可变信息屏LED模组测试仪制造技术

本实用新型专利技术涉及LED模组测试仪器。一种可变信息屏LED模组测试仪，包括电源单元、测试电路以及显示屏，电源单元为所述测试电路、显示屏以及待测试LED模组提供工作电源，测试电路使用单片机做核心控制器，采用单片机的一组端口的5个引脚作为LED模组的测试信号对外连接口，采用单片机的一组端口作为显示屏的数据传输口，采用单片机的一组端口的5个引脚作为显示屏的控制信号输入与反馈，采用单片机的两个外部中断口作为按键交互信号，分别接信号测试按钮和电平测试按钮。本实用新型专利技术结构简单，使用方便，能够满足LED模组的多种测试需求，功能多样。

Variable Information Screen LED Module Tester

【技术实现步骤摘要】
可变信息屏LED模组测试仪
本技术涉及LED模组测试仪器，尤其是涉及一种简易可变信息屏LED模组测试仪。
技术介绍
当前LED模组的应用十分广泛，在显示屏的装配过程中，LED模组中LED的行列打折连接方式、OE电平的有效值、LED的共阴、共阳接法等，直接决定了可以选用那种控制卡、需要那种类型的转接HUB板，另外，LED的质量也决定了显示屏的整体效果和成品率。因此，装配前的LED模组测试是一个必要环节，可以有效提高装配效率，保证良品率；另一方面，使用一段时间的显示屏难免会出现各种各样的问题，此时，对LED模组的有效测量，对维修显示屏、推动显示模组二次利用、评价模组的整体质量等有很大参考价值。目前的LED模组测试主要还是出厂前测试，出厂后的测试主要依靠控制卡或者产品说明书、万用表等，尚没有成熟的专用工具可用。控制卡测试也是必须知道了LED模组的LED行列打折方式后，才能进行，而且一般在已经完成屏幕组装后开始，有一定的局限性，在屏幕已经运行一段时间，怀疑某块模组出问题时，控制卡测试显得无能为力，除非再找一张控制卡，那样增加了成本，而万用表测试麻烦费力、效率低。
技术实现思路
本技术针对现有技术不足，提出一种可变信息屏LED模组测试仪，结构简单，使用方便，能够确保LED模组的使用要求。本技术采用的技术方案：一种可变信息屏LED模组测试仪，包括电源单元、测试电路以及显示屏，电源单元为所述测试电路、显示屏以及待测试LED模组提供工作电源，所述测试电路使用单片机做核心控制器，采用单片机的一组端口的5个引脚作为LED模组的测试信号对外连接口，采用单片机的一组端口作为显示屏的数据传输口，采用单片机的一组端口的5个引脚作为显示屏的控制信号输入与反馈，采用单片机的两个外部中断口作为按键交互信号，分别接信号测试按钮和电平测试按钮。所述的可变信息屏LED模组测试仪，LED模组的测试信号对外连接口采用14针插排式接口，提供VCC、GND、CLK、STR、OE、RD、RG共5个信号和一组电压供LED模组使用，该5个单片机引脚通过10K欧姆的上拉电阻连接电源，以提高该接口的拉电流能力。所述的可变信息屏LED模组测试仪，显示屏采用12864液晶显示器显示LED模组的oe电平信息和led损坏个数信息，与12864液晶显示器通讯连接的单片机的一组端口与电源间连接有上拉电阻；电路整体采用12MHZ晶振和STC89C51小内存单片机。技术有益效果：1、本技术可变信息屏LED模组测试仪，可以直观显示LED模组中每个LED是否能够正常发光，判断LED模组中哪一个串口显示芯片出现问题，所有测试结果可以直观显示在测试仪自带的12864的液晶屏上。结构简单，成本低，可做成手持式，使用方便，检测结果直观。2、本技术可变信息屏LED模组测试仪，可以判断LED的OE信号、STR信号是高电平还是低电平有效，可以判断LED模组发光二极管是高电平、还是低电平发光，可以判断LED模组的行列打折方式。3、本技术可变信息屏LED模组测试仪，测试信号对外连接口通过10K欧姆的上拉电阻，提高了该接口的拉电流能力。电路整体采用12MHZ晶振和STC89C51小内存单片机，降低硬件成本，基本满足软件需求。4、本技术可变信息屏LED模组测试仪，用单片机的两个外部中断口作为按键交互信号，分别接“信号测试”和“电平测试”按键，用中断方式处理按键信号，提高了单片机的相应能力。附图说明图1为本技术可变信息屏LED模组测试仪电路原理示意图；图2为本技术可变信息屏LED模组测试仪外接测试接插件；图3是本技术可变信息屏LED模组测试仪电源单元原理图；图4是本技术可变信息屏LED模组测试仪测试流程示意图。具体实施方式下面通过具体实施方式，对本技术技术方案做进一步的详细描述。以下各实施例仅用于说明本技术，不应当构成对本技术保护范围的限定。本领域技术人员在现有技术范围内，采用惯用技术手段的置换以及和现有技术进行简单组合，均不脱离本技术保护范围。