一种集成通用设备的磁损测量平台制造技术

技术编号:21889432 阅读:16 留言:0更新日期:2019-08-17 13:36
本发明专利技术提供一种集成通用设备的磁损测量平台,利用功率放大器提高正弦信号发生器信号的增益倍数,并将此信号加载到被测磁芯上,通过功率分析仪来采集一次侧电流和二次侧电压等功率信息并传回到LabVIEW上位机系统,处理数据获得磁芯损耗。集成了功率放大器、功率分析仪等通用设备,并结合自主研发的LabVIEW上位机系统和正弦信号发生器等构成了磁损测量系统,利用功率放大器提高正弦信号发生器信号的增益倍数,并将此信号加载到被测磁芯上,通过功率分析仪来采集一次侧电流和二次侧电压等功率信息并传回到LabVIEW上位机系统,处理数据获得磁芯损耗,测试简单高效。

A Magnetic Loss Measurement Platform with Integrated Universal Equipment

【技术实现步骤摘要】
一种集成通用设备的磁损测量平台
本专利技术涉及磁芯损耗数据收集领域,尤其涉及一种集成通用设备的磁损测量平台。
技术介绍
磁芯损耗的研究离不开高精度的磁芯损耗数据的支撑,高精度的磁芯损耗数据不仅给磁芯损耗模型理论研究提供了数据支撑,也给工程师们的工程设计提供了参考标准以及设计思路。因此,如何获得精确的磁芯损耗数据一直是工程师们致力于研究的目标,尤其是如今开关变换器的小型化、高频化的发展趋势对于磁芯损耗数据的准确性提出了更高的要求。高精度的磁芯损耗数据对于开关变换器的优化设计有着极其重大的意义,构建一种高效精确的磁芯损耗测量平台十分重要。
技术实现思路
为解决上述问题,本专利技术的目的提供一种集成通用设备的磁损测量平台,集成了功率放大器、功率分析仪等通用设备,并结合自主研发的LabVIEW上位机系统和正弦信号发生器等构成了磁损测量系统,利用功率放大器提高正弦信号发生器信号的增益倍数,并将此信号加载到被测磁芯上,通过功率分析仪来采集一次侧电流和二次侧电压等功率信息并传回到LabVIEW上位机系统,处理数据获得磁芯损耗。本平台结合了通用设备,测试简单高效。本专利技术提供一种集成通用设备的磁损测量平台,利用功率放大器提高正弦信号发生器信号的增益倍数,并将此信号加载到被测磁芯上,通过功率分析仪来采集一次侧电流和二次侧电压等功率信息并传回到LabVIEW上位机系统,处理数据获得磁芯损耗。进一步改进在于:利用LabVIEW上位机系统来监测正弦信号发生器电压,适时修正正弦激励信号源输出的幅值和频率。进一步改进在于:功率分析仪采集的磁芯功率信息为一次侧电流和二次侧电压信息,避免原边线圈电阻引起测量误差。本专利技术的有益效果:集成了功率放大器、功率分析仪等通用设备,并结合自主研发的LabVIEW上位机系统和正弦信号发生器等构成了磁损测量系统,利用功率放大器提高正弦信号发生器信号的增益倍数,并将此信号加载到被测磁芯上,通过功率分析仪来采集一次侧电流和二次侧电压等功率信息并传回到LabVIEW上位机系统,处理数据获得磁芯损耗,测试简单高效。附图说明图1是本专利技术的磁芯损耗测量平台示意图。图2是本专利技术的LabVIEW上位机操作界面。具体实施方式为了加深对本专利技术的理解,下面将结合实施例对本专利技术作进一步详述,该实施例仅用于解释本专利技术,并不构成对本专利技术保护范围的限定。如图1-2所示,本实施例提供一种集成通用设备的磁损测量平台,利用功率放大器提高正弦信号发生器信号的增益倍数,并将此信号加载到被测磁芯上,通过功率分析仪来采集一次侧电流和二次侧电压等功率信息并传回到LabVIEW上位机系统,处理数据获得磁芯损耗。利用LabVIEW上位机系统来监测正弦信号发生器电压,适时修正正弦激励信号源输出的幅值和频率。功率分析仪采集的磁芯功率信息为一次侧电流和二次侧电压信息,避免原边线圈电阻引起测量误差。集成了功率放大器、功率分析仪等通用设备,并结合自主研发的LabVIEW上位机系统和正弦信号发生器等构成了磁损测量系统,利用功率放大器提高正弦信号发生器信号的增益倍数,并将此信号加载到被测磁芯上,通过功率分析仪来采集一次侧电流和二次侧电压等功率信息并传回到LabVIEW上位机系统,处理数据获得磁芯损耗,测试简单高效。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成通用设备的磁损测量平台,其特征在于:利用功率放大器提高正弦信号发生器信号的增益倍数,并将此信号加载到被测磁芯上,通过功率分析仪来采集一次侧电流和二次侧电压等功率信息并传回到LabVIEW上位机系统,处理数据获得磁芯损耗。

【技术特征摘要】
1.一种集成通用设备的磁损测量平台,其特征在于:利用功率放大器提高正弦信号发生器信号的增益倍数,并将此信号加载到被测磁芯上,通过功率分析仪来采集一次侧电流和二次侧电压等功率信息并传回到LabVIEW上位机系统,处理数据获得磁芯损耗。2.如权利要求1所述的一种集成通用设备的...

【专利技术属性】
技术研发人员:田家良崔林威王奔周岩
申请(专利权)人:南京邮电大学
类型:发明
国别省市:江苏,32

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