ＴｅｍＬａｙｅｒ２的面积作为计算 密度的分母，计算比值；　（６）判断比值是否符合约束，如果符合，该对照层图形即为结果，进行输出。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李宁，侯劲松，白岩，
申请(专利权)人：北京华大九天软件有限公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]