纵波联合双晶软保护直探头制造技术

技术编号:2614183 阅读:335 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
纵波联合双晶软保护直探头,圆柱形直探头筒体,其尾端有接线端子,另一端为镶嵌于金属筒体中的有机玻璃材质的延迟块,延迟块与直探头筒体间为一凸缘,其特征在于,一带有外螺纹的筒套,靠紧凸缘根部套紧在延迟块的金属筒体上,金属制的端盖端面为一圆孔,端盖内壁上有内螺纹,其内螺纹与筒套的外螺纹相匹配,拧接在筒套上,圆片状的软保护膜盖在延迟块端面,夹在端盖圆孔与延迟块端面间的环形缝隙中。(*该技术在2004年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本技术属于超声波探测探头。目前,检测金属内部缺陷多采用超声波纵波直探头或纵波联合双晶直探头进行探测。纵波联合双晶直探头有圆柱形直探头筒体(2)、其尾端有接线端子(1)、另一端为镶嵌于金属筒体中的有机玻璃材质的延迟块(6),延迟块与直探头筒体间为一凸缘(3)(附图说明图1),纵波联合双晶直探头探测无盲区,确保了金属近表面层区的内在质量,并可消除粗晶反射所造成的探测误差,提高测量的准确性,但纵波联合双晶直探头的延迟块为有机玻璃材质,镶嵌于探头工作端金属筒体中,对金属体进行探测时,探头垂直于金属表面,有机玻璃材质的延迟块在被检测的金属表面上往复移动,与金属表面直接摩擦,有机玻璃材质的延迟块很快磨损,造成探头工作寿命短,此外,当有机玻璃延迟块的表面由于磨损不均造成端面倾斜,或成圆弧、凹面时,都将产生探测灵敏度的降低,严重时将造成波型转换,而无法对金属内部进行探测,因此需对延迟块经常进行修磨,更加速了探头的报废;对于热金属的表面无法探测,例如热轧工序热轧后卸下的轧辊。本技术为了克服纵波联合双晶直探头延迟块磨损过快的缺点,设计了一种延迟块端面复盖一软保护膜的纵波联合双晶软保护直探头,显著提高纵波联合双晶直探头的使用寿命及探测的质量。本技术的构思是,一个带有外螺纹的筒套,靠紧凸缘根部套紧在镶嵌有机玻璃延迟块的金属筒体上,一个金属制的端盖,其端面为一圆孔,端盖内壁有与筒套螺纹相匹配的内螺纹,端盖拧接在筒套上,圆片状的软保护膜盖在延迟块端面,夹在端盖圆孔与延迟块端面间的环形缝隙中(图5)。带有外螺纹的筒套,可用尼龙或塑料制成,其内径等于镶嵌延迟块的金属筒体的直径,其轴向长度比镶嵌延迟块的金属筒体的轴向长度短3~5mm(图3),金属制的端盖,其端面为一圆孔,端盖内壁上有内螺纹,端盖内壁上的内螺纹与筒套上的外螺纹相同。圆片状的软保护膜盖在延迟块端面上,端盖在筒套上旋紧后,延迟块端面轴向伸出端盖圆孔1~1.5mm,圆片状软保护膜夹在端盖圆孔与延迟块端面间的环形缝隙中,被固定在延迟块的端面上。采用纵波联合双晶直探头探测金属内部缺陷,由于有软保护膜复盖在有机玻璃材质的延迟块端面上,探头在金属表面上往复移动,由软保护膜与金属表面摩擦,从而有效地保护了有机玻璃材质的延迟块,软保护膜为可更换件,且价格低廉,可明显延长纵波联合双晶直探头的使用寿命,一只纵波联合双晶软保护直探头的使用寿命比纵波联合双晶直探头的使用寿命提高30倍以上。附图及实施例图1纵波联合双晶直探头示意图1.接线端子2.纵波联合双晶直探头筒体3.凸缘6.延迟块图2纵波联合双晶直探头侧视图图3筒套图4端盖图5纵波联合双晶软保护直探头示意图1.接线端子2.纵波联合双晶直探头筒体3.凸缘4.端盖5.筒套6.延迟块7.软保护膜实施例纵波联合双晶软保护直探头,镶嵌有机玻璃材质延迟块的金属筒体直径φ1=28.42mm,轴向长度b=12mm,筒套用尼龙制成,其内径φ2=28.42mm,其轴向长度a=9mm,其外径为36mm,筒套外壁上有M36螺纹,筒套靠紧延迟块根部套紧在延迟块金属筒体上,铜质的端盖,其端面有一与镶嵌有机玻璃延迟块的金属筒体直径相应的孔,端盖内壁有M36的螺纹,圆片状的耐油、耐热软保护膜盖在延迟块端面上,端盖拧接在筒套上,延迟块金属筒体轴向伸出端盖圆孔1.5mm,软保护膜夹在端面圆孔与延迟块端面间的环形缝隙中,固定在延迟块端面上,形成纵波联合双晶软保护直探头,用于工作后卸下的热轧轧辊辊身的探伤,尤其适用于对各种金属工件的近表面探伤。权利要求1.纵波联合双晶软保护直探头,圆柱形直探头筒体,其尾端有接线端子,另一端为镶嵌于金属筒体中的有机玻璃材质的延迟块,延迟块与直探头筒体间为一凸缘,其特征在于,一带有外螺纹的筒套,靠紧凸缘根部套紧在延迟块的金属筒体上,金属制的端盖端面为一圆孔,端盖内壁上有内螺纹,其内螺纹与筒套的外螺纹相匹配,拧接在筒套上,圆片状的软保护膜盖在延迟块端面,夹在端盖圆孔与延迟块端面间的环形缝隙中。2.根据权利要求1所述的纵波联合双晶软保护直探头,其特征在于,所说的筒套,其轴向长度比镶嵌延迟块金属筒体的轴向长度短3~5mm,其内径等于镶嵌延迟块的金属筒体的直径。3.根据权利要求1所述的纵波联合双晶软保护直探头,其特征在于,所说的端盖的内螺纹与筒套的外螺纹相同,端盖在筒套上旋紧后,延迟块端面轴向伸出端盖圆孔1~1.5mm。专利摘要纵波联合双晶软保护直探头,在探头工作端镶嵌有机玻璃材质延迟块的金属筒体上套一带有外螺纹的套筒,有一端面为一圆孔的端盖,其内壁上有与筒套外螺纹相同的内螺纹,一圆片状的软保护膜盖在延迟块端面上,端盖拧在筒套上,延迟块金属筒体轴向伸出端盖孔,软保护膜夹在端盖圆孔与延迟块间的环形缝隙中。纵波联合双晶软保护直探头用于对金属件内部的探伤,其使用寿命长,为双晶直探头使用寿命的30倍。文档编号G01N29/24GK2214671SQ9423970公开日1995年12月6日 申请日期1994年11月22日 优先权日1994年11月22日专利技术者杜国华 申请人:宝山钢铁(集团)公司本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员:杜国华
申请(专利权)人:宝山钢铁股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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