一种多光源组件光参数测试方法技术

本发明专利技术公开了一种多光源组件光参数测试方法。S1：用检光装置分别采集多个光源的光参数；S2：满足光参数设定值标注为1，不满足光参数设定值标注为0，多个光源的光参数通过1或0显示于显示屏；技术人员能够通过显示的1或0快速判别该多光源组件是否满足要求，以及其他设备能够根据1或0值快速处理数据，从而提升技术人员对多光源组件光参数状况的了解，如该多光源组件的单个光源光参数合格率。

A Method for Measuring Optical Parameters of Multi-light Source Modules

【技术实现步骤摘要】
一种多光源组件光参数测试方法
本专利技术涉及一种多光源组件光参数测试方法。
技术介绍
对于多光源组件需要通过测试单个光源的光参数来判断该多光源组件是否满足光参数要求，从而整体判断所述多光源组件是否满足要求或能否用于下一道工艺；然而，单个光源光参数测试的数值不便于数据处理和技术人员判断所述多光源组件的光参数情况。
技术实现思路
为解决多光源组件光参数处理不方便的问题，本专利技术提出一种多光源组件光参数测试方法。本专利技术的技术方案为：一种多光源组件光参数测试方法，S1：用检光装置分别采集多个光源的光参数；S2：满足光参数设定值标注为1，不满足光参数设定值标注为0，多个光源的光参数通过1或0显示于显示屏。进一步的，所述光参数为光功率，设定值为W1，检光装置采集的单个光源光功率大于W1则该光源在显示屏上显示1，单个光源光功率小于W1则该光源在显示屏上显示0；将测试的多光源组件按照单个光源位置对应将1或0显示在显示屏上。进一步的，单个光源光功率等于W1时在显示屏上显示1或0。进一步的，标记为1的所有光源光功率之和为总体光功率。进一步的，所述光参数为波长，设定值为λ，当检光装置采集的单个光源波长大于λ时则该光源的波长显示为1，当检光装置采集的单个光源波长小于λ时该光源波长显示为0。进一步的，单个光源波长等于λ时该光源的波长显示为1或0。进一步的，所述多光源组件为LED晶圆。进一步的，所述LED晶圆用针卡点亮。进一步的，所述多光源组件为LED灯珠组成的灯板。进一步的，S3：数值为1的光源数量为m，数值为0的光源数量为n，多光源组件中光参数合格率为*100%。本专利技术的有益效果在于：技术人员能够通过显示的1或0快速判别该多光源组件是否满足要求，以及其他设备能够根据1或0值快速处理数据，从而提升技术人员对多光源组件光参数状况的了解，如该多光源组件的单个光源光参数合格率。具体实施方式为便于本领域技术人员理解本专利技术的技术方案，下面将本专利技术的技术方案结合具体实施例作进一步详细的说明。一种多光源组件光参数测试方法，对于多光源组件需要对其整体的光参数进行检测，以判别其整体光参数是否满足使用要求；S1：用检光装置分别采集多个光源的光参数；从而获得单个光源的光参数，所述检光装置为能够检测光功率和/或光波长的装置，如红外CCD、带光测试探头的光谱仪等；S2：满足光参数设定值标注为1，不满足光参数设定值标注为0，多个光源的光参数通过1或0显示于显示屏；从而多光源组件的光参数测试结果是由1或0组成的数列，通过判断1的数量，或者1的数量占1和0总数量的比值就能够判断出多光源组件是否满足使用要求；当然，标志成1或0的方式仅仅是为了区别单个光源是否满足光参数设定值，本领域技术人员也能够通过标注0或1、a或b等形式得出多光源光参数的测试情况；通过采用上述方法，本领域技术人员能够将多光源的光参数快速判别出来，比如，对于LED晶圆，通过该方法能够快速判别该LED晶圆上LED晶粒的光参数合格率，提升了测试效率；通过将上述多光源组件光参数测试方法用于由LED灯组成的LED灯板，能够快速检测最终组装的LED灯板是否能够满足光参数要求。