自动测量存储器系统技术方案

本发明专利技术涉及一种自动测试存储器，其原理是将测试模型同时写入存储器的各存储体内，将一个存储体所存信息与其它存储体所存信息进行比较，并当一个存储体所存信息不同于其它存储体所存信息时，记录下错误的情况。（*该技术在2008年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术一般地涉及存储器领域，并具体地涉及对存储器的自动测试领域。当一计算机系统刚接通电源或从待用状态变为运行状态时，为了确定该计算机系统是否在正确地工作，必须要作一些测试。这些测试之一是保证存储器模块正确地存储和检索信息的存储器诊断程序。存在着许多不同类型的诊断程序。典型的程序将把预定的一些模型写入存储器的各个存储单元，并随后读出这些存储单元的内容，以确信这些模型已被正确地存储在各个存储单元内并从那里检索出。然而，除十分小的存储器外，要对所有存储单元都进行这样的一些测试会化费大量时间。此外，当存储器的容量增大时，运行诊断程序所需的时间也增加。最近，由于工艺技术的改进，存储器容量正以每三年增加三倍的速度扩大。因为存储周期速度未曾相应地提高，所以扩大存储器容量已造成诊断时间相应地增加。一般的存储器系统是靠每次一个地读写存储单元来完成测试的。甚至对高速系统，这样做也会耗费大量时间。例如，对于一个64兆字节(16兆字)的存储器，其存储周期为400毫微秒，仅仅写和读作为部分诊断程序的一个模型，会耗费约13秒〔400毫微秒×16兆字×2次操作/字(读和写)〕。但是，问题比这要严重得多。一般诊断程序需要用多于一个的模型去对存储器进行充分的测试。例如，一个存储单元因不管存入什么数据值总是产生“1”的输出而出现故障，则在用于测试的那些模型中平均有半数会找不到这一故障。为了提供更为完善的测试，存储器诊断程序包括几个不同的模型。例如，在上面提到的64兆字节的存储器系统中，在一个零字段中把“1”移位通过32位数据字的每一位的位置，来形成一个模型，使用这种模型的简单测试可能化费约七分钟(32测试次×13秒/测试次)的时间才能运行完毕。所以，现时系统必须在为存储器的测试化费几分钟时间或放弃充分测试存储器两者之间作出选择。两种可供选择的方案中的无论哪一种都是不可接受的。因此，本专利技术的一个目的是提供一种能完成比通常方法快的自测试步骤的存储器。本专利技术还有一个目的是快速地去完成自动测试，而不需要许多附加的元件。本专利技术其它的一些目的和优点，其中一部分将于下面的说明中示出，而其余部分从该说明中将是显而易见的，或可以在实施本专利技术时弄清楚。本专利技术通过下列的方法来实现它的目的和获得它的优点，即把测试模型同时写入在一块存储器板上的几个存储体相应的存储单元内，并同时读出那些存储单元的内容，将那些内容在一预定的存储体内进行比较。更具体地说，为了按照本专利技术的意图去实现这些目的，正如其实施例和在本文中概述的那样，本专利技术的一种由多个存储体组成的自测试存储器包括同时将测试模型写入多个存储体的每一存储体内的装置;选择存储体之一的装置;同时将选出的一个存储体的内容与其它存储体的内容比较的装置;以及当存储体之一的那些存储单元的内容不同于其它存储体的相应存储单元的内容时，记录发生错误的装置。作为本说明书一部分的那些附图示出了本专利技术的一个实施例，并与说明一起用以阐明本专利技术的原理。附图说明图1是含有本专利技术最佳实施例的数据处理系统的方框图;图2是图1中所示的配置状态寄存器40的最佳实施例的方框图;图3示出了存储在图2中所示的配置寄存器202内的数据格式;图4是图1中所示的存储器控制逻辑器50的最佳实施例的方框图;图5是图1中存储板1上某些电路的最佳实施例的方框图;图6是图5中所示的存储体100和辅助的缓冲器电路的最佳实施例;图7A是在图1的数据处理系统中完成读操作的时序图;图7B是在图1所示的数据处理系统中完成写操作的时序图;图7C是特征读操作的时序图;图7D是快速诊断测试操作的时序图;图8是阐述特征读操作步骤的流程图;图9是快速诊断测试操作的流程图。