获取图像偏移位置的方法及装置制造方法及图纸

技术编号:3898059 阅读:291 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及图像处理技术领域,公开了一种获取图像偏移位置的方法及装置。该方法包括:沿图像的Y轴和/或X轴方向探测第一标尺样条线和第二标尺样条线;该图像是由上层图像和下层图像叠加构成的,该第一标尺样条线和第二标尺样条线预先绘制在该上层图像上,且满足预设的布局条件;根据探测到的第一标尺样条线和第二标尺样条线确定任意一条标尺样条线在上层图像的位置;根据探测到的该标尺样条线在该上层图像的位置和该标尺样条线在该图像的位置计算该上层图像在下层图像中的偏移位置。本发明专利技术实施例提供的技术方案可以在上层图像和下层图像层叠的情况下,准确地获取上层图像在下层图像上的偏移位置。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及图像处理
,尤其涉及一种获取图像偏移位置的方法及装置
技术介绍
在自动测试系统中, 一幅图像往往是由多幅图像通过层层叠加而构成 的。当上层图像和下层图像叠加在一起而构成一幅图像时,如果上层图像和 下层图像完全重叠,则上层图像的边缘在下层图像上不会形成图像分界,此 时上层图像在下层图像上就不存在偏移位置,或者说上层图像在下层图像上的偏移位置为零;相反,如果上层图像和下层图像不是完全重叠,且上层图像完全落在了下层图像上,此时上层图像的边缘在下层图像上必然会形成图像分界,只要获得上层图像的边缘在下层图像上形成的图像分界的位置就能获得上层图像在下层图像上的偏移位置。专利技术人发现,直接获得上层图像的边缘在下层图像上形成的图像分界的位置有时是很困难的,因为如果上层图像和下层图像的图案都十分复杂,或者图案十分相近,这样会导致上层图像的边缘在下层图像上形成的图像分界很不明显,无法准确获得上层图像在下层图像上的偏移位置。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种获取图像偏移位置的方法及装置,可以在上层 图像和下层图像层叠的情况下,准确地获取上层图像在下层图像上的偏移位 置。本专利技术实施例提供了 一种获取图像偏移位置的方法,包括沿图像的Y轴和/或X轴方向探测第一标尺样条线和第二标尺样条线; 所述图像是由上层图像和下层图^^叠加构成的,所述第 一标尺样条线和第二 标尺样条线预先绘制在所述上层图像上,且满足预设的布局条件;根据探测到的所述第 一标尺样条线和第二标尺样条线确定任意一条标 尺样条线在上层图像的位置;根据探测到的该标尺样条线在所述上层图像的位置和该标尺样条线在 所述图像的位置计算上层图像在下层图像中的偏移位置。本专利技术实施例提供了一种获取图像偏移位置的装置,包括 探测模块,用于沿图像的Y轴和/或X轴方向探测第一标尺样条线和第 二标尺样条线;所述图像是由上层图像和下层图像叠加构成的,所述第一标 尺样条线和第二标尺样条线预先绘制在所述上层图像上,且满足预设的布局 条件;确定模块,用于根据探测到的所述第一标尺样条线和第二标尺样条线确 定任意一条标尺样条线在上层图像的位置;计算模块,用于根据探测到的该标尺样条线在所述上层图像的位置和该标尺样条线在所述图像的位置计算上层图像在下层图像中的偏移位置。本专利技术实施例以图像处理技术为基础,利用绘制有标尺样条线的图像作 为上层图像完全落在下层图像上,并与下层图像进行叠加,通过对叠加后的 图像从Y轴和/或X轴方向进行连续的第一标尺样条线和第二标尺样条线探 测,并根据探测结果分析第 一标尺样条线和第二标尺样条线在叠加后的图像 上的位置以及在上层图像上的位置,将第一标尺样条线或第二标尺样条线在 叠加后的图像上的位置以及在上层图像上的位置进行比较,即可获得上层图 像落在下层图像上的偏移位置。 附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实 施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅 仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性 劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例中提供的一种获取图像偏移位置的方法流程图; 图2为本专利技术实施例中提供的一种获取图像偏移位置的方法流程图; 图3为本专利技术实施例中提供的绘制有标尺样条线的上层图像示意图; 图4为本专利技术实施例中提供的一种获取图像偏移位置的装置结构图; 图5为本专利技术实施例中提供的一种探测模块的结构示意图; 图6为本专利技术实施例中提供的一种确定模块的结构示意图。 