S3：数值为1的光源数量为m，数值为0的光源数量为n，多光源组件中光参数合格率为*100%；得出各个光源数量占总光源数量的比值，从而得出该对光源组件中合格光源的数量，根据所述比值能够判断该多光源组件是否合格；对于LED灯珠组成的产品，由于生产LED灯珠每道工序需要检测，即在组装成多光源组件（LED灯珠）之前的每颗LED灯珠均为合格的产品，若组装成LED灯板后合格率太低，则反映出LED灯珠的组装工艺不合格，从而便于技术人员改进LED灯珠的组装工艺。将测试的多光源组件按照单个光源位置对应将1或0显示在显示屏上，便于技术人员直观观察多光源组件合格单个光源的位置，在多光源组件使用过程中保留不同使用时期的光源位置，从而便于技术人员观察多光源在使用过程中老化的规律，便于技术人员改进对光源组件中单个光源的排布，提升多光源组件的使用寿命。所述光参数为光功率，设定值为W1，检光装置采集的单个光源光功率大于W1则该光源在显示屏上显示1，单个光源光功率小于W1则该光源在显示屏上显示0；即测试多光源组件的光功率，从而计算出多光源组件的有效光功率。单个光源光功率等于W1时在显示屏上显示1或0，技术人员根据实际需要设定。标记为1的多个光源光功率之和为总体光功率，该总光功率视为多光源组件的光功率，通过此方法快速测量出多光源组件的光功率；当然，该总光功率不大于多光源组件的实际光功率。所述光参数为波长，设定值为λ，当检光装置采集的单个光源波长大于λ时则该光源的波长显示为1，当检光装置采集的单个光源波长小于λ时该光源波长显示为0；从而单个光源波长满足设定值λ，从而得出多光源组件中单个光源的波长是否满足设定值，便于快速判别所述多光源组件中单个光源的合格率。单个光源波长等于λ时该光源的波长显示为1或0；采用1或0将满足或不满足波长设定值λ区别，当然，本领域技术人员也能够采用a或b等其它符号将波长值是否满足设定值区别开。所述多光源组件为LED晶圆；对于LED晶圆测试，通过此方法能够快速判断单个LED晶粒的光参数是否满足要求，以及该LED晶圆中合格LED晶粒太少则无必要对该LED晶粒进行下一步测试，便于降低LED晶圆的测试成本。所述LED晶圆用针卡点亮，此为让单个LED晶粒（单个光源）发光的一种方式，对于微小LED晶粒，采用针卡能够提高扎针重复定位的精确度，提升测试效率。所述多光源组件为LED灯珠组成的灯板。以上是本专利技术的较佳实施例，不用于限定本专利技术的保护范围。应当认可，本领域技术人员在理解了本专利技术技术方案后所作的非创造性变形和改变，应当也属于本专利技术的保护和公开的范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多光源组件光参数测试方法，其特征在于：S1：用检光装置分别采集多个光源的光参数；S2：满足光参数设定值标注为1，不满足光参数设定值标注为0，多个光源的光参数通过1或0显示于显示屏。

【技术特征摘要】
1.一种多光源组件光参数测试方法，其特征在于：S1：用检光装置分别采集多个光源的光参数；S2：满足光参数设定值标注为1，不满足光参数设定值标注为0，多个光源的光参数通过1或0显示于显示屏。2.根据权利要求1所述的多光源组件光参数测试方法，其特征在于：所述光参数为光功率，设定值为W1，检光装置采集的单个光源光功率大于W1则该光源在显示屏上显示1，单个光源光功率小于W1则该光源在显示屏上显示0；将测试的多光源组件按照单个光源位置对应将1或0显示在显示屏上。3.根据权利要求2所述的多光源组件光参数测试方法，其特征在于：单个光源光功率等于W1时在显示屏上显示1或0。4.根据权利要求2或3任意一项所述的多光源组件光参数测试方法，其特征在于：标记为1的所有光源光功率之和为总体光功率。5.根据权利要求1所述的多光源组件...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘振辉，王业文，王胜利，
申请(专利权)人：深圳市矽电半导体设备有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44