时序测试方法技术

技术编号:2634011 阅读:235 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种时序测试方法,易于确定建立时间和保持时间、简化了操作过程、提高了测试效率,同时扩大了应用范围,包括步骤:(1)选定被测芯片以及被测信号线;(2)通过访问地址空间来驱动被测信号线产生方波信号;(3)捕捉方波信号,测量时序参数。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试
,特别是涉及数字电路的。
技术介绍
随着电子技术的发展,数字电子系统的工作频率越来越高,对信号时序关系的要求也越来越严格。若单板中芯片输入信号的时序关系不能满足要求,则芯片不能正常工作,进而使得单板不能可靠地工作;若单板上总线信号的时序配合不当,则单板总线信号会产生冲突。为了保证单板稳定地工作,就需要对单板内芯片的时序参数进行测试,以检验时序关系是否可靠,进而评价单板的可靠性。在此,所谓时序参数具体包括数据信号的建立时间和保持时间、地址信号的建立时间和保持时间,以及片选信号的有效时间。其中,建立时间是指输入信号的开始时刻(以下称有效时刻)到出现采样信号沿出现时刻之间的时间间隔。若数据在采样信号沿出现之前有效,则建立时间为正;反之,建立时间为负。保持时间是指出现采样信号沿的时刻到输入信号的结束时刻(以下称无效时刻)之间的时间间隔。若采样信号沿在输入信号的无效时刻之前出现,则保持时间为正;反之,保持时间为负。建立时间和保持时间越大,则时序关系越满足要求。请参阅图1,采样信号为时钟信号,采样信号沿为时钟信号的上升沿,也就是在时钟信号的上升沿采样输入信号。其中,T1为建立时间,T2为保持时间,T1+T2为信号的总有效时间。在实际应用中,采样信号可以是时钟信号,也可以是片选信号或其他用于采样输入信号的控制信号。采样信号沿可以是采样信号的上升沿,也可是采样信号的下降沿,具体情况根据芯片的要求而定。当在采样信号的上升沿采样输入信号时,则采样信号沿为上升沿;当在采样信号的下降沿采样输入信号时,则采样信号沿为下降沿。目前,人们常采用下述方法来测试芯片输入信号的建立时间和保持时间。方法一,借用单板自身带有的工作软件来进行测试。通常,带有CPU、DSP(数字信号处理器)或者单片机等处理器芯片的单板在实际工作过程中会访问单板上的其他芯片(以下称外部芯片)。这样,在进行芯片的时序关系测试时可以借助此操作。具体测试过程是首先,选择被测芯片以及被测信号线;然后,运行单板的工作软件,使单板进入实际工作状态;再后,处理器芯片访问外部芯片,在被测信号线上产生高、低电平的变换;最后,用示波器持续观察被测芯片的被测逻辑信号,所述逻辑信号包括时钟信号、数据信号、地址片选信号以及读写控制信号等,利用示波器的时间测量功能来测量、分析被测芯片的时序参数。方法一虽然可以实现对被测信号线的时序测试,但是,在实际应用中其不可避免地存在下述缺陷其一,难以确定建立时间和保持时间。方法一借助单板实际工作软件来使处理器定时访问被测芯片,以捕捉被测信号线上的可能出现的电平变换。然而,在实际工作过程中,处理器定时访问被测芯片,在被测信号线上所产生的波形信号是实际工作时的电平信号,而实际工作时的电平信号通常不是方波信号,往往是低电平时间短、高电平持续时间长,或者高电平时间短而低电平持续时间较长。这样的波形信号难以确定输入信号的有效时刻和无效时刻,因而,也就难以确定输入数据的建立时间和保持时间。其二,应用范围窄。方法一中,单板所带有的工作软件不是专门用于时序参数测试的,因而,在实际应用中会出现下述情况需要测试某个外部芯片时,而软件实际运行中处理器芯片没有访问该外部芯片的操作,这样将不能在被测信号线上产生高、低电平变换;或者处理器芯片有访问外部芯片的操作,但是该访问不是定时的,这同样不能在被测信号线上产生高、低电平的变化。因此,方法一只能应用在处理器芯片具有定时访问外部芯片的操作,并且能够在被测信号线上产生高、低电平的转换的单板。因而,使得方法一的应用范围较窄。方法二,使用直接访问被测芯片地址空间的方法来测试时序参数。