一种红外热波无损检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种红外热波无损检测装置，包括检测台面，放置被检测工件的组件，设置在检测台面上，静支架，连接在静支架上的动支架，连接在动支架上的热激励模块，该模块内呈阵列设置数个位置可调的闪光灯模块。与现有技术相比，本发明专利技术可以解决热激励无法正对着工件的被检测面的问题和被检测面为曲面时热激励不均匀的问题。

An Infrared Thermal Wave Nondestructive Detection Device

【技术实现步骤摘要】
一种红外热波无损检测装置
本专利技术涉及一种检测装置，尤其是涉及一种红外热波无损检测装置。
技术介绍
红外热波无损检测的工作原理是用闪光灯对被检测物体表面进行加热，由于缺陷处的热阻与其他部位不同，于是缺陷处就会产生与正常部位不同的温度变化，此时通过红外热像仪对被测物体表面进行观测，就可以得到被检测物体的缺陷信息。但是此技术对被检测物体的外形要求较高，对于外形不是足够规则的被检测物，会出现热激励不均匀的问题。而且会出现在工件自然摆放的情况下热像仪难以正对着工件需要检测的某个表面的情况。例如中国专利CN102590220A公开了一种红外无损检测装置，包括激光调制系统，热成像系统以及电子测量系统，述激光调制系统由红外激光管构成，其向测量物件发出红外光，所述热成像系统采用CCD线阵传感器，其接收测量物件辐射的光信号，并进一步转换为电信号，所述电子测量系统由MCU主控电路构成，其接收所述CCD线阵传感器的输出电信号，并进行处理。但是该专利仍然无法解决热激励不均匀的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种红外热波无损检测装置。本专利技术的目的可以通过以下技术方案来实现：一种红外热波无损检测装置，包括：检测台面，放置被检测工件的组件，设置在检测台面上，静支架，连接在静支架上的动支架，连接在动支架上的热激励模块，该模块内呈阵列设置数个位置可调的闪光灯模块。所述热激励模块包括设置在朝向被测工件方向的平面内，呈阵列排布的数个闪光灯模块、设置在阵列中心位置的热像仪。单个闪光灯在工作时，温度场向四周递减。而采用闪光灯阵列时，平整的被检测物表面上一点的温度受周围几个灯泡的综合影响，该点离某些闪光灯近时，必定离其他的闪光灯远，反之亦然。因此在红外灯泡辐射的有效空间内，各个红外灯泡的辐射会相互叠加，可减小由红外灯泡产生的热波温度场的空间梯度，同时提高了热波的温升。本专利技术采用六个闪光灯模块进行有规律的排布，则不仅会大大提高热波辐射的空间范围和一次检测面积，还能更有效的减小空间梯度。所述闪光灯模块包括电机、螺纹杆、连接架、距离传感器、闪光灯，所述螺纹杆经所述电机驱动，所述连接架与所述螺纹杆啮合连接，这种传动方式使得螺纹杆的横向转动，转变成连接架的纵向直线运动，所述连接架与螺纹杆连接的相对侧面上连接所述距离传感器及闪光灯。所述检测台面的上表面设置导轨。所述放置被检测工件的组件包括移动盘及转盘，所述移动盘的两侧连接在导轨上，沿导轨滑动，所述转盘设置在移动盘上，转盘上放置被检测工件。所述静支架上设置与减速电机连接的驱动齿轮，该驱动齿轮与设置在动支架齿轮啮合连接。所述动支架上设置有轴，该轴与齿轮键连接，两者之间无相对运动。所述热激励模块固联在所述轴上，可以跟着轴一起转动。与现有技术相比，本专利技术可以解决热激励无法正对着工件的被检测面的问题和被检测面为曲面时热激励不均匀的问题，在使用时，呈阵列设置的数个闪光灯模块中的各闪光灯经距离传感器感应距离后均可以独立调整位置，最终每个闪光灯模块与被检测表面的距离都相同。附图说明图1为本专利技术的结构示意图；图2为热激励模块的结构示意图；图3为闪光灯模块的结构示意图；图4为闪光灯模块的控制示意图。图中，1-热激励模块、2-动支架、3-转盘、4-长桌、5-移动盘、6-静支架、7-齿轮、8-轴、9-驱动齿轮、10-螺纹杆、11-连接架、12-距离传感器、13-闪光灯、14-螺纹孔、15-电机、16-闪光灯模块、17-热像仪、18-控制中心。具体实施方式下面结合具体实施例对本专利技术进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本专利技术，但不以任何形式限制本专利技术。应当指出的是，对本领域的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进。