新型光折射率检测仪制造技术

新型光折射率检测仪，属于对现有检测仪的改进。其特征是读数标尺与高度标尺垂直，高度标尺垂直位于微孔光栏的中心位置，光源发出的光经狭缝入射到微孔光栏，在被测介质的表面全反射，检偏器与全反射光保持正交，相对应的读数标尺上有全偏角的正切值，即所测折射率值。该仪器具有检测范围大、精度高，操作简单，降低工艺难度和材料成本等优点。可检测透明介质、不透明介质和液体的折射率，特别适用于检测珠宝玉器的折射率。（*该技术在2003年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本技术是一种光折射率检测仪，涉及各种介质折射率的检测
现有的用于检测各种珠宝玉器折射率的检测仪，是通过测量入射光经被测介质和一个检测半球的折射光的临界角，在相对应的读数标尺上测出低于半球材料折射率的其它介质材料的折射率(其不足之处在于)1、由于对检测半球材料的选用较为苛刻，难以寻找，即既要求折射率高，透明、耐腐蚀、无双折射，又要求加工容易等等，限制了仪器的检测范围，测量折射率范围仅在1.3～1.8之间，而且只能检测透明介质的折射率。2、由于是采用测量介质临界角来确定其介质的折射率，而波长不同其临界角的差异很大，其测量精度就低，如果采用单色光，可以解决临界角的差异，但须增加许多设备，提高数倍成本，难以普及。3、操作复杂，难以掌握，为了保证检测半球与被检介质表面之间，避免干涉，必须使用浸油，浸油多了不行，少了也不行。另外，浸油对半球具有腐蚀性，会很快使半球表面变化，而使整台仪器报废，4、对被检物的表面形状和透明度要求较严，要求被检物必须有一较大的平面和较高的透明度，以便贴紧半球，无法达到无损检测的要求。本技术的目的在于避免上述现有技术的不足而提供一种结构简单，使用方便，检测范围大，能达到无损检测便于普及的新型光折射率检测仪。本技术的目的可以通过以下措施来达到光源(1)发出的光经狭缝(2)入射到微孔光栏(3)，在被测介质(8)的表面全反射(K″)，检偏器(5)与反射光K″保持正交，相对应的读数标尺(6)上标有全偏角的正切值，即所测介质的折射率值，读数标尺(6)与高度标尺(4)保持90°位置，高度标尺(4)垂直位于微孔光栏(3)的中心位置。本技术的目的还可以通过以下措施来达到光源(1)可在水平方向移动。入射光的入射角θ0＝45°～70°。窄带滤光镜(9)置于狭缝(2)前面。 附图说明图1为本技术光路图。图2为本技术结构图。本技术下面将结合附图作进一步详述如图1所示当入射光(K)达到被测介质(8)的临界角时，反射光K″等于全偏振光Ep″，全偏角与介质折射角正好是90°。利用检偏器找到介质(8)的全偏角，而该角的正切值即为介质(8)的折射率值。如图2所示被测介质置于万向微调工作台(7)上，读数标尺(6)与高度标尺(4)保持垂直，高度标尺(4)垂直位于微孔光栏(3)的中心位置。点光源(1)发出的光(K)经窄带滤光镜(9)和狭缝(2)入射到微孔光栏(3)，经被测介质(8)的表面反射。移动光源(1)，入射角发生变化(θ0＝45°～70°)，则反射角随之变化，当反射角度达到被检介质的临界角时，其反射光K″等于全偏振光(Ep″)，检偏器(5)与全偏振光(Ep″)保持正交，此时透过检偏器的反射光K″变暗(或消失)，在读数标尺(6)上对应于这一暗点(或消失点)的全偏角的正切值就是被测介质的折射率值可直接读出。本技术相比已有技术具有如下优点 1、检测范围大，一般折光仪上能检1.3～1.8之间的n值，本专利技术可检1～2.7的n值，因而提高了仪器的适应性和使用范围。尤其适用于检测各种珠宝玉器的折射率。2、扩大了使用范围，除了可以检测透明介质的折射率外，还可以检测液体和不透明介质的折射率以及金属材料和消光系数。3、提高了检测精度，本专利技术从根本上避免了不同波长折光的干扰，从而使本专利技术粗测可保证小数点2位数，精测可保证小数点四位数。4、简化了操作，本专利技术不再需要浸油消除空气干涉，读数也较为方便。5、降低了生产成本，提高了仪器的可靠性，各部件的工艺难度和材料成本，都低于
技术介绍
，因而在投入大规模生产后，能得到有效的普及。权利要求1.一种包括光源和读数标尺的新型光折射率检测仪，其特征在于读数标尺(6)与高度标尺(4)保持垂直，高度标尺(4)垂直位于微孔光栏(3)的中心位置，光源(1)发出的光(K)经一狭缝(2)入射到微孔光栏(3)，在被测介质(8)的表面全反射，检偏器(5)与全反射光(K″)保持正交，相对应的读数标尺(6)上有全偏角的正切值，即所测介质的折射率值。2.如权利要求1所述的新型光折射率检测仪，其特征在于光源(1)可在水平方向移动。3.如权利要求1所述的新型光折射率检测仪，其特征在于入射光的入射角为45°－70°。4.如权利要求1所述的新型光折射率检测仪，其特征在于窄带滤光镜(9)置于狭缝(2)前面。专利摘要新型光折射率检测仪，属于对现有检测仪的改进。其特征是读数标尺与高度标尺垂直，高度标尺垂直位于微孔光栏的中心位置，光源发出的光经狭缝入射到微孔光栏，在被测介质的表面全反射，检偏器与全反射光保持正交，相对应的读数标尺上有全偏角的正切值，即所测折射率值。该仪器具有检测范围大、精度高，操作简单，降低工艺难度和材料成本等优点。可检测透明介质、不透明介质和液体的折射率，特别适用于检测珠宝玉器的折射率。文档编号G01N21/41GK2178895SQ9323974公开日1994年10月5日 申请日期1993年12月22日 优先权日1993年12月22日专利技术者高力 申请人:高力本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种包括光源和读数标尺的新型光折射率检测仪，其特征在于读数标尺（６）与高度标尺（４）保持垂直，高度标尺（４）垂直位于微孔光栏（３）的中心位置，光源（１）发出的光（Ｋ）经一狭缝（２）入射到微孔光栏（３），在被测介质（８）的表面全反射，检偏器（５）与全反射光（Ｋ″）保持正交，相对应的读数标尺（６）上有全偏角的正切值，即所测介质的折射率值。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：高力，
申请(专利权)人：高力，
类型：实用新型
国别省市：51[中国|四川]