时钟精度的测试方法技术

一种时钟精度的测试方法，用于测试通信产品实时时钟模块的时钟精度，其特征在于，该方法包括以下步骤：　　　　ａ）在老化前测试环节向实时时钟模块写入调测实时时钟；　　　　ｂ）在老化后功能测试环节读出实时时钟模块中所述调测实时时钟，然后与本地调测实时时钟比较，并获取精度测试结果。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及通信产品测试方法，尤指一种通信产品。
技术介绍
目前，几乎所有通信产品都有自身的实时时钟模块，其主要功能是为产品提供高精度实时时钟。而对生产出来的通信产品，要求不论是在单板上电还是断电或者故障的情况下该系统都能不间断地提供时钟信号。由于所述时钟对产品在计费、服务等方面都起到比较重要的作用，因此，对其精度的测试是电子产品测试的关键步骤。事实上，为了使生产出来的通信产品符合要求，产品生产过程中的测试环节是必不可少的。图1是现有通信产品生产测试的工艺流程，一个通信产品从单板加工到发货以前包括以下的测试环节结构测试11、ESS(环境应力筛选，即老化)12、老化后FT2测试(功能测试)13和发货前ST测试(系统测试)14。其中老化前结构测试11又包括AOI(自动光学检测)110、AXI(自动X射线检测)111和ICT(在线测试)112。实际操作中，根据单板实际情况，以上的测试环节会略有调整，如在没有ICT测试设备的情况下，一般会增加老化前FT1测试环节。结构测试11中，ICT测试112是最常用的一种标准测试手段，其通过对在线元器件(制成板上的元器件)的电性能及电气连接进行测试来克服生产制造中存在的缺陷及找出不良元器件。随着ICT设备的智能化，目前ICT设备除了完成常规在线测试外，还能完成逻辑器件加载、Flash加载等功能。另外，为防止老化时电源短路等故障情况的发生，上述老化前测试环节也是必不可少的，根据“浴盆曲线”的原理，老化前测试环节可以剔除大部分器件和加工缺陷。一般，在产品经过老化后还需经过1～2个测试环节才能出厂，如图1所示的，大多数情况下是先经过老化后FT测试，测试后入库，在发货前根据需要装配成整机进行发货前ST测试。个别产品或单板在发货前会根据自身情况选择FT、ST其中一个测试环节进行测试。现有对产品的实时时钟模块时钟精度的测试，一般在老化后FT测试环节进行，有如下的两种方案第一种技术方案，在老化后FT测试环节中向实时时钟模块的RTC(实时时钟)芯片写入调测计算机的实时时钟，在所述老化后FT测试环节完成前读出所述RTC芯片中的时钟，通过与调测计算机的实时时钟比较可以测试实时时钟模块的时钟精度；其中时钟的写入、读取都是由单板上微处理器通过所述RTC芯片通信接口实现；上述技术方案是一种最简单的实时时钟精度测试方案，但存在下面的缺点由于FT测试环节测试时间一般都不会超过1个小时，显然这样短的时间得到的实时时钟精度是不够的，测试存在较大误差；第二种技术方案，在老化后FT测试环节向实时时钟模块的RTC芯片写入调测计算机的实时时钟，在发货前ST测试环节读取所述RTC芯片中的实时时钟并与调测计算机的实时时钟比较以测试时钟精度，在该方案中，时间的写入、读取也是由单板上微处理器通过所述RTC芯片通信接口实现；所述第二种技术方案存在下面的缺点由于是在整机发货前，即ST测试后才能发现时钟精度的故障，给发货造成了很大的压力，并且按照早期发现故障能大大降低调测成本的理论，上述发货前调测时钟精度的方案会大大增加生产制造成本。
技术实现思路
