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地下水双联电测法制造技术

技术编号:2658294 阅读:614 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种地下水双联电测法,该方法能在贫水基岩地区,准确无误地将曲线畸变的性质鉴定出来,通过对电测曲线畸变的分析确定定井位,克服了在基岩地区找水,用四极对称电测深法存在的问题,有效地排除了旁侧影响,且电测方法简单,误判率低,大大提高了成井率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种水文地质勘査的物探方法,具体地说,是一种探测地下水 的双联电测法,主要适用于在基岩地区,用于査明地下地质构造及岩石性质, 寻找地下水。
技术介绍
电法勘探简称电探或电测是地球物理勘探的一种,经常用于地下水或其他矿产的勘测。电阻率测深法有四极对称电测深,以下简称SD法电测深,偶极电 测深、三极电测深等。其中应用最广的是SD电测深,它是前苏联在二十世纪三 十年代研究出来的,几十年以来很少有所改进。使用此方法的前提是,各种岩 层在地下都是成层状分布的,只是在垂向上,在不同深度发生变化,而在水平 方向上都是不变的。各地的地质条件实际上都是千变万化的,不论在水平方向 还是沿垂向都是不均匀的。尤其在基岩地区,由于在水平方向受地形、岩性、 构造等诸因素的影响,各地的地下都是一种各个方向都不均匀的导电体,存在 大量的不是探测目的的"干扰体"。SD电测深法就是将测量电极M、 N与供电电极A、 B对称地布置在测点O两 侧,M、 N保持相对固定,A、 B按一定规律同时向两侧挪动,测量A、 B由近到 远一系列视电阻率数值。再以AB/2为横坐标,以Ps值为纵坐标,绘制在双对数 坐标纸上,联结成一条曲线,称为SD电测深曲线。借助该曲线可用一定的方法 解析出地下的地质状况。在基岩地区找水,用SD电测深主要存在以下问题一、在贫水基岩地区找水往往要找断层、裂隙带、岩脉等线状地质体,它在电测深曲线上很容易被上述干扰体混淆或掩盖,因而用这些常规方法找水很 难分析准确。二、 探测的岩体的体积主要是以AB为直径的地下的半球体。这个半球体也可以看作是以A0、 BO为半径的两个四分之一球体。这两个四分之一球体内的岩性经常是差异较大的。 一条曲线受到两个四分之一球体内岩性的共同影响,实 际上就是一条混合型的曲线,必然会大大地降低其垂向探测的能力。三、 SD电测深曲线既受垂向地质条件变化的影响,又受A0、 B0两个水平方 向地质条件变化的影响,称旁侧影响。例如,挪动前A极(或B极)在硬岩层 上,挪动后也许就到了软岩层之上。实践证明,旁侧影响对曲线造成的畸变比 垂向影响对曲线造成的畸变要明显得多,在数量上也多得多。 一条曲线中既有A 方向旁侧影响造成的畸变,又有B方向旁侧影响造成的畸变,也有垂向影响造 成的畸变,哪是真畸变,哪是假畸变是无法辨别的。在过去往往用"旁侧影响" 来一言以蔽之,而不再深究。至于如何排除"旁侧影响",如何分辨"真假畸变", 在该
,从未解决,给电测找水工作造成了很大困难。四、 用常规的方法找水,由于受水平方向干扰体的影响,误判率高,越是 在复盖层较薄的贫水地区,SD曲线越复杂,干扰体越是无处不在,大部分曲线 都可能发生误判。在实际打井中,经常会遇到在SD上升曲线中有极明显的下降 段或是下降曲线,而实际打井中什么低阻层也没有,越向下越硬,从而导致选 定的井点打井成功率很低,普遍认为"测的不准",极大地影响了电测找水的工 作。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供了一种地下水双联电测法,即在同一条 直线上进行双向测量,将获得的两条曲线进行联合分析。克服了在基岩地区找说明书第3/9页水,用四极对称电测深法存在的问题,有效地排除了旁侧影响,且易测,误判 率低。本专利技术所采用的技术方案为 地下水双联电测法,步骤如下 (1)、首先确定可能的富水地段,在该地段的任意一个测点作为测深点a、将测量电极M、 N与供电电极A、 B对称地布置在测点两侧,M、 N保持 相对固定,供电电极C位于A、 B的中垂线上,同时也位于测量电极M、 N的中 垂线上,C极对M、 N造成的电位差为O,供电电极A、 B先后与电测仪的A接口 相连接,测量电极M、 N也分别与电测仪M、 N接口相'连接,供电电极C与电测 仪B接口相连接,开启电测仪,进行测量。 本专利技术的技术方案依据的原理如下根据四极对称电测深法原理,AB同时供电进行测量时,它在MN之间形成的 电位差用AUAB表示,电流强度用I表示,则测出的视电阻率/^为 "ALT .<formula>formula see original document page 6</formula>在M N的中垂线上设置一个无穷远C极,AC、 BC分别供电,在MN之间形 成的电位差分别用△ UA和△ U b表示,则测出的视电阻率分别为"和^ :<formula>formula see original document page 6</formula>又因为Aua^Alja+AU1将④式代入①式得A,n AU、U3 =Jt (f +再将②、③式代入⑤式,得2冗2;r 2从⑥式得出, 一条四极对称电测深曲线从理论上完全可以证明能分解成两条三极装置的电测深曲线。