一种压制x-射线荧光分析测试样片的样品托制造技术

一种压制ｘ－射线荧光分析测试样片的样品托，涉及用于ｘ－射线荧光分析技术中难以压制成型的固体物料样片制备的样品托。其特征在于其样品托的结构为外壁与压片模具内腔壁相配合的、上端敞口的盒状样品托。本实用新型专利技术的盒状样品托可由价格低廉的易拉罐等废铝片压制而成，代替了成本较高的化学试剂，减少了压制样品片被污染的可能性，减少了测量的误差，减少了样片表面的花面、表面跑料、表面不均匀、提高样片表面的光滑度、解决样片高度不够和内部不均匀、减少操作难度、降低分析成本、提高了分析速度。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

一种压制x-射线荧光分析测试样片的样品托
一种压制x-射线荧光分析测试样片的样品托，涉及用于x-射线荧光分析技术中难以压制成型的固体物料样片制备的样品托。技术背景目前，x-射线荧光分析技术已经成为碳素、冶金、地质、食品、医药、钢铁等领域固体物料分析中主要的检验方法，特别是对疑难杂样的半定量分析检验、 判断有独特的优势。在粉状样品分析检验过程中，需要将样品压制成片状后， 再进行测量。在测量成分分布不均匀的固体样品时，通常也需要将样固体样品破碎成粉状，再压制成分布均匀品片，才能在X-射线荧光光谱仪仪器上进行检验。传统的制样方法，是将测试样品粉状物料放入压片模具内，再加入硼酸等 等化学试剂，进行压制；将测试样品粉状物料压制成片，并在成片的测试样片 一形成环状或倒扣的盒状硼酸等化学试剂层；利用这种方法制得的样品片经常 会出现测试样品样片与硼酸等化学试剂层间偏心、跑料、花面现象，或使样品 的高度不够，或硼酸等化学试剂层坏损现象，导致分析测量数据不准；由于样 片表面、外观不合格，样品的实际厚度没有达到仪器分析的要求，会严重影响 分析质量和分析结果的判定。
技术实现思路
本技术的目的就是针对上述已有技术存在的不足，提供一种能有效克 服样片偏心、跑料、花面现象，或使样品的高度不够，或硼酸等化学试剂层坏 损现象，有效提高分析测量数据准确性的压制x-射线荧光分析测试样片的样品托。本技术的目的是通过以下技术方案实现的。一种压制x-射线荧光分析测试样片的样品托，其特征在于其样品托的结构为外壁与压片模具内腔壁相配合的、上端敞口的盒状样品托。本技术的一种压制x-射线荧光分析测试样片的样品托，其特征在于所述的样品托的壁厚度为0.2.-0.5mm。本技术的盒状样品托可由价格低廉的易拉罐等废铝片压制而成，代替了 成本较高的化学试剂，由于化学试剂做的环厚度一般为l-1.5mm，而本技术 的压制而成的样品片环面厚度只有0.2,0.5111111，有效增大了测量面增大；其样品 托样品托与压片机的内筒大小一样，不会发生跑料现象；且由于制样方法的改 进，也改变了测量面，由测量压制样品片下表面变成了测量压制样品片上表面。 测量表面的变化，使得操作人员对压制测量面的模具，更加容易清理，减少了 压制样品片被污染的可能性，减少了测量的误差，减少了样片表面的花面、表 面跑料、表面不均匀、提高样片表面的光滑度、解决样片高度不够和内部不均 匀、减少操作难度、降低分析成本、提高了分析速度。附图说明图1为本技术的结构示意图。 图2为图1的俯视图。具体实施方式一种压制x-射线荧光分析测试样片的样品托，其样品托的结构为外壁与压 片模具内腔壁相配合的、上端敞口的盒状样品托1，样品托的壁厚度为 0,2广0.5mm。 实施例1测试碳素样品，先在压片模具内放入与压片模具内腔尺寸相配合的盒状样 品托，再放入待测试样品的粉状物料进行模压制片；由新的制样方法制成的样 品片和普通方法制成的样品片，经过比较，新的制样方法制成的测试样品厚度 在4-5个毫米之间，可以保证X-射线荧光光谱仪的测量要求(4个毫米)；普通 方法制成的样品片厚度不均匀，厚度在3-4之间，不能保证在X-射线荧光光谱 仪上测量要求。权利要求1.一种压制x-射线荧光分析测试样片的样品托，其特征在于其样品托的结构为外壁与压片模具内腔壁相配合的、上端敞口的盒状样品托。2. 根据权利要求1所述的一种压制x-射线荧光分析测试样片的样品托，其特 征在于所述的样品托的壁厚度为0.2.-0.5mm。专利摘要一种压制x-射线荧光分析测试样片的样品托，涉及用于x-射线荧光分析技术中难以压制成型的固体物料样片制备的样品托。其特征在于其样品托的结构为外壁与压片模具内腔壁相配合的、上端敞口的盒状样品托。本技术的盒状样品托可由价格低廉的易拉罐等废铝片压制而成，代替了成本较高的化学试剂，减少了压制样品片被污染的可能性，减少了测量的误差，减少了样片表面的花面、表面跑料、表面不均匀、提高样片表面的光滑度、解决样片高度不够和内部不均匀、减少操作难度、降低分析成本、提高了分析速度。文档编号G01N23/22GK201122138SQ20072019085公开日2008年9月24日 申请日期2007年12月17日 优先权日2007年12月17日专利技术者孙洪斌, 倩 梁, 勇 石 申请人:中国铝业股份有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种压制ｘ－射线荧光分析测试样片的样品托，其特征在于其样品托的结构为外壁与压片模具内腔壁相配合的、上端敞口的盒状样品托。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：梁倩，石勇，孙洪斌，
申请(专利权)人：中国铝业股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：11[中国|北京]