显示器及测量该显示器对位组立偏移的方法技术

本发明专利技术提供了一种显示器，该显示器具有第一基板和第二基板，第二基板对应于第一基板设置。第一基板上依次配置有对位结构与第一导电层，第二基板上则依次配置有绝缘层与第二导电层，且第二导电层具有暴露出绝缘层的对位区域。在第一基板与第二基板对位组立后，第一导电层会对应于对位区域。本发明专利技术还提供了一种测量该显示器对位组立偏移的方法，通过将对位信号输入第一导电层与第二导电层其中之一，并测量第一导电层与第二导电层其中的另一是否具有对位信号，即可迅速准确地判断显示器是否符合规格。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种显示器与一种测量该显示器对位组立偏移(Assemble Precision)的方法，且特别是有关于一种液晶显示器与一种测量 该液晶显示器组装时的对位组立偏移的方法。
技术介绍
近年来有许多平面显示器(Flat Panel Display)技术相继被开发出来。液晶 显示器(LCD)因为具有高画质、体积小、重量轻、低电压驱动、低耗电量及应 用范围广等优点，因此被广泛应用于中、小型可携式电视、行动电话、摄录 放影机、笔记型电脑、桌上型显示器、以及投影电视等消费性电子或电脑产 品，并已逐渐取代阴极射线管(Cathode Ray Tube; CRT)而成为显示器的主流。 特别是薄膜晶体管(Thin Film Transistor; TFT)液晶显示器，因其高显示品质与 低消耗功率的特性，几乎占据了大部分的市场。薄膜晶体管液晶显示器主要由数个液晶显示器单元和薄膜晶体管阵列组成。每个液晶显示器单元具有两个彼此对置的玻璃基板， 一层液晶层夹于两 玻璃基板之间。通过薄膜晶体管切换施加于液晶层上的电压，进而改变显示 器的亮度。在液晶显示器的组装工艺中，将各个基板面对面地对齐组装的工艺称为 对组工艺。图1所示为已知显示器100的平面示意图，如图1所示，在对组 工艺中，将第一基板110和第二基板120面对面地对齐组装，使得第一基板 110上的作用区域112(例如彩色滤光片)对齐于第二基板120上的器件区域(例 如薄膜晶体管阵列)，以共同构成一个显示区域。为了确定两片基板是否对齐， 在两片基板的边缘通常会分别设置有如同量尺的装置，两个量尺重叠而形成一个游标尺102。由检测人员读取游标尺102上的数值，即可得知两片基板是 否对齐以及两片基板之间的偏移量，或称为对位组立偏移量。当对位组立偏 移量过大时，会产生漏光的现象。实务上，由于对位组立的判断不易，常常发生检测片人员误判，而未能 及时挑出会漏光的片子，造成后续工艺的困扰，以及组装材料的浪费。有鉴于此，我们需要一种新的显示器及测量该显示器对位组立偏移的方 法，特别是一种新的液晶显示器及测量该液晶显示器对位组立偏移的方法， 以有效测量对位组立偏移量，并避免人为误判。
技术实现思路
本专利技术提供一种显示器，可支持电子信号的测量方式，取代传统的人员 目视游标尺的方法。显示器具有第一基板和第二基板，第二基板对应于第一 基板设置，即两片基板面对面地并列设置。第一基板上配置有一对位结构，对位结构具有一顶部。 一第一导电层配 置在顶部的表面上。第二基板上配置有一绝缘层。 一第二导电层配置在绝缘 层上。第二导电层具有一对位区域，对位区域暴露出绝缘层。第一基板与第 二基板对位组立后，第一导电层会对应于对位区域。当对位结构的顶部仅位于对位区域中，第一导电层与第二导电层没有电 接触时，第一导电层上的电子信号不会传到第二导电层上，反之第二导电层 上的电子信号也不会传到第一导电层。然而，当对位结构的顶部超出对位区 域外时，第一导电层与第二导电层则会产生电接触。因此，检测人员可利用上述特性，通过测量第一导电层或第二导电层上 的电子信号，便可得知第一导电层和第二导电层是否产生电接触，进而得知 第一基板和第二基板的对位组立偏移的情况。本专利技术另提供一种测量显示器的对位组立偏移方法，其主要包括两个步 骤。首先，输入一对位信号至第一导电层上。接着，测量第二导电层是否具有对位信号。当测量的结果是第二导电层具有对位信号时，则判断第一基板 与第二基板的对位组立偏移量大于或等于预定值。反之，当第二导电层不具 有对位信号，则判断第一基板与第二基板的对位组立偏移量小于预定值。