A.总的系统和自动存储器测量装置图1示出一数据处理系统10，它提供自动存储器测量和快速存储器测试。如图1所示，在它的最佳实施例中，数据处理系统10包括中央处理单元(CPU)板15以及存储板70、72、74和76。但是，图1中所示那些板的特定的安排对本专利技术来说不是重要的。数据处理系统10包括一个中央处理单元，例如，位于CPU板15上的CPU20。CPU20能执行实现本专利技术的指令。CPU总线22传输来自CPU20的命令、地址和数据，并且还传递数据给CPU20。该数据处理系统还包括联接到中央处理单元的引导装置，该引导装置使中央处理单元建立起存储器初始化过程，还包括产生命令和地址。该最佳实施例的数据处理系统10包括在CPU板15上的引导只读存储器(BootRoM)25。BootROM25是一包含用于引导或初始化过程的程序的只读存储器。初始化程序是属存储在BootRoM25中的那些程序之列，初始化程序诸如，对自动存储器测量和快速存储器测试过程所必需的操作加以控制的程序。当然，BootRoM25还能包括其它程序和过程。本实施例还能包括感测一个初始化状态以导致中央处理单元开始执行初始化程序的装置。如图1的最佳实施例中所示，当为了启动引导操作而向数据处理系统10供电时，电源传感器28就检测出这一情况。电路28的输出通过对理解本实施例并不重要的同步电路后，给数据处理系统10的各种部件产生一个复位(RST)信号，这些部件在初始化期间执行特定的动作。例如，在此最佳实施方案中，CPU20发送给BootRoM25一个启动地址，以开始执行存储在BootROM25内的，导致CPU20执行自动存储器测量过程的初始化程序。RST信号也可以从检测到其它情况来产生。此数据处理系统还包括联接到中央处理单元并响应由中央处理单元执行的初始化过程的存储器系统。图1中这样的一种存储器系统包括存储控制器30和存储板70、72、74和76。存储器包括存储控制器装置，用以构成代表存储单元在存储器系统中排列情况的配置表，并以从接收到的来自中央处理单元的地址和命令来形成存储器地址和存储选择信号。在图1所示的最佳实施方案中，在CPU板15上的存储控制器30完成存储控制器装置的功能。存储控制器30包括锁存器34、配置状态寄存器40、存储控制逻辑器50以及错误检测和纠正器45。存储控制器30通过CPU总线22接收来自CPU20的地址和命令。特别是，一个AS信号控制锁存器34，使地址从CPU总线22转移到在存储控制器30内的存储控制器总线32。随后，存储控制器30处理那些地址和命令，并形成存储器地址和存储器选择信号(例如图1中所示的信号310、320、330、340和350-353)。存储控制器装置还包括配置寄存器装置，用于根据说明存储器系统配置情况的配装数据来形成一种配置结构。这样的配置寄存器装置的一个例子是作为存储控制器30一部份的配置状态寄存器(CSR)40。也称作“特征数据”(Signaiuredata)的配置数据将在下面作更为详细的说明。通常，这种数据说明存储器模块的某些特征，例如存储体容量或数目。图2更为详细地示出了配置状态寄存器40的最佳实施例。CSR40包括若干存储体状态寄存器电路200、或门200以及一个行地址选通(RAS)和列地址选通(CAS)译码器230。在本专利技术的这个最佳实施例中每一存储板包括许多个别的存储体，而CSR40包括对应各个存储体的单独的存储体状拇嫫鞯缏 00。存储体状态寄存器电路200中的每一个都包括配置寄存器202、多路转接器2本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自动测试存储器，它由多个存储体所组成，并包括：将测试模型同时写入所述多个存储体的每一存储体中相应存储单元的装置；选择一个所述存储体的装置；将所述被选的一个所述存储体的存储单元所存信息与其它所述存储体相应的存储单元所存信息同时 进行比较的装置；以及当所述被选存储体的存储单元所存信息不同于任一其它所述存储体的相应的存储单元所存信息时，记录出错情况的装置。