曲线A是垂向地质条件与A方向横向地质条件共同 影响的综合反映。曲线B是垂向地质条件与B方向横向地质条件共同影响的综 合反映。b、在同一个测点分别测量与C极垂直的两个方向的视电阻率,绘制出P ;和 P〗两条电测深曲线。(2) 、对P〗和和P〗曲线中出现的畸变进行分析a、 P〗和P〖两条曲线的线型和斜率大体一致,斜率无明显的负向变化,说 明此地的地电条件在水平方向比较稳定,再用常规方法进行分析,以辨别富水 性。b、 P〗和P f两条曲线的线型一致,斜率差异较大或不大,其中一条或两条曲线上有畸变,再进行平移鉴定其性质。c、 P〗和P〗两条曲线的线型一致,斜率差异较大,无明显畸变,说明两个方向的岩性条件差异较大,应根据当地不同岩性富水性的差异,重新布设测 点,再进行电测。d、 其中一条曲线为上升曲线,另一条为下降曲线,或有较长的下降段,说 明此地的地电条件十分不利,旁侧影响非常严重,其中的下降曲线或线段与该 点的垂向变化无关。在上升曲线上出现畸变,再进行平移鉴定其性质。所述的畸变,就是在测量曲线上出现的斜率发生明显的负向变化的线段。(3) 、对有畸变的曲线进行平移鉴定 将测点向左或右平行移动一个极距,其极距为等距离,前后两条测线方向不能改变,C极方向不能改变的条件下,再另测出一条曲线,与平移前所测的曲 线对比,判定其曲线畸变的性质及确定含水层的井位。平移鉴定前后测出的两条曲线相比较,按以下进行判别a、 测点向右移动一个极距,则新测的右支曲线上的畸变拐点比原先的右支曲线上的同一个拐点向近端移动了一个极距;或测点右移后新的左支曲线上的 畸变拐点比原左支曲线上的畸变拐点向远端移动了一个极距,该畸变为旁侧畸 变;测点向左移动一个极距,则新测的左支曲线上的畸变拐点比原先的左支曲 线上的同一个拐点向近端移动了一个极距;或测点左移后新的右支曲线上的畸 变拐点比原右支曲线上的畸变拐点向远端移动了一个极距,该畸变为旁侧畸变。b、 测点向左或向右移动后,在某一测线上出现的畸变拐点的极距不发生平 移,该畸变在这两个测点都是垂向畸变。c、 测点向左或向右移动后,在某一测线上出现的畸变段消失,该畸变不是旁侧畸变,是在垂向上前一个测点有垂向畸变,后一个测点无垂向畸变;测点 向左或向右移动后,原畸变段向相反方向移动,说明也不是旁侧畸变。这两种 情况都是含水层的反映,都可以定井。所述的垂向畸变,由测点下方的断层、裂隙等含水层的影响造成,本文档来自技高网
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【技术保护点】
地下水双联电测法,其特征在于:包括以下步骤: (1)、首先确定可能的富水地段,在该地段的任意一个测点作为测深点: a、将测量电极M、N与供电电极A、B对称地布置在测点两侧,M、N保持相对固定,供电电极C位于A、B的中垂线上,同时也位于测量电极M、N的中垂线上,C极对M、N造成的电位差为0,供电电极A、B先后与电测仪的A接口相连接,测量电极M、N也分别与电测仪M、N接口相连接,供电电极C与电测仪B接口相连接,开启电测仪,进行测量; b、在同一个测点分别测量与C极垂直的两个方向的视电阻率,绘制出ρ↓[S]↑[A]和ρ↓[S]↑[B]两条电测深曲线; (2)、对ρ↓[S]↑[A]和ρ↓[S]↑[B]曲线中出现的畸变进行分析: a、ρ↓[S]↑[A]和ρ↓[S]↑[B]两条曲线的线型和斜率一致,斜率无明显的负向变化,说明此地的地电条件在水平方向比较稳定,再用常规方法进行分析,以辨别富水性; b、ρ↓[S]↑[A]和ρ↓[S]↑[B]两条曲线的线型一致,斜率差异较大或不大,其中一条或两条曲线上有畸变,再进行平移鉴定其性质; c、ρ↓[S]↑[A]和ρ↓[S]↑[B]两条曲线的线型一致,斜率差异较大,无明显畸变,说明两个方向的岩性条件差异较大,应根据当地不同岩性富水性的差异,重新布设测点,再进行电测; d、其中一条曲线为上升曲线,另一条为下降曲线,或有较长的下降段,说明此地的地电条件十分不利,旁侧影响非常严重,其中的下降曲线或线段与该点的垂向变化无关,在上升曲线上出现畸变,再进行平移鉴定其性质; (3)、对有畸变的曲线进行平移鉴定其性质: 将测点向左或右平行移动一个极距,其极距为等距离,前后两条测线方向不能改变,C极方向不能改变的条件下,再另测出一条曲线,与平移前所测的曲线对比,判定平移鉴定前后测出的两条曲线畸变的性质及确定含水层的井位。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:杨佃俊杨树华杨树伟
申请(专利权)人:杨佃俊
类型:发明
国别省市:37[中国|山东]

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