一种MAT辐射杂散的测量方法技术

技术编号:3433810 阅读:278 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种MAT辐射杂散的测量方法,该MAT包括RUT和RNUT,其均可工作于第一频段与第二频段,RUT和RNUT的工作频段有多种组合,每一频段对应若干信道,该方法包括如下步骤:步骤1,建立MAT的多个无线链路测试环境;步骤2,在第一频段和第二频段中分别设置多个信道;步骤3,测量RNT和RNUT在每一种工作频段组合下的每一种信道组合的MAT的辐射杂散;步骤4,判断所测每一个辐射杂散是否超出预设值,若均不超出预设值,则测试结束,若有一个超出预设值,则降低MAT发射功率,重复执行步骤3,得到一组新的辐射杂散,若该新的辐射杂散均未超出预设值,则测试结束,若有一个超出预设值,则测试失败。本发明专利技术使得测试出的结果更加真实的反应出MAT的抗射频干扰能力。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种MAT辐射杂散的测量方法,其特征在于,该MAT包括待测无线电终端RUT和非待测无线电终端RNUT,RUT和RNUT均可工作于第一频段与第二频段,RUT和RNUT的工作频段有多种组合,每一频段对应若干信道,该方法包括以下步骤:    步骤1,建立MAT的多个无线链路测试环境;    步骤2,在第一频段和第二频段中分别设置多个信道;    步骤3,测量RNT和RNUT在每一种工作频段组合下的每一种信道组合的MAT的辐射杂散;    步骤4,判断所测每一个辐射杂散是否超出预设值,如果均不超出预设值,则测试结束,如果有一个超出预设值,则降低MAT发射功率(功率回退),重复执行步骤3,得到一组新的辐射杂散,若该新的辐射杂散均未超出预设值,则测试结束,如果有一个超出预设值,则测试失败。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:禹忠彭宏利王曼
申请(专利权)人:中兴通讯股份有限公司
类型:发明
国别省市:94[中国|深圳]

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