光学对点器校正仪制造技术

本发明专利技术“光学对点器校正仪”是一种专用于测绘领域中对光学经纬仪、电子经纬仪和全站仪的光学对点器进行高效率检查与校正的专用设备。通过“光学对点器校正仪”对光学对点器的检查，确定光学对点器的偏移量从而进行改正。本发明专利技术操作简单、方便、快捷、性能可靠。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测绘仪器
包括光学经纬仪、电子经纬仪和全站仪光学对点器的检 验与校正。
技术介绍
目前国内外仪器生产厂和使用单位对光学经纬仪、电子经纬仪和全站仪光学对点器一般 采用两种办法进行检验校正1、 平行光管固定式校正法，对被检光学对点器强制校IH，此办法受光管结构限制，当 光管分划板受震动等因素变化时，被检光学对点器无法校正。不具备通用性。2、 实际观测法，需要将仪器放在固定在脚架上，按仪器使用的规程操作，操作者要有 丰富的经验，并且要长时间站立操作。当检测多台仪器时，存在着劳动强度大、费时、费力 等缺点。
技术实现思路
本专利技术(光学对点器校正仪)是一种检测光学经纬仪、电子经纬仪和全站仪光学对点器 的专用设备。可以高效、准确地测定光学对点器的投点偏差，为光学对点器的提供改正依据。本专利技术的技术方案是本专利技术根据平行光管原理，使用25倍焦距、130mm望远镜投制成专用平行光管，在光管 内设置两块刻有十字丝的分划板，调节和分划板相连的两个微动螺丝，即可使分划板沿相互 垂直的两个方向的微动，测出被检对点器的投点偏差。本专利技术(光学对点器校正仪)以6V 照明灯为光源，平行光管筒底部装有两个滚动轴承、 一个压力轴承和一个制动钮，可确保光 管筒灵活平稳地转动和制动。本专利技术的有益效果是-1、 提高检校精度。由于受各种因素的影响，用常规方法检校光学对点器在0.5m和1.8m 两点距离上保证其最小对点偏差小于2mm是较困难的。而用光学对点器校正仪来检校调整就 容易得多，完全满足和提高了对点器投点精度要求(偏移小于lmm)。2、 减轻了劳动强度。用常规方法检校光学对点器，操作者长时间站立并随仪器转动， 劳动强度大。用光学对点器校正仪来检校，操作者坐在工作台前，经纬仪安装到光学对点器 校正仪上后，光学对点器目镜与人眼处于同一平面上，被检仪器无需安平，操作者只需转动 光管'筒，即可灵活地对光路进行调整。3、 提高了工作效率。常规方法检校一台对点器需20分钟，用光学对点器校JH仪校正仅 需5 10分钟即可完成。4、 灵巧方便。光学对点器校正仪结构简单、操作灵活、性能稳定、对操作者无特殊要 求。其工作准确性，可靠性均优于常规检校方法。附图说明-图1是光学对点器校正仪剖面图1、 M16螺丝，固定被测仪器用；2、 光学镜头，使光源发出的光通过后形成平行光束；3、 两套分划板和微动螺丝，用以完成两个分划板沿相互平行方向的微动调节；4、 两个滚动轴承、 一个压力轴承和一个制动钮，可确保被检仪器灵活平稳地转动和第( 动.'5、 6V照明灯泡，为检测提供光源；6、 基座，可以进行仪器整平；7、 分划板I;8、 分划板II;9、 光管筒；10、 光管筒制动钮。图2是分划板移动示意图1、 对点器分划圆投影；2、 分划板l;3、 光管中分划板符合时。图3是对点器光轴改正原理图1、 对点器像；2、 光板分划板像。具体实施例方式'1、手持经纬仪，让经纬仪底部中心螺旋孔对准检校仪上部的M16螺丝，转动光管筒使 其旋紧，粗略安平经纬仪使光学对点器光轴进入检校仪光管筒内。操作者坐在检校仪前，在 检校过程中，光学对点器目镜朝向操作者，接通6v电源。2、 调整光学对点器焦距，看清分划板I，转动光筒上分划板I移动的两个互相垂直的微 动螺旋，，使分划板I的十字丝交点与光学对点器分划板上的分划圆符合如图2。3、 转动光管筒180度，锁紧光管筒上制动扭，观察对点器分划圆与分划板I的符合轴 轴线。旋转光管筒，如果两者未发生偏移(图3)，说明对点器光轴在0.5m范围内与经讳仪 水平旋转轴轴线相交或重合。如偏移至P'，则表明对点器分划圆与分划板I的十字丝在x轴 上偏离了L，在y轴上偏离了H，说明了对点器光轴与经纬仪水平旋转轴不重合(如图2)。4、 这时，用光管筒上控制分划板1移动的两个微动螺旋，分别改正偏移量的L/2和H/2， 使P'移位P"。5、 分划板i调整完毕后，再用光学对点器看清分划板n,重复上述操作。当分划板i、 n都调整完毕后，这时已把分划板i、 ii的十字丝焦点调整到经纬仪水平旋转轴。权利要求一种用于测绘仪器的高效检校设备。其特点是1、利用平行光管的原理，在转筒里面加装了一个望远镜镜头，能清晰显示校正过程；1、 利用平行光管的原理，在转筒里面加装了一个望远镜镜头，能清晰显示校正过程；2、 设计了二块可移动的分划板，校正对点器时，移动分划板转动光学对点器校正仪外 转筒，和设置在转筒内的两快分划板来检査与校正光学对点器；3、 两套分划板和微动螺丝，用以完成两个分划板沿相互平行方向的微动调节。全文摘要本专利技术“光学对点器校正仪”是一种专用于测绘领域中对光学经纬仪、电子经纬仪和全站仪的光学对点器进行高效率检查与校正的专用设备。通过“光学对点器校正仪”对光学对点器的检查，确定光学对点器的偏移量从而进行改正。本专利技术操作简单、方便、快捷、性能可靠。文档编号G01M11/00GK101183040SQ20061015101公开日2008年5月21日 申请日期2006年11月13日 优先权日2006年11月13日专利技术者唐晓新, 雷 赵 申请人:赵 雷;唐晓新本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测绘仪器的高效检校设备。其特点是：利用平行光管的原理，在转筒里面加装了一个望远镜镜头，能清晰显示校正过程；。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵雷，唐晓新，
申请(专利权)人：赵雷，唐晓新，
类型：发明
国别省市：93[中国|哈尔滨]