本专利技术所提出的显示器与测量其对位组立偏移的方法，可以以检测精度 较高且检测速度较快的电子信号测量来取代传统的目视测量，从而减低检测 人员目视检测的负担，并有效减少误判。附图说明图1为已知的显示器的平面示意图。图2A为本专利技术显示器的实施例的平面示意图。 图2B为图2A所示对位精度测量结构沿着A-A'剖线的剖面示意图。 图3A为图2A所示对位精度测量结构的局部放大示意图。 图3B为图3A所示对位精度测量结构沿着B-B'剖线的剖面示意图。 图4A为图3A所示对位精度测量结构的平面示意图，表示当两基板平移 后的情况。图4B为图4A所示对位精度测量结构沿着C-C'剖线的剖面示意图。图5为本专利技术显示器的另一实施例的平面示意图。图6为本专利技术显示器的另一实施例的平面示意图。图7为本专利技术对位精度测量方法的一实施例的流程示意图。具体实施例方式请同时参考图2A和图2B。图2A所示为本专利技术显示器的一实施例的平面、示意图。图2B所示为沿着图2A中A-A'剖线的剖面示意图。显示器100具有第一基板110和第二基板120，第二基板120对应于第一 基板110设置。具体而言，第一基板110和第二基板120面对面地并列，使 得第一基板110上的作用区域与第二基板120上的器件区域可互相对齐，以 共同构成一个显示区域。第一基板110和第二基板120之间会相隔一定的间 隔而组装在一起，此过程称为对位组立工艺。在本专利技术的实施例中，第一基 板110具有彩色滤光片112，彩色滤光片112应对齐于第二基板120上的薄膜 晶体管阵列122。为了确定第一基板110和第二基板120之间的对位组立的误差是在可容 许的范围之内，本专利技术的实施例中设置了复数个对位精度测量结构130，作为 对位组立精度的测量机制。对位精度测量结构130主要包括对位结构140和 对位区域150，两者分设于不同的基板上。在本实施例中，对位结构140是设 置于第一基板110上，对位区域150设置于第二基板120上，但本专利技术并不 以此为限。第一基板110上配置有多个对位结构140，对位结构140分布于彩色滤光 片112的四周，尤其是对应于彩色滤光片112的四个角落的位置。在显示器 组装测试的工艺中，为了方便测试，基板上通常会预留多余的空间来设置测 试用的装置，如一般测试垫160或游标尺(图中未示出)等。此外，在测试完成 后，预留的空间会被切除或部分切除。在本专利技术的实施例中，对位结构140 装设于第一基板110上的预留空间中，并且环绕彩色滤光片112。对位结构140是一种倒装的构造，其可利用各种可能的方式，并以各种 可能的材质形成于第一基板110上。在本专利技术的实施例中，利用数层光刻胶 堆叠而形成对位结构140。以较佳的实施方式而言，可在第一基板110上先涂 上先一层黑色矩阵层146，接着在于其表面上堆叠一层层的彩色光阻层144， 如此堆叠形成突起的对位结构140，但本专利技术并不以此为限。彩色光阻层144 的材质与颜色不限，即彩色光阻层144可包括红色光阻层、绿色光阻层或蓝 色光阻层。在本实施例中，对位结构140具有一层黑色矩阵层146和三层彩 色光阻层144。然而，本实施例中对位结构140中光阻层的层数仅为说明，并 非限制于四层。第一导电层148配置在对位结构140的顶部142的表面上。以较佳的实施方式而言，第一导电层148可进一步贴覆在整个对位结构140的表面上， 且电连接彩色滤光片112，但本专利技术并不以此为限。任何具有本专利技术所属技术 领域通常知识者应知，当驱动显示器时，彩色滤光片112会有一共同电位， 由于第一导电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示器，其特征在于，该显示器包括：　一第一基板；　一对位结构，配置在所述第一基板上，所述对位结构具有一顶部；　一第一导电层，配置在所述顶部的表面上；　一第二基板，对应于所述第一基板设置；　一绝缘层，配置在所述第二基板上；以及　一第二导电层，配置在所述绝缘层上，所述第二导电层具有一对位区域，所述对位区域暴露出该绝缘层，且所述第一导电层对应于所述对位区域。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林建宏，
申请(专利权)人：友达光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]