机匣弹匣井与机匣大槽对称度的检测装置及其检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种结构简单、快捷准确的机匣弹匣井与机匣大槽对称度的检测装置及其检测方法。它包括第一基准体、竖向设置在所述第一基准体上的第二基准体、定位体，所述第一基准体的左、右两侧分别设有相互平行的左基准平面、右基准平面，第一基准体的左基准平面与右基准平面之间的距离大于机匣的左右宽度，所述第二基准体的左侧设有与第一基准体的左基准平面平行的左定位平面，第二基准体的右侧设有定位斜面，第二基准体的定位斜面、左定位平面和第二基准体的顶面围合成一个上宽下窄的楔形，所述定位体的右侧设有与所述第一基准体的右基准平面平行的右定位平面，定位体的左侧设有可与第二基准体的定位斜面滑动配合的调节斜面。

Detection Device and Detection Method of Symmetry Degree between Casing Magazine Well and Casing Large Groove

【技术实现步骤摘要】
机匣弹匣井与机匣大槽对称度的检测装置及其检测方法
本专利技术属于枪械机匣
，涉及一种机匣弹匣井与机匣大槽对称度的检测装置及其检测方法。
技术介绍
机匣弹匣井宽相对机匣大槽宽对称度是一个重要尺寸项目，对产品的装配、可靠性、精度均有影响，尤其是对可靠性的影响比较突出。传统检测方式为刚性量具检测，量具遵循最大实体原则设计，对机匣弹匣井宽、机匣大槽宽自身公差影响不能排除，且只能定性判断合格与不合格，对称度具体程度没有定量的数据表达。而随着技术发展，三坐标检测设备的出现，能够检测出对称度的数据值，且精度较高，但是设备昂贵、配备少，不适用由大批量生产中的高频次检测，因此需要一种简单、快捷、准确的对称度装置及方法，解决对称度定量检测瓶颈问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种结构简单、快捷准确的机匣弹匣井与机匣大槽对称度的检测装置及其检测方法。本专利技术的目的是这样实现的：一种机匣弹匣井与机匣大槽对称度的检测装置，其特征在于，包括第一基准体、竖向设置在所述第一基准体上的第二基准体、定位体，所述第一基准体的左、右两侧分别设有相互平行的左基准平面、右基准平面，第一基准体的左基准平面与右基准平面之间的距离大于机匣的左右宽度，所述第二基准体的左侧设有与第一基准体的左基准平面平行的左定位平面，第二基准体的右侧设有定位斜面，第二基准体的定位斜面、左定位平面和第二基准体的顶面围合成一个上宽下窄的楔形，所述定位体的右侧设有与所述第一基准体的右基准平面平行的右定位平面，定位体的左侧设有可与第二基准体的定位斜面滑动配合的调节斜面，定位体移动至上极限位置时，第二基准体的左定位平面与定位体的右定位平面之间的距离大于机匣弹匣井的左右宽度，定位体移动至下极限位置时，第二基准体的左定位平面与定位体的右定位平面之间的距离小于机匣弹匣井的左右宽度。优选地，所述第一基准体上设有竖向的调节孔，调节孔中螺纹配合有调节螺钉，用于驱动定位体向上移动。优选地，所述第二基准体的定位斜面与左定位平面的夹角为8°。上述的机匣弹匣井与机匣大槽对称度的检测装置的检测方法，其特征在于，首先，将机匣弹匣井的一侧与第二基准体的左定位平面接触贴平，然后旋转调节螺钉，驱动定位体在第二基准体的定位斜面上向上移动，待第二基准体的左定位平面与定位体的右定位平面之间的距离等于机匣弹匣井的左右宽度时，测出第一基准体的左基准平面距第二基准体的左定位平面的距离A、第二基准体的左定位平面距第一基准体的右基准平面的距离B、第二基准体的左定位平面距定位体的右定位平面的距离C，然后将第一基准体的左基准平面置于水平面上，测出水平面距机匣大槽左侧面的距离M，然后将第一基准体的右基准平面置于水平面上，测出水平面距机匣大槽右侧面的距离N，然后通过公式t＝C+A-B+N-M,得到机匣弹匣井相对机匣大槽的对称度值t。由于采用了上述技术方案，本专利技术具有如下有益效果：本专利技术通过调节螺钉控制定位体调节斜面在第二基准体定位斜面上滑动，调节第二基准体的左定位平面与定位体的右定位平面之间的距离，从而“夹紧”机匣弹匣井，再测出第一基准体的左基准平面距第二基准体的左定位平面的距离A、第二基准体的左定位平面距第一基准体的右基准平面的距离B、第二基准体的左定位平面距定位体的右定位平面的距离C、水平面距机匣大槽左侧面的距离M，然后将第一基准体的右基准平面置于水平面上、水平面距机匣大槽右侧面的距离N，代入公式便可计算出对称度。本专利技术可替代传统刚性量具和现代三坐标检测，较刚性量具提高了检测准确性，较三坐标设备使用方便快捷、效率高。附图说明图1是本专利技术的结构示意图；图2是本专利技术中第一基准体和第二基准体的结构示意图；图3是本专利技术中定位体的结构示意图；图4是本专利技术检测时的示意。附图标记附图中，1为第一基准体，11为左基准平面，12为右基准平面，13为调节孔，2为第二基准体，21为左定位平面，22为定位斜面，3为定位体，31为右定位平面，32为调节斜面，4为调节螺钉，5为机匣。具体实施方式下面结合附图对本专利技术的实施例作进一步详细说明。参见图1-图4，机匣弹匣井与机匣大槽对称度的检测装置的一种实施例，包括第一基准体1、竖向设置在第一基准体1上的第二基准体2、定位体3，第一基准体1的左、右两侧分别设有相互平行的左基准平面11、右基准平面12，第一基准体1的左基准平面11与右基准平面12之间的距离大于机匣5的左右宽度，第二基准体2的左侧设有与第一基准体1的左基准平面11平行的左定位平面21，第二基准体2的右侧设有定位斜面22，第二基准体2的定位斜面22、左定位平面21和第二基准体2的顶面围合成一个上宽下窄的楔形，定位体3的右侧设有与第一基准体1的右基准平面12平行的右定位平面31，定位体3的左侧设有可与第二基准体2的定位斜面22滑动配合的调节斜面32，定位体3移动至上极限位置时，第二基准体2的左定位平面21与定位体3的右定位平面31之间的距离大于机匣弹匣井的左右宽度，定位体3移动至下极限位置时，第二基准体2的左定位平面21与定位体3的右定位平面31之间的距离小于机匣弹匣井的左右宽度。通过相互滑动调整第二基准体2的左定位平面21与定位体3的右定位平面31之间的距离，有利于适应不同尺寸的机匣5井宽，达到零间隙定位作用。第一基准体1上设有竖向的调节孔13，调节孔13中螺纹配合有调节螺钉4，用于驱动定位体3向上移动。第二基准体2的定位斜面22与左定位平面21的夹角为8°。上述的机匣弹匣井与机匣大槽对称度的检测装置的检测方法，首先，将机匣弹匣井的一侧与第二基准体2的左定位平面21接触贴平，然后旋转调节螺钉4，驱动定位体3在第二基准体2的定位斜面22上向上移动，待第二基准体2的左定位平面21与定位体3的右定位平面31之间的距离等于机匣弹匣井的左右宽度时即机匣5的机匣弹匣井反向夹紧在第二基准体2和定位体3上时，测出第一基准体1的左基准平面11距第二基准体2的左定位平面21的距离A、第二基准体2的左定位平面21距第一基准体1的右基准平面12的距离B、第二基准体2的左定位平面21距定位体3的右定位平面31的距离C，其中A、B为第一基准体1和第二基准体2制造形成尺寸，通过检测可以得出A与B的差值，且为定值，然后将第一基准体1的左基准平面11置于水平面上，用高度游标卡尺测出水平面距机匣大槽左侧面的距离M，然后将第一基准体1的右基准平面12置于水平面上，用高度游标卡尺测出水平面距机匣大槽右侧面的距离N，然后通过公式t＝P-Q＝C+A-B+N-M,其中P为机匣弹匣井对称中心到机匣大槽左侧面的距离，Q为机匣弹匣井对称中心到机匣大槽右侧面的距离，得到机匣弹匣井相对机匣大槽的对称度值t，而t的绝对值为该机匣弹匣井相对机匣大槽的对称度值，如t>0，机匣大槽相对机匣弹匣井偏右，t<0，则机匣大槽相对机匣弹匣井偏左，从而就完成了对该机匣对称度的检测。最后说明的是，以上优选实施例仅用以说明本专利技术的技术方案而非限制，尽管通过上述优选实施例已经对本专利技术进行了详细的描述，但本领域技术人员应当理解，可以在形式上和细节上对其作出各种各样的改变，而不偏离本专利技术权利要求书所限定的范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种机匣弹匣井与机匣大槽对称度的检测装置，其特征在于，包括第一基准体、竖向设置在所述第一基准体上的第二基准体、定位体，所述第一基准体的左、右两侧分别设有相互平行的左基准平面、右基准平面，第一基准体的左基准平面与右基准平面之间的距离大于机匣的左右宽度，所述第二基准体的左侧设有与第一基准体的左基准平面平行的左定位平面，第二基准体的右侧设有定位斜面，第二基准体的定位斜面、左定位平面和第二基准体的顶面围合成一个上宽下窄的楔形，所述定位体的右侧设有与所述第一基准体的右基准平面平行的右定位平面，定位体的左侧设有可与第二基准体的定位斜面滑动配合的调节斜面，定位体移动至上极限位置时，第二基准体的左定位平面与定位体的右定位平面之间的距离大于机匣弹匣井的左右宽度，定位体移动至下极限位置时，第二基准体的左定位平面与定位体的右定位平面之间的距离小于机匣弹匣井的左右宽度。

