一种参数化长度传感器层差补偿方法技术

本发明专利技术公开一种参数化长度传感器层差补偿方法，测长线卷在卷盘上，一端固定于测长设备伸缩机构的一端，测长线随着伸缩机构的伸长和收缩，被拉出和收回，测长线在拉出的过程中带动卷盘转动，长度传感器实时获取到转动量的变化，根据内部存储的计算模型的参数，得到实时圈数，并不断的比较实时圈数和计算模型的参数，得到实时的层数，从而得到不同层的周长，通每层的圈数和周长得到拉出或收回的每层的线长，累计每层的线长得到测量长度。本发明专利技术采用累计每一层盘线的长度得出测量长度，有效地降低了精度损失，使长度测量更精确。

A Layer Difference Compensation Method for Parametric Length Sensor

【技术实现步骤摘要】
一种参数化长度传感器层差补偿方法
本专利技术涉及长度传感器
，具体涉及一种参数化长度传感器层差补充方法。
技术介绍
长度传感器是指能够感受规定的被测量设备，并按照一定规律能够转化成可用信号输出的器件或装置，该传感器由直接响应于被测量的敏感元件和产生可用信号输出的转换元件，以及相应的电子线路所组成。长度传感器适用于伸缩机构的长度测量，如伸缩臂式起重机、伸缩式随车起重机、伸缩式高空作业车、高空消防车，以及其他具有伸缩变幅机构的个工程机械。目前常用的长度传感器是通过卷动量转化长度输出的长度传感器，其计算方式主要是对转动量的获取，在计算转动量向长度量转化的过程中，对于长度计算具有精度损失，从而使长度测量精度较低，测量出的数据误差大。
技术实现思路
针对上述
技术介绍
存在的问题，本专利技术提供一种参数化长度传感器层差补偿方法，能够在计算转动量向长度量转化的过程中，降低长度计算的精度损失，提高长度测量精度，降低数据误差。为了实现上述目的，本专利技术提供一种参数化长度传感器层差补偿方法，测长线卷在卷盘上，一端固定于测长设备伸缩机构的一端，测长线随着伸缩机构的伸长和收缩，被拉出和收回，测长线在拉出的过程中带动卷盘转动，长度传感器实时获取转动量的变化，并通过内部存储的计算模型的参数方法，判断出实时圈数，并不断的比较实时圈数和计算模型的参数，得到实时的层数，从而得到不同层的周长，通过每层的圈数和周长得到拉出或收回的每层的线长，累计每层的线长得到测量长度，具体方法如下：步骤一：在上位机中建立长度计算模型的参数，该参数包括：每一层的周长Cm、每一层的圈数nm以及对应的层数m；具体方法如下：1)确定卷盘上长度传感器的盘线总长每一种长度传感器的盘线总长均为一个定值，定义为L总；2)确定卷盘上每一层的周长Cm，公式如下：其中，m为层数，Dj为卷盘的直径，Dx为线的直径；3)确定卷盘上每层盘线的圈数nm，圈数取整，具体方法如下：①当m＝1，通过公式(1)得出第一层的周长C1，n1＝w/Dx，其中，w为卷盘宽度；②判断L总与C1×n1的大小：如果L总＞C1×n1，继续下一层盘线，执行步骤③，否则，n1＝L总/C1，执行步骤⑦；L总＞C1×n1③当m＝2，通过公式(1)得出第二层的周长C2，如果步骤①得出n1的小数部分小于0.5，n2＝n1-1，否则，n2＝n1，④判断L总与C1×n1+C2×n2的大小：如果L总＞C1×n1+C2×n2，继续下一层盘线，执行步骤⑤，否则，n2＝(L总-n1×C1)/C2,执行步骤⑦；⑤每盘满一层，m的数值增加1，并通过公式(1)得出该层的周长Cm，判断m是否为偶数，若是，则该层圈数与第二层圈数相等，否则，该层圈数与第一层圈数相等；⑥判断L总与C1*n1+..