用于确定输出到比较器的输入电压值的方法及光驱动电路技术

技术编号:2629110 阅读:241 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种用于确定输出到比较器的输入电压值的方法及光驱动电路。上述方法包括:用第一探针检测垫片来使上述垫片经由第一探针阻抗而接地;用第二探针检测上述垫片来测量上述垫片的电压值;提供调校电压给上述比较器的第二输入;以及基于当调校电压值实质上是等同于预定参考电压值与上述垫片的电压值的总和时的特定情况,调整数模转换器来决定自上述数模转换器输出到上述比较器的第一输入的上述电压值。本发明专利技术使用加大面积的测量垫片而非现有技术的其它垫片,用来建立多条接地路径通往测试工具,从而减小与测试工具接触不良所产生的阻抗效应,用来达到对信号测量的准确校准,来提高系统的制造优良率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术关于一个系统及其执行方法,特别是关于一种能够提供精准的信 号测量校准的光驱动系统及其执行方法,具体来说是关于一种用于确定输出 到比较器的输入电压值的方法及光驱动电路。
技术介绍
众所周知,在电路系统中,阻抗效应(Impedance Effect)经常会导致信号 测量结果不准确。阻抗效应的起因可能来自各种因素,例如包括对测试工具 不当的测量操作、在测试中测试工具与被测物之间异类金属的连接、周边干 扰或环境变动等等。对于目前的电路系统来说,具有信号测量的准确校准并 能消除阻抗效应的能力已被视为重要的性能指标之一。图1A揭示了一个现有技术的光驱动电路系统,其包括自动功率控制 (Automatic Power Control, APC)电路108、工作信号产生器101、反馈单元 105及形成于系统1上的多个测量垫片106、 107、 109与110。工作信号产生 器101包含发光装置(如激光二极管(LaserDiode, LD))与功率检测器,例 如光电二极管(Photodiode, PD),用来监视发光装置所发出的光线的输出功 率并基于上述输出功率逐步输出工作电压"Vin"。自动功率控制(APC)电路 108还包含比较单元102与数模转换器(Digital to Analog Converter, DAC)103 ,其中数模转换器103可依据需要设定参考电压"Vref",而比较单元102如同比较器(Comparator)具有两个输入1020、 1021来接收工作电压"Vin"和参考电压"Vref"、输出1023依据工作电压"Vin"和参考电压"Vref"之间的对比结果而输出目标电压"V加get"给激光二极管输出(Laser Diode Output, LDO),以及节点1022 分别连接到用于信号测量的两个测量垫片106和107。由于两个测量垫片106、 107连接到比较单元102的节点1022的电路配置,将使测量垫片106、 107与节点1022之间自然产生两个走线阻抗(Trace Resistance),如电阻"Rinl"与 "Rin2"。反馈单元105从比较单元102接收到目标电压"Vta^t",然后基于目标电 压"Vt^et"的电平变化,产生电流控制信号来调整工作信号产生器IOI的输出 工作电压"Vin"的逻辑电平。若工作电压"Vin"达到一个特定条件,例如拥有相 同于参考电压"Vref"的值/电平,则比较单元102的目标电压"Vtarget"的输出可 被反转成第一逻辑电平(例如低逻辑电平)来保持工作信号产生器101 (其 对于下一个操作周期未改变)的工作电压"Vin"输出的电平;否则,比较单元 102的目标电压"Vtarget"输出将可能位于第二逻辑电平(例如高逻辑电平), 用来在下一个操作周期中,指示/切换反馈单元105逐步更改工作信号产生器 101的工作电压"Vin"输出的电平。在自动功率控制(APC)电路108与工作信号产生器101和反馈单元105 电性连接之前,需要作信号测量校准,来减小自动功率控制电路108上可预 见的阻抗效应。测试工具104如参数测量单元(Parameter Measuring Unit, PMU)或伏特计会连着多个探针,其中包括两个分别接触测量垫片106与107 的探针(未图示),是用于测出测量垫片107上的电压值来作为信号校准用 的。类似的,在探针与各自测量垫片106、 107之间出现非理想化的接触,则 两个接触阻抗(Contacting Resistance)如电阻"Rin3,,和"Rin4"将在探针与各自 测量垫片106、 107之间自然产生。