一种Ｇ．６５３光纤ＤＷＤＭ系统的传输性能测试方法技术方案

本发明专利技术公开了一种Ｇ．６５３光纤ＤＷＤＭ系统的传输性能测试方法，适用于Ｇ．６５３光纤ＤＷＤＭ系统，其特征在于，包括：步骤一，选择待测试的典型通道；步骤二，通过测试得到所述典型通道的附加色散与通道代价之间的关系曲线；及步骤三，通过分析所述关系曲线得到所述系统的传输性能测试结果。本发明专利技术方法和装置，与现有技术相比，由于采取了通过测试附加色散和通道代价的关系曲线的技术措施，达到了全面测试通道传输性能的效果，提高了Ｇ．６５３光纤ＤＷＤＭ系统的传输业务的可靠性。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种Ｇ．６５３光纤ＤＷＤＭ系统的传输性能测试方法，适用于Ｇ．６５３光纤ＤＷＤＭ系统，其特征在于，包括：步骤一，选择待测试的典型通道；步骤二，通过测试得到所述典型通道的附加色散与通道代价之间的关系曲线；及步骤三，通过分析所述关系曲线得到所述系统的传输性能测试结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：沈百林，李红军，张乃罡，张红宇，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]