+Cm*nm的大小：如果L总＞C1*n1+..+Cm*nm，返回步骤⑤；如果L总＜C1*n1+..+Cm*nm，说明长度传感器盘线总长L总已用完，若卷盘最外层为未盘满层，则该层盘线圈数为：nm＝[L总-(C1*n1+..+Cm-1*nm-1)]/Cm，为了使初始数据更加准确，未盘满层盘线圈数保留一位小数；⑦将每一层的周长Cm、圈数nm以及层数m传递给长度传感器；步骤二：长度传感器接收并存储上位机传递的参数，在计算时，通过实时获取转动量的变化，根据内部存储的计算模型的参数，判断出实时圈数，并不断的比较实时圈数和计算模型的参数，得到实时的层数，从而得到不同层的周长，通过每层的圈数和周长得到拉出或收回的每层的线长，累计每层的线长得到测量长度。与现有技术相比，本专利技术通过在上位机中建立盘线计算模型的参数，并将盘线模型的参数传送给长度传感器，在测量前，长度传感器处于初始状态，即测长线都在卷盘上，长度长度传感器根据存储的计算模型的参数得知层数、每一层的圈数和每一层的周长，随着线不断的拉出，最上层的圈数会逐渐减少，如果减少的圈数大于最上层的盘线圈数，这个时候就进入下一层的圈数计算，并实时获取转动量的变化，从而获取实时圈数，不断比较实时圈数和计算模型的参数，判断实时圈数所处的层数，在不同层数使用对应层数的周长得到拉出或收回的每层的线长，并不断的累计每一层的线长，从而得出测量长度。本专利技术采用累计每一层的线长得出测量长度，有效地降低了精度损失，使长度测量更精确。附图说明图1是本专利技术确定卷盘上每层圈数的流程图。具体实施方式下面结合附图对本专利技术作进一步说明。本专利技术一种参数化长度传感器层差补偿方法，测长线卷在卷盘上，一端固定于测长设备伸缩机构的一端，测长线随着伸缩机构的伸长和收缩，被拉出和收回，测长线在拉出的过程中带动卷盘转动，长度传感器实时获取转动量的变化，并通过内部存储的计算模型的参数，判断出实时圈数，并不断的比较实时圈数和计算模型的参数，得到实时的层数，从而得到不同层的周长，通过每层的圈数和周长得到拉出或收回的每层的线长，累计每层的线长得到测量长度，具体方法如下：步骤一：在上位机中建立长度计算模型的参数，该参数包括：每一层的周长Cm、每一层的圈数nm以及对应的层数m；具体方法如下：1)确定卷盘上长度传感器的盘线总长(前端预留长度除外)每一种长度传感器的盘线总长均为一个定值，定义为L总；2)确定卷盘上每一层的周长Cm，公式如下：其中，m为层数，Dj为卷盘的直径，Dx为线的直径；3)确定卷盘上每层盘线的圈数nm，圈数取整，具体方法如下：①当m＝1，通过公式(1)得出第一层的周长C1，n1＝w/Dx，其中，w为卷盘宽度；②判断L总与C1×n1的大小：如果L总＞C1×n1，继续下一层盘线，执行步骤③，否则，n1＝L总/C1，执行步骤⑦；L总＞C1×n1③当m＝2，通过公式(1)得出第二层的周长C2，如果步骤①得出n1的小数部分小于0.5，n2＝n1-1，否则，n2＝n1，④判断L总与C1×n1+C2×n2的大小：如果L总＞C1×n1+C2×n2，继续下一层盘线，执行步骤⑤，否则，n2＝(L总-n1×C1)/C2,执行步骤⑦；⑤每盘满一层，m的数值增加1，并通过公式(1)得出该层的周长Cm，判断m是否为偶数，若是，则该层圈数与第二层圈数相等，否则，该层圈数与第一层圈数相等；⑥判断L总与C1*n1+..+Cm*nm的大小：如果L总＞C1*n1+..+Cm*nm，返回步骤⑤；如果L总＜C1*n1+..