测试工具104将产生一个高阻抗输入。此 外,与测量垫片106相连接的其中一个探针是接地的。不过,在电路系统1 中,各测量垫片106、 107所占用的使用面积是被限定在大约50HmX50^iin, 并且探针之间的间距保持在大约40|am。请进一步参考图1B,自动功率控制电路108是用集成电路(IC)芯片形式 实施的。自动功率控制电路芯片108包含比较单元102、数模转换器103 (如 同图1A所示),与多个从上述自动功率控制电路芯片108延伸出的引脚, 例如电压引脚"VDD"、监控二极管输入("MDI")引脚、激光二极管输出("LDO")引脚,以及接地引脚1022 (如同图1A所示的比较单元102的节点 1022)。同样地,由于自动功率控制电路芯片108的接地引脚1022分别连接到两 个测量垫片106、 107,故形成一对走线阻抗如同两个电阻"Rinl"和"Rin2"。 在电路布局中,为了在自动功率控制电路芯片108封装(Packaged)之后测量垫 片106仍可用于接地,测量垫片106的位置相较于测量垫片107是距离自动 功率控制电路芯片108较远的,其中测量垫片107邻近调整电路(Trimming Circuit),这将使两个测量垫片106、 107产生不同的走线电阻(例如 Rin2<Rinl)。此外,由于探针与测量垫片106、 107之间的非理想化接触,会 产生一对接触阻抗如两个电阻"Rin3"和"Rin4",同时在测试工具104的信号 测量时形成一个高阻抗输入。由于探针接触所衍生的两个电阻"Rin3"和 "Rin4"会在自动功率控制电路芯片108的接地节点1022上贡献电压"V(js", 当自动功率控制电路芯片108开启时,接地节点1022上的"Vcjs"电压将增加 自动功率控制电路芯片108的工作电压输入"Vh"的电平偏移量(Potential Offset),而使自动功率控制电路芯片108的工作电压输入"Vin"的信号测量结 果不准确。因此,有必要参考垫片上的电压值来预先适当调整(Trimming)自动功率控制电路芯片108的工作电压输入"Vin"的电平偏移量。为了测量接地节点1022上的电压"Vc3s",测试工具104 (如PMU)仅需 直接测量出测量垫片107上的电压"V,7"即可作为接地节点1022上的电压 但"Vgs",而测试工具104本身会显示测量电压"Vp固"(即VPMU=VPU)7=VGS), 其中测试工具104的测量是利用最小电流"l2"(趋近于零)流过电阻"Rin2"和 "Rin4",而不论电阻"Rin2"和"Rin4"的电阻值是多少。像自动功率控制电路芯 片108封装之后,仅有测量垫片106接地,使电阻"Rin3"的电阻值可能变为 零,这将导致测量垫片106与接地节点1022之间可能产生大约14mv的电平 差。对于此案例而言,若期望自动功率控制电路芯片108在封装之后,输出 到自动功率控制电路芯片108的工作电压"Vin"的电平需要保持在185mv,则自动功率控制电路芯片108在封装之前,需要利用调整电路预先调整准备输 出到自动功率控制电路芯片108的调校电压(Ramping Voltage)"Vin"到 "185mv+(Vp107-14mv),,。在另一案例中,探针与测量垫片106之间一旦接触不良,则电阻"Rin3" 的电阻将立即变大而提高接地节点1022的电压"Vcjs"达到70mv 80mv的电 压范围。针对此结果,准备输出到自动功率控制电路芯片108的调本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于确定输出到比较器的第一输入的电压值的方法,其中上述比较器是电性连接到垫片上,上述方法包括步骤:    用第一探针检测上述垫片来使上述垫片经由第一探针阻抗而接地;    用第二探针检测上述垫片来测量上述垫片的电压值;    提供调校电压给上述比较器的第二输入;以及    基于当调校电压值实质上是等同于预定参考电压值与上述垫片的电压值的总和时的特定情况,调整数模转换器来决定自上述数模转换器输出到上述比较器的第一输入的上述电压值。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:张安男陈建铭
申请(专利权)人:联发科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1
相关领域技术
  • 暂无相关专利