这些都属于本专利技术的保护范围。实施例红外热波无损检测装置，其结构如图1所示，包括一个两侧带有导轨的长桌4，移动盘5沿着长桌4上的导轨作直线运动，移动盘5上有一转盘3，转盘3用来放置被检测工件。静支架6设置在长桌的一侧，内部的电动推杆带着动支架2做垂直方向上的直线运动。动支架2内部的减速电机的驱动齿轮9转动，驱动齿轮9与轴8上的齿轮7啮合。齿轮7与轴8是键连接，即两者无相对运动。热激励模块1也固联在轴8上，可以跟着轴8一起转动。热激励模块1的结构如图2所示，包括设置在朝向被测工件方向的平面内，呈阵列排布的数个闪光灯模块16、设置在阵列中心位置的热像仪17。单个闪光灯在工作时，温度场向四周递减。而采用多个闪光灯形成阵列时，平整的被检测物表面上一点的温度受周围几个灯泡的综合影响，该点离某些闪光灯近时，必定离其他的闪光灯远，反之亦然。因此在红外灯泡辐射的有效空间内，各个红外灯泡的辐射会相互叠加，可减小由红外灯泡产生的热波温度场的空间梯度，同时提高了热波的温升。本专利技术采用六个闪光灯模块进行有规律的排布，则不仅会大大提高热波辐射的空间范围和一次检测面积，还能更有效的减小空间梯度。如本实施例中，一共设有六个闪光灯模块16，按2行3列布局，在阵列中心位置设置有热像仪17。闪光灯模块16的结构如图3所示，包括电机15、螺纹杆10、连接架11、距离传感器12、闪光灯13，电机15工作时带动螺纹杆10转动，螺纹杆10与带有螺纹孔14的连接架11啮合，这种传动方式使得螺纹杆10的横向转动，转变成连接架的11纵向直线运动。连接架11与螺纹杆10连接的相对侧面上连接距离传感器12及闪光灯13。本专利技术在使用时，将工件放在转盘3上，调整转盘3，使得试件的被检测面被调到合适位置。上下移动动支架2，并同时调整热激励模块1的角度，使热激励模块1正对着被检测面。这样就解决了有着不规则外形的试件在自然摆放时，热激励无法正对着被检测面而导致的检测效果差的问题由于被检测的表面不一定是平面，所以六个闪光灯模块16与被检测面的距离不一定是相同的，这样热激励模块产生的热激励是不均匀的。因此在进行检测时，闪光灯模块16中的距离传感器12首先开始工作，将闪光灯13与被检测面的距离信息传递给控制中心18，再由控制中心18处理数据后，分别给六个闪光灯模块16块中的电机不同的工作时间，如图4所示。由于电机的转速都相同，螺纹杆也相同，根据(S螺纹杆垂直方向上移动的长度，l为螺旋的导程，为螺纹杆转过的角度)，但由于电机的工作时间不同，所以螺纹杆转过的角度不同，故螺纹杆垂直方向上移动的长度不同。控制中心给出正确的电机工作时间后，每个闪光灯模块开始调整位置，最终每个闪光灯模块与被检测表面的距离都相同，这样就解决了被检测面为曲面时，热激励不够均匀的问题。上述的对实施例的描述是为便于该
的普通技术人员能理解和使用专利技术。熟悉本领域技术的人员显然可以容易地对这些实施例做出各种修改，并把在此说明的一般原理应用到其他实施例中而不必经过创造性的劳动。因此，本专利技术不限于上述实施例，本领域技术人员根据本专利技术的揭示，不脱离本专利技术范畴所做出的改进和修改都应该在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种红外热波无损检测装置，其特征在于，该检测装置包括：检测台面，放置被检测工件的组件，设置在检测台面上，静支架，连接在静支架上的动支架，连接在动支架上的热激励模块，该模块内呈阵列设置数个位置可调的闪光灯模块。

【技术特征摘要】
1.一种红外热波无损检测装置，其特征在于，该检测装置包括：检测台面，放置被检测工件的组件，设置在检测台面上，静支架，连接在静支架上的动支架，连接在动支架上的热激励模块，该模块内呈阵列设置数个位置可调的闪光灯模块。2.根据权利要求1所述的一种红外热波无损检测装置，其特征在于，所述热激励模块包括设置在朝向被测工件方向的平面内，呈阵列排布的数个闪光灯模块、设置在阵列中心位置的热像仪。3.根据权利要求1或2所述的一种红外热波无损检测装置，其特征在于，所述闪光灯模块包括电机、螺纹杆、连接架、距离传感器、闪光灯，所述螺纹杆经所述电机驱动，所述连接架与所述螺纹杆啮合连接，所述连接架与螺纹杆连接的相对侧面上连接所述距离传感器及闪光...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨慧，李达，秦乾坤，曹达敏，李清英，
申请(专利权)人：上海工程技术大学，
类型：发明
国别省市：上海,31