实施例1参见图1，本技术可变信息屏LED模组测试仪，包括电源单元、测试电路以及显示屏，电源单元为所述测试电路、显示屏以及待测试LED模组提供工作电源，测试电路使用stc单片机做核心控制器，采用单片机的一组端口的5个引脚作为LED模组的测试信号对外连接口，采用单片机的一组端口作为显示屏的数据传输口，采用单片机的一组端口的5个引脚作为显示屏的控制信号输入与反馈，采用单片机的两个外部中断口作为按键交互信号，分别接信号测试按钮和电平测试按钮。具体的，用单片机的P1口前5个引脚作为LED模组的测试信号对外连接口，该5个单片机引脚通过10K欧姆的上拉电阻连接电源。通过10K欧姆的上拉电阻，可以提高该接口的拉电流能力。用单片机的P3.2和P3.3两个外部中断口作为按键交互信号，分别接“信号测试”和“电平测试”按键，用中断方式处理按键信号，提高单片机的相应能力。实施例2参见图1，本实施例可变信息屏LED模组测试仪，和实施例1的不同之处在于：显示屏采用12864液晶显示器显示LED模组的oe电平信息和led损坏个数信息，与12864液晶显示器通讯连接的单片机的一组端口与电源间连接有上拉电阻。采用单片机的P0口作为12864液晶的数据传输口，用单片机的P2口前5个引脚作为12864液晶的控制信号输入与反馈。电路整体采用12MHZ晶振和STC89C51小内存单片机，降低硬件成本，基本满足软件需求。实施例3参见图1、图2，本实施例可变信息屏LED模组测试仪，与实施例1或实施例2的不同之处在于：进一步的，LED模组的测试信号对外连接口采用14针插排式接口，提供VCC（5V）、GND、CLK、STR、OE、RD、RG共5个信号和一组电压供LED模组使用。本技术可变信息屏LED模组测试仪，单片机的两个外部中断口分别通过信号测试按钮S2和电平测试按钮S3及一个上拉电阻连接电源，单片机的复位引脚与电源之间连接有复位按钮S1,与该复位键并联设有保护电容。图3为本技术可以采用的一种电源电路。供电部分采用220伏/6伏变压器，将输入的220伏交流电转换为5伏直流电，经过桥式整流电路整流成5伏脉动直流，经过电容滤波，送入7805三端稳压器，整流成5伏直流电压，供给单片机和LED模组使用。图4所示为本技术可变信息屏LED模组测试仪的软件测试程序流程图。程序部分采用C语言编程，用下载器将程序固化到单片机中。用单片机的电平测试按键配合单片机内部的高低电平转化程序判断用户LED模组的OE电平、STR电平、二极管亮灭电平的有效值。用单片机的信号测试按键配合单片机内部定时器程序判断共持续点亮了多少个二极管，哪一个串口显示芯片出现了问题。程序执行结束，所有结果在12864的液晶屏上显示。测试仪使用方法如下：第一步，将测试仪VCC\GND\STR\OE\CLK\RD\GD\分别与LED模组对应插针连接；第二步，给LED模组和测试仪送电；第三步，测试仪显示屏显示：“请按电平测试按钮……”，按下测试按钮；第四步，当显示屏有1个LED灯亮起时，再次按下测试按钮，此时，测试仪显示屏会显示LED模组有效的\STR\OE\RD\GD\信本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可变信息屏LED模组测试仪，包括电源单元、测试电路以及显示屏，电源单元为所述测试电路、显示屏以及待测试LED模组提供工作电源，其特征在于：所述测试电路使用单片机做核心控制器，采用单片机的一组端口的5个引脚作为LED模组的测试信号对外连接口，采用单片机的一组端口作为显示屏的数据传输口，采用单片机的一组端口的5个引脚作为显示屏的控制信号输入与反馈，采用单片机的两个外部中断口作为按键交互信号，分别接信号测试按钮和电平测试按钮。

【技术特征摘要】
1.一种可变信息屏LED模组测试仪，包括电源单元、测试电路以及显示屏，电源单元为所述测试电路、显示屏以及待测试LED模组提供工作电源，其特征在于：所述测试电路使用单片机做核心控制器，采用单片机的一组端口的5个引脚作为LED模组的测试信号对外连接口，采用单片机的一组端口作为显示屏的数据传输口，采用单片机的一组端口的5个引脚作为显示屏的控制信号输入与反馈，采用单片机的两个外部中断口作为按键交互信号，分别接信号测试按钮和电平测试按钮。2.根据权利要求1所述的可变信息屏LED模组测试仪，其特征在于：LED模组的测试信号对外连接口采用14针插排式接口，提供VCC、GND、CLK、STR、OE、RD、RG共...

【专利技术属性】
技术研发人员：铁新纳，张涛，王磊，刘晓智，杨航，刘抗，
申请(专利权)人：郑州市城市隧道综合管理养护中心，
类型：新型
国别省市：河南,41