为解决现有技术通信产品实时时钟模块时钟精度测试中存在较大误差的问题，本专利技术提出一种，采用该方法可以减少精度测试的误差。具体的，本专利技术提出的，用于测试通信产品实时时钟模块的时钟精度，所述方法包括以下步骤a)在老化前测试环节向实时时钟模块写入调测实时时钟；b)在老化后功能测试环节读出实时时钟模块中所述调测实时时钟，然后与本地调测实时时钟比较，并获取精度测试结果。其中，步骤a)所述老化前测试环节为在线测试环节或老化前功能测试环节。进一步，步骤a)在在线测试环节向实时时钟模块写入调测实时时钟是将在线测试设备的两个测试针分别接在实时时钟模块的串行数据输入口和串行时钟输入口，由所述在线测试设备向实时时钟模块写入所述调测实时时钟，包括以下步骤a11)在线测试设备向实时时钟模块的实时时钟芯片发送通信开始信号；a12)在线测试设备模拟单板微处理器向所述实时时钟芯片写入包括实时时钟芯片地址及读指示位的数据；a13)所述实时时钟芯片回送响应信号；a14)在线测试设备开始向所述实时时钟芯片写入调测实时时钟；a15)所述调测实时时钟写入完毕，在线测试设备发送停止位或发送新一轮通信开始信号结束本次通信。另外，所述在在线测试环节写入调测实时时钟还包括在线测试设备将调测实时时钟写入后，将所述写入的调测实时时钟读出来，进行校验，以确保写入的数据无误。另外，步骤a)在老化前功能测试环节写入调测实时时钟的步骤包括a21)单板微处理器向实时时钟模块的实时时钟芯片发送通信开始信号；a22)单板微处理器向所述实时时钟芯片写入包括实时时钟芯片地址及读指示位的数据；a23)所述实时时钟芯片回送响应信号；a24)单板微处理器开始向所述实时时钟芯片写入调测实时时钟；a25)所述调测实时时钟写入完毕，单板微处理器发送停止位或发送新一轮通信开始信号结束本次通信。进一步，步骤b)在老化后功能测试环节读出所述实时时钟模块中的调测实时时钟的步骤包括b1)单板微处理器向所述实时时钟模块的实时时钟芯片发送通信开始信号；b2)单板微处理器向所述实时时钟芯片写入包括实时时钟芯片地址及写指示位的数据；b3)所述实时时钟芯片开始向单板微处理器发送调测实时时钟； b4)所述调测实时时钟发送完毕，单板微处理器发送停止位或发送新一轮通信开始信号结束本次通信。优化的，所述方法还包括，采用网络时间协议使各调测终端系统的时间与网络中指定的时钟服务器同步。与现有技术相比，本专利技术具有以下的优点1、在ICT测试环节，由ICT设备模拟微处理器与实时时钟模块的RTC芯片通信，写入调测实时时钟，或在老化前FT测试环节写入调测实时时钟，然后在老化后FT测试环节读取先前写入的调测实时时钟并与本地调测实时时钟比较，由于测试跨越了老化环节，本专利技术时钟精度测试时间相对较长，因此，与现有技术相比，本专利技术的测试误差相对降低；2、由于本专利技术老化后FT测试完即结束时钟精度测试，按照上述早期发现能降低成本的理论，本专利技术相对现有技术降低了生产制造成本；3、本专利技术中还采用网络时间协议同步各个调测终端系统的实时时钟，更进一步提高了测试时钟的精度。附图说明图1是现有技术电子产品生产测试的工艺流程示意图；图2是现有实时时钟模块组成示意图；图3是本专利技术具体实时例的流程图；图4是本专利技术所采用RTC芯片DS1307器件管脚示意图；图5是图4所示的DS1307数据传递时序图；图6是图4所示的DS1307接收数据模式时序图；图7是图4所示的DS1307发送数据模式时序图；图8是本专利技术中ICT设备模拟单板微处理器向DS1307写入实时时钟的流程图；图9是本专利技术中老化前FT测试环节向实时时钟模块的RTC芯片写入调测实时时钟的流程图；图10是本专利技术中在老化后FT测试环节单板微处理器从实时时钟模块的RTC芯片读取老化前写入的调测实时时钟的流程图。具体实施例方式下面结合附图以具体实施方式进一步说明本专利技术的方法。首先来看通信产品中的实时时钟模块，通信产品中，所需的实时时钟通常是由产品控制板的实时时钟模块提供。参考图2是现有通信产品中实时时钟模块组成示意图，所述实时时钟模块主要包括三个基本功能部分晶振模块201、电源本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李桂生，陈定邦，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：