一种时域ＯＣＴ测量的方法和时域ＯＣＴ系统技术方案

本发明专利技术实施例公开了时域ＯＣＴ测量的方法，包括：控制时域光学相干层析成像ＯＣＴ系统的样品臂的照射光路，以对预设在时域ＯＣＴ系统中的样品进行测量；根据对样品的测量结果，分析得出当前时域ＯＣＴ系统的探测深度值；根据探测深度值测量得出被测物体的厚度值。相应地，本发明专利技术还公开了时域ＯＣＴ系统。采用本发明专利技术，通过对预设在时域ＯＣＴ系统中的样品进行自动的校准测量，分析得出当前时域ＯＣＴ系统的探测深度值，从而使探测深度值得到了校准，解决了现有技术中由于振镜系统工作的不稳定或工作时发热、环境温度的变化等使测量结果与实际结果产生偏差的问题，有效避免测量结果与实际结果产生的误差，提高时域ＯＣＴ系统测量的准确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光电子领域，尤其涉及一种时域OCT测量的方法和时域OCT系统。
技术介绍
光学相干层析成像(OCT，OpticalCoherence Tomography)是一种新兴的光学成像 技术，相对于传统的临床成像手段来说，具有分辨率高、成像速度、无辐射损伤、价格适中、 结构紧凑等优点，是基础医学研究和临床诊断应用的重要潜在工具。时域OCT系统中的纵向扫描是通过参考臂的快扫描延迟线中机械振镜的偏转实 现的，系统的探测深度随着振镜角度偏转的增加而增大。然而，在实际操作中，由于振镜系 统工作的不稳定或工作时发热或环境温度的变化，使振镜的振幅产生变化，从而导致OCT 系统的实际测量深度发生了改变，使测量结果与实际真实结果产生偏差。
技术实现思路
本专利技术实施例所要解决的技术问题在于，提供一种时域OCT测量的方法和时域 OCT系统。可解决现有技术中由于振镜系统工作的不稳定或工作时发热或环境温度的变化， 使测量结果与实际真实结果产生偏差的问题，避免给用户造成不必要的损失。为了解决上述技术问题，本专利技术实施例提供了一种时域OCT测量的方法，包括控制时域光学相干层析成像OCT系统的样品臂的照射光路，以对预设在所述时域 OCT系统中的样品进行测量；根据对所述样品的测量结果，分析得出当前时域OCT系统的探测深度值；根据所述探测深度值测量得出被测物体的厚度值。其中，所述控制时域光学相干层析成像OCT系统的样品臂的照射光路，以对预设 在所述时域OCT系统中的样品进行测量的步骤包括接收对所述时域OCT系统的校准指令；根据所述校准指令，将所述时域OCT系统的样品臂的照射光路调整为校准光路， 以对预设在所述时域OCT系统中的与所述校准光路对应的样品进行校准测量。其中，将所述时域OCT系统的样品臂的照射光路调整为校准光路，以对预设在所 述时域OCT系统中的与所述校准光路对应的样品进行校准测量的步骤包括将OCT系统的样品臂振镜的角度调整为校准角度，以对预设在所述时域OCT系统 中的与所述校准角度对应的样品进行校准测量；或通过预设在所述时域OCT系统中的反射装置改变OCT系统的样品臂的照射光路， 将所述照射光路调整为校准光路，以对预设在所述时域OCT系统中的与所述校准光路对应 的样品进行校准测量。其中，所述根据对所述样品的测量结果，分析得出当前时域OCT系统的探测深度 值的步骤包括根据OCT图像中显示的厚度信息、图像的总深度信息以及所述样品已知的厚度信4息，计算得出当前时域OCT系统的校准的探测深度值。其中，所述控制时域光学相干层析成像OCT系统的样品臂的照射光路，以对预设 的样品进行测量的步骤之前还包括在所述时域OCT系统中设置用于校准测量的样品，所述样品在所述时域OCT系统 的探测范围内。其中，根据所述探测深度值测量得出被测物体的厚度值的步骤包括控制所述样品臂的照射光路，对被测物体进行测量；根据当前OCT图像中显示的 厚度信息、图像的总深度信息以及所述探测深度值，计算得出被测物体的厚度值。相应地，本专利技术实施例还提供了一种时域OCT系统，包括控制测量样品模块，用于控制时域光学相干层析成像OCT系统的样品臂的照射光 路，以对预设在所述时域OCT系统中的样品进行测量；探测深度分析模块，用于根据所述控制测量样品模块对所述样品的测量结果，分 析得出当前时域OCT系统的探测深度值；测量模块，用于根据所述探测深度分析模块分析的探测深度值测量得出被测物体 的厚度值。其中，所述控制测量样品模块包括指令接收单元，用于接收对所述时域OCT系统的校准指令；光路调整单元，用于根据所述指令接收单元接收的校准指令，将所述时域OCT系 统的样品臂的照射光路调整为校准光路；校准测量单元，用于对预设在所述时域OCT系统中的与所述校准光路对应的样品 进行校准测量。