【技术特征摘要】
US 1987-5-14 049,8121.一种自动测试存储器，它由多个存储体所组成，并包括将测试模型同时写入所述多个存储体的每一存储体中相应存储单元的装置；选择一个所述存储体的装置；将所述被选的一个所述存储体的存储单元所存信息与其它所述存储体相应的存储单元所存信息同时进行比较的装置；以及当所述被选存储体的存储单元所存信息不同于任一其它所述存储体的相应的存储单元所存信息时，记录出错情况的装置。2.权利要求1的自动测试存储器，其中，所有所述存储体存在于单块存储板上。3.权利要求1的自动测试存储器，它进一步包括多块存储板，每块包括所述多个存储体的至少一个存储体。4.权利要求1的自动测试存储器，它进一步包括一个保持所述被选的一个所述存储体的所存信息的第一锁存器;以及一个保持每一其它所述存储体所存信息的第二锁存器。5.权利要求1的自动测试存储器，它进一步包括每当所述被选存储体的存储单元所存信息不同于任一其它所述存储体相应的存储单元所存信息时，递增一计数值的计数装置。6.权利要求5的自动测试存储器，它进一步包括从所述计数装置输出计数值的装置。7.一种数据处理系统，它包括一种由多个存储体所组成的自动测试存储器，所述数据处理系统包括将测试模型同时写入所述多个存储体的每一存储体中的相应存储单元内的装置;选择一个所述存储体的装置;联接到所述存储器、用以检查来自所述存储体的所述被选的一个存储体的所存信息、以测定所述存储器工作情况的装置;将所述被选的一个所述存储体的存储单元所存信息与每一其它所述存储体相应的存储单元所存信息同时进行比较的装置;以及当所述被选存储体的存储单元所存信息不同于任一其它所述存储体的相应的存储单元所存信息时，记录出错情况的装置。8.权利要求7的数据处理系统，进一步包括一个保持所述被选的一个所述存储体所存信息的第一锁存器;一个保持每一其它所述存储体所存信息的第二锁存器;以及一个联接到所述第一和第二锁存器的比较器。9.一种自动测试存储器系统，它适合于联接到多个存储体并包括将测试模型同时写入所述多个存储体的每一存储体中相应存储单元的装置;选择一个所述存储体的装置;将所述被选的一个所述存储体的存储单元所存信息与每一其它所述存储体相应的存储单元所存信息同时进行比较的装置;以及当所述被选存储体的存储单元所存信息不同于任一其它所述存储体的相应的存储单元所存信息时、记录出错情况的装置。10.权利要求9的自动测试存储器系统，其中，所有所述存储体存在于单块存储板上。11.权利要求9的自动测试存储器系统，它进一步包括多块存储板，每块包括所述多个存储体的至少一个存储体。12.权利要求9的自动测试存储器系统，它进一步包括一个保持所述被选存储体所存信息的第一锁存器;一个保持每一其它所述存储体所存信息的第二锁存器。13.权利要求9的自动测试存储器系统，它进一步包括每当所述被选存储体的存储单元所存信息不同于任一其它所述存储体相应的存储单元所存信息时，递增一计数值的计数装置。14.权利要求9的自动测试存储器系统，它进一步包括联接到所述存储器系统，用以检查来自所述被选存储体所存信息，以测定所述存储器系统工作情况的装置。15.一种自动测试存储器系统，它包括一条存储器总线;至少一块联接到所述存储器总线的存储板，每一块所述存储板包括至少一个存储体，一些收发器电路，每个与所述存储板的不同的一个所述存储体相关连，所述收发器电路响应于一个写信号和多个存储体选择信号中相应的一个信号，导致将数据写入相应存储体被选的一个存储单元内，一个位置检测器电路，如果存储板处于被选存储板位置，则所述位置检测器电路产生一个被选存储板信号，一个多路转接器，它有一些联接到存储板上每一所述存储体的输入端和联接到所述存储器总线的一个输出端，如果所述位置检测器电路产生了所述被选存储板信号，则...

【专利技术属性】
技术研发人员：杰西B利普科，巴里A马斯卡斯，戴维K莫根，
申请(专利权)人：计数设备公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]