一种迟滞比较器制造技术

技术编号:3410597 阅读:182 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种迟滞比较器,该电路是为低压低功耗芯片中的保护电路或者是检测电路专门设计。它包括电流源I1、二个输入MOS管、三个负载MOS管和用于调节比较器的阈值的迟滞调节器。当输入MOS管为NMOS管时,负载MOS管采用PMOS管,反之亦然。电路单边阈值与电路器件参数无关,即只要固定了比较器一个输入端电压就可以精确确定单边阈值。电路具有不对称的正反馈回路构成迟滞比较器的迟滞电路,能产生阈值电压并能完成比较功能。电路本身是一个相对独立的部分。电路中还设置了合适的正反馈支路以及输出级支路,以及提供了静电保护作用的MOS管和电阻。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种单边迟滞比较器,其特征在于:包括NMOS管N1和N2、PMOS管P1、P2、P5和迟滞调节器(11),其中,迟滞调节器(11)由PMOS管P6构成,用于调节比较器的阈值;NMOS管N1、N2对称,PMOS管P1、P2、P5的宽长比相等,PMOS管P6的宽长比大于PMOS管P1的宽长比;NMOS管N1管栅极作为正输入端V↓[in1],NMOS管N2管的栅极作为负输入端V↓[in2],它们的源极相连,同时接尾电流源I1的正端,电流源I1的负端接地;NMOS管N1漏极与 PMOS管P1漏极相连,并连接到迟滞调节器(11)中PMOS管P6漏极;PMOS管P1的漏级与栅级相连,成二极管连接;NMOS管N2的漏极与PMOS管P2漏极相连,同时连接到PMOS管P5的漏极;PMOS管P2漏极与其栅极相连,PMOS管P1与P5的栅极相连,PMOS管P6与PMOS管P2的栅极相连;PMOS管P1、P2、P5、P6的源极相连,一起接入电源V↓[DD];PMOS管P6的负输出端V↓[O1]从NMOS管N1的漏极引出,PMOS管的正输出端V↓[O2]从NMOS管N2管的漏极引出。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:邹雪城刘政林郑朝霞尹璐田欢骞海荣王潇涂熙
申请(专利权)人:华中科技大学
类型:发明
国别省市:83[中国|武汉]

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