+Cm*nm，说明长度传感器盘线总长L总已用完，若卷盘最外层为未盘满层，则该层盘线圈数为：nm＝[L总-(C1*n1+..+Cm-1*nm-1)]/Cm，为了使初始数据更加准确，未盘满层盘线圈数保留一位小数；⑦将每一层的周长Cm、圈数nm以及层数m通过CAN总线传递给长度传感器；步骤二：长度传感器接收并存储上位机传递的参数，在计算时，通过实时获取转动量的变化，根据内部存储的计算模型的参数，判断出实时圈数，并不断的比较实时圈数和计算模型的参数，得到实时的层数，从而得到不同层的周长，通过每层的圈数和周长得到拉出或收回的每层的线长，累计每层的线长得到测量长度。通过步骤一长度传感器得到了外部盘线的情况，这个盘线的情况作为长度传感器计算模型的参数。长度传感器中存储有计算模型的参数：层数、每一层的圈数和周长(即每一层每一圈的长度)。根据长度传感器的总长度L总得到长度传感器的初始状态(即测长线都盘在卷本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种参数化长度传感器层差补偿方法，测长线卷在卷盘上，一端固定于测长设备伸缩机构的一端，测长线随着伸缩机构的伸长和收缩，被拉出或收回，其特征在于，测长线在拉出的过程中带动卷盘转动，长度传感器实时获取转动量的变化，并通过内部存储的计算模型的参数方法，判断出实时圈数，并不断的比较实时圈数和计算模型的参数，得到实时的层数，从而得到不同层的周长，通过每层的圈数和周长得到拉出或收回的每层的线长，累计每层的线长得到测量长度，具体方法如下：步骤一：在上位机中建立长度计算模型的参数，该参数包括：每一层的周长Cm、每一层的圈数nm以及对应的层数m；具体方法如下：1)确定卷盘上长度传感器的盘线总长每一种长度传感器的盘线总长均为一个定值，定义为L总；2)确定卷盘上每一层的周长Cm，公式如下：

【技术特征摘要】
1.一种参数化长度传感器层差补偿方法，测长线卷在卷盘上，一端固定于测长设备伸缩机构的一端，测长线随着伸缩机构的伸长和收缩，被拉出或收回，其特征在于，测长线在拉出的过程中带动卷盘转动，长度传感器实时获取转动量的变化，并通过内部存储的计算模型的参数方法，判断出实时圈数，并不断的比较实时圈数和计算模型的参数，得到实时的层数，从而得到不同层的周长，通过每层的圈数和周长得到拉出或收回的每层的线长，累计每层的线长得到测量长度，具体方法如下：步骤一：在上位机中建立长度计算模型的参数，该参数包括：每一层的周长Cm、每一层的圈数nm以及对应的层数m；具体方法如下：1)确定卷盘上长度传感器的盘线总长每一种长度传感器的盘线总长均为一个定值，定义为L总；2)确定卷盘上每一层的周长Cm，公式如下：其中，m为层数，Dj为卷盘的直径，Dx为测长线的直径；3)确定卷盘上每层盘线的圈数nm，圈数取整，具体方法如下：①当m＝1，通过公式(1)得出第一层的周长C1，n1＝w/Dx，其中，w为卷盘宽度；②判断L总与C1×n1的大小：如果L总＞C1×n1，继续下一层盘线，执行步骤③，否则，n1＝L总/C1，执行步骤⑦；L总＞C1×n1③当m＝2，通过公式(1)得出第二层的周长C2，如果步骤①得出n1的...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩忠来，刘程，张凯，熊景林，
申请(专利权)人：徐州威卡电子控制技术有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32