具体实施例方式下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而 不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作 出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。实施例一请参阅图1,图1为本专利技术实施例中提供的一种获取图像偏移位置的方 法流程图。如图l所示,该方法可以包括步 再其中,上述的第一标尺样条线和第二标尺样条线预先绘制在该上层图像 上,且满足预设的布局条件具体可以为上述的第 一标尺样条线和第二标尺样条线是预先绘制在上层图像上的, 相互平行且第一标尺样条线和第二标尺样条线的间距对应了预设的第一标尺 样条线和第二标尺样条线分别到达该上层图像的起始位置的距离。也就是说,第 一标尺样条线和第二标尺样条线的间距与第 一标尺样条线 和第二标尺样条线到达上层图像的起始位置的距离是对应的。需要说明的是, 根据本专利技术思想,任意连续的两条标尺样条线的间距是不相同的,该间距所 对应的连续的两条标尺样条线到达该上层图像的起始位置的距离与其他任意 连续的两条标尺样条线到达该上层图像的起始位置的距离是不相同的。根据本专利技术实施例提供的方法,可以在步骤101之前对上层图像和下层 图像叠加构成的图像进行二值化处理,二值化处理的目的是为了使探测第一 标尺样条线和第二标尺样条线更加简单,不用受图像亮度和颜色的影响。根据本专利技术实施例提供的方法,可以在二值化处理该图像之后,沿图像 的X轴方向获取多个基准点位置,每一个基准点位置满足大于上述的下层图 像与上层图像的高度的差值,且小于预设的上述的上层图像的非标尺样条线 区域高度的条件;和/或可以沿图像的Y轴方向获取多个基准点位置,每一个基准点位置满足大 于上述的下层图像与上层图像的宽度的差值,且小于预设的上述的上层图像 的非标尺样条线区域宽度的条件。优选地,上述步骤101中的沿图像的Y轴和/或X轴方向探测第 一标尺样条线和第二标尺样条线具体可以包括从X轴方向上获取的每个基准点位置开始,沿图像的Y轴方向逐个象素 遍历检测象素灰度值,直到灰度值为零时停止检测,并将灰度值为零的象素 点的纵坐标存储于第 一数组中;从第一数组中统计出现次数最多的纵坐标,作为第一条标尺样条线在该 图像上的高度;然后,从灰度值为零的象素点开始,继续沿图像的Y轴方向逐个象素遍 历检测象素灰度值,直到灰度值为零时停止检测,并将灰度值为零的象素点 的纵坐标存储于第二数组中;从第二数组中统计出现次数最多的纵坐标,作为第二条标尺样条线在所 述图像上的高度;和/或,从Y轴方向上获取的每个基准点位置开始,沿图像的X轴方向 逐个象素遍历检测象素灰度值,直到灰度值为零时停止检测,并将灰度值为 零的象素点的横坐标存储于第 一数组中;从第一数组中统计出现次数最多的纵坐标,作为第一条标尺样条线在所 述图像上的宽度;然后,从灰度值为零的象素点开始,继续沿图像的X轴方向逐个象素遍 历检测象素灰度值,直到灰度值为零时停止检测,并将灰度值为零的象素点 的横坐标存储于第二数组中;从第二数组中统计出现次数最多的横坐标,作为第二条标尺样条线在所 述图像上的宽度。步骤102:根据探测到的第一标尺样条线和第二标尺样条线确定任意一 条标尺样条线在上层图像的位置; 其中,步骤102可以包括1) 计算第一标尺样条线和第二标尺样条线的间距;其中,第一标尺样条线和第二标尺样条线的间距可以是第一标尺样条线 和第二标尺样条线的高度或宽度之间的间距。2) 根据预设的第一标尺样条线和第二标尺样条线的间距与第 一标尺样条线和第二标尺样条线分别到达上本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种获取图像偏移位置的方法,其特征在于,包括: 沿图像的Y轴和/或X轴方向探测第一标尺样条线和第二标尺样条线;所述图像是由上层图像和下层图像叠加构成的,所述第一标尺样条线和第二标尺样条线预先绘制在所述上层图像上,且满足预设的布局规律;  根据探测到的所述第一标尺样条线和第二标尺样条线确定任意一条标尺样条线在上层图像的位置; 根据探测到的该标尺样条线在所述上层图像的位置和该标尺样条线在所述图像的位置计算上层图像在下层图像中的偏移位置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:徐佳宏肖友能汪国樑
申请(专利权)人:深圳市茁壮网络股份有限公司
类型:发明
国别省市:94[中国|深圳]

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