其中，所述光路调整单元包括角度调整单元，用于根据所述指令接收单元接收的校准指令，将OCT系统的样品 臂振镜的角度调整为校准角度，以对预设在所述时域OCT系统中的与所述校准角度对应的 样品进行校准测量；或照射调整单元，用于根据所述指令接收单元接收的校准指令，通过预设在所述时 域OCT系统中的反射装置改变OCT系统的样品臂的照射光路，将所述照射光路调整为校准 光路，以对预设在所述时域OCT系统中的与所述校准光路对应的样品进行校准测量。其中，所述探测深度分析模块具体用于根据OCT图像中显示的厚度信息、图像的 总深度信息以及所述样品已知的厚度信息，计算得出当前时域OCT系统的校准的探测深度 值。其中，所述时域OCT系统还包括样品设置模块，用于在所述时域OCT系统中设置用于校准测量的样品，所述样品 在所述时域OCT系统的探测范围内。其中，所述测量模块包括控制测量单元，用于控制所述样品臂的照射光路，对被测物体进行测量；厚度计算单元，用于根据当前OCT图像中显示的厚度信息、图像的总深度信息以 及所述探测深度值，计算得出被测物体的厚度值。实施本专利技术实施例，具 如下有益效果通过对预设在时域OCT系统中的样品进行自动的校准测量，分析得出当前时域 OCT系统的探测深度值，从而使探测深度值得到了校准，然后根据该探测深度值测量出被测 物体的厚度，解决了现有技术中由于振镜系统工作时会发热使测量结果与实际真实结果产 生偏差的问题，有效避免了测量结果与实际真实结果产生的误差，可有效地减少在仪器使 用时人为的干预引起的测量厚度的不准，提高了时域OCT系统测量的准确度，避免了给用 户造成不必要的损失，并且更加便于用户对仪器的操作。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本 专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可 以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术时域OCT测量的方法的第一实施例的流程示意图；图2是本专利技术时域OCT测量的第一实施例的原理示意图；图3是本专利技术时域OCT测量的第二实施例的原理示意图；图4是本专利技术时域OCT测量的方法的第二实施例的流程示意图；图5是本专利技术实施例的时域OCT系统的结构示意图；图6是本专利技术实施例的控制测量样品模块的结构示意图；图7是本专利技术实施例的测量模块的结构示意图。具体实施例方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完 整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于 本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他 实施例，都属于本专利技术保护的范围。如图1示出的本专利技术时域OCT测量的方法的第一实施例的流程示意图，包括步骤SlOl 控制时域OCT系统的样品臂的照射光路，以对预设在所述时域OCT系 统中的样品进行测量；具体地，所述时域OCT系统中设置有用于校准测量的样品，该样品在所述时域OCT 系统的探测范围内，该样品包括但不限于玻璃样品、陶瓷样品等，只要其厚度为已知的d即 可；可以通过多种方式控制OCT系统的样品臂的照射光路，下面列举两种控制方式，但不限 于以下两种控制方式如图2示出的本专利技术时域OCT测量的第一实施例的原理示意图，在 时域OCT系统测量被测物体的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种时域ＯＣＴ测量的方法，其特征在于，包括：控制时域光学相干层析成像ＯＣＴ系统的样品臂的照射光路，以对预设在所述时域ＯＣＴ系统中的样品进行测量；根据对所述样品的测量结果，分析得出当前时域ＯＣＴ系统的探测深度值；根据所述探测深度值测量得出被测物体的厚度值。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：代祥松，蔡守东，黄成，
申请(专利权)人：深圳市斯尔顿科技有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]