在实际应用中,可以通过操作终端上特定的命令窗口和特定的命令直接访问地址空间来测试地址线和数据线的时序参数。首先,选择被测芯片和被测信号线;然后,借助特定的窗口通过特定的命令,来驱动被测信号线上产生高、低电平的变化;最后,使用示波器等测试仪器捕捉电平变化,并测量时序参数。例如,利用Wind River公司的Tornado调试终端的命令窗口,先输入修改内存的命令“m 0x0000FFFF 0xFFFF”,来将地址“0x0000FFFF”中的内容修改为“0xFFFF”;然后,再次在命令窗口中输入修改内存的命令“m 0x0000FFFF0x0000”,来将地址“0x0000FFFF”中的内容修改为“0x0000”,这样在数据线上就产生了由高电平向低电平的变换;最后,示波器等测试仪器捕捉电平变化,并测量时序参数。在实际应用中,方法二存在下述缺陷第一,不易确定建立时间和保持时间。由于方法二中需要借助于特定的窗口输入特定的命令来实现高、低电平的变换,并用示波器等测试仪器来捕捉瞬间的电平变化,进而分析时序参数。由于命令是通过手工输入的,并且电平变化是在命令输入的瞬间,稍纵即逝,因此电平的变化难以被捕获到,从而难以确定建立时间和保持时间,不便于进行时序参数的分析。第二,操作繁琐。在实际应用中,方法二需要借助于特定的终端、特定的命令窗口,并输入特定的命令,来在被测芯片的数据信号线和地址信号线上产生高、低电平的变换,然后,捕捉电平变换并分析被测芯片的时序参数。由于每产生一个电平都需要通过手工输入特定命令,这使得操作过程较为繁琐。第三,测试效率较低。由于方法二的操作过程繁琐、不易确定建立时间和保持时间,从而导致测试效率较低。第四,应用范围窄。由于方法二中,需要借助于特定的终端、特定的命令窗口以及特定的命令来实现高、低电平的变换,而对于不能应用在特定终端或特定的命令窗口的单板,将不能采用方法二来进行时序参数的测试。因此,方法二的应用范围受到局限。
技术实现思路
本专利技术解决的技术问题在于提供了一种,易于确定建立时间和保持时间、简化了操作过程、提高了测试效率,同时扩大了应用范围。一种,用于对芯片的时序参数进行测试,包括步骤(1)选定被测芯片以及被测信号线;(2)通过访问地址空间来驱动被测信号线产生方波信号;(3)捕捉方波信号,测量时序参数。所述步骤(1)中被测信号线为所述被测芯片的并行数据线;所述步骤(2)中具体为通过并行数据线,处理器芯片向被测芯片的至少一个地址空间内循环地写入全“0”数据和全“1”数据,在并行数据线上产生方波信号。所述步骤(1)中被测信号线为所述被测芯片的串行数据线;所述步骤(2)中具体为通过所述串行数据线,处理器芯片循环地向被测芯片的至少一个地址空间内写入数据,所述数据用二进制表示时为“0”和“1”相互间隔,在串行数据线上产生方波信号。所述步骤(1)中被测信号线为所述被测芯片的并行地址线;所述步骤(2)中具体为选定被测芯片的至少两个地址空间,所述地址空间的至少一位对应位的数值异或为1;处理器芯片循环地访问所述选定的地址空间,在并行地址线上产生方波。所述步骤(1)中被测信号线为所述被测芯片的串行地址线所述步骤(2)中具体为选定被测芯片的一个或多个地址空间,所述地址空间至少有两个相邻的位的数值异或为1;处理器芯片循环地访问所述选定的地址空间,在串行地址线上产生方波信号。所述步骤(1)中所述被测芯片为处理器芯片;所述被测信号线为所述处理器芯片的并行数据线;所述步骤(2)之前还包括步骤选定处理器芯片之外的芯片,并选定所述芯片的至少两个地址本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种时序测试方法,用于对芯片的时序参数进行测试,其特征在于,包括步骤:(1)选定被测芯片以及被测信号线;(2)通过访问地址空间来驱动被测信号线产生方波信号;(3)捕捉方波信号,测量时序参数。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:黄智荣
申请(专利权)人:华为技术有限公司
类型:发明
国别省市:94[中国|深圳]

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