【技术特征摘要】
1.一种机匣弹匣井与机匣大槽对称度的检测装置，其特征在于，包括第一基准体、竖向设置在所述第一基准体上的第二基准体、定位体，所述第一基准体的左、右两侧分别设有相互平行的左基准平面、右基准平面，第一基准体的左基准平面与右基准平面之间的距离大于机匣的左右宽度，所述第二基准体的左侧设有与第一基准体的左基准平面平行的左定位平面，第二基准体的右侧设有定位斜面，第二基准体的定位斜面、左定位平面和第二基准体的顶面围合成一个上宽下窄的楔形，所述定位体的右侧设有与所述第一基准体的右基准平面平行的右定位平面，定位体的左侧设有可与第二基准体的定位斜面滑动配合的调节斜面，定位体移动至上极限位置时，第二基准体的左定位平面与定位体的右定位平面之间的距离大于机匣弹匣井的左右宽度，定位体移动至下极限位置时，第二基准体的左定位平面与定位体的右定位平面之间的距离小于机匣弹匣井的左右宽度。2.根据权利要求1所述的机匣弹匣井与机匣大槽对称度的检测装置，其特征在于，所述第一基准体上设有竖向的调节孔，调...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯冬冬，姜黎明，付诚，
申请(专利权)人：重庆建设工业集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：重庆,50