PCB测试机构、测试压板及PCB测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种PCB测试机构、测试压板及PCB测试装置，所述PCB测试机构，包括测试基座，所述测试基座上有第一检测探针和转接探针，所述第一检测探针用于与待测试PCB其中一侧上的触点抵接，所述第一检测探针和转接探针电性连接，所述转接探针用于通过测试压板将第一检测探针获取的检测信息传递给测试系统；测试中，待测试PCB放置于测试基座上，测试压板按压待测试PCB，第一检测探针与待测试PCB上靠近测试基座一侧的触点抵接，转接探针通过测试压板将第一检测探针获取的信息传递给测试系统。转接探针的设置能够在测试压板按压待测试PCB时，通过转接探针与测试压板的配合将第一检测探针检测到的信息传递给测试系统。

PCB Testing Mechanism, Testing Press and PCB Testing Device

【技术实现步骤摘要】
PCB测试机构、测试压板及PCB测试装置
本技术涉及PCB测试
，特别是涉及一种PCB测试机构、测试压板及PCB测试装置。
技术介绍
对PCB的测试主要有耐压测试、功能测试、老化测试等。为了完成这些测试，一般是在各个测试设备中对应设置测试载板，通过将待测试的PCB对应放置于各测试设备中的测试载板上来完成对应各项测试。一般的测试治具在待测试PCB的两侧分别设置探针，探针的一端用于与PCB上的触点电性连接，探针的另一端用于与测试系统连接。由于受到测试条件的限制，当用于承载PCB的测试基座需要沿滑轨滑动切换测试工位时，若是测试基座上的探针继续沿用以导线连接测试系统的结构，导线上与测试基座上探针连接的端部需要随测试基座移动，如此导线与测试基座上探针的连接存在连接稳定性差的问题。
技术实现思路
基于此，本技术在于克服现有技术的缺陷，提供一种PCB测试机构、测试压板及PCB测试装置，来解决测试稳定差的问题。一种PCB测试机构，包括测试基座，所述测试基座上有第一检测探针和转接探针，所述第一检测探针用于与待测试PCB其中一侧上的触点抵接，所述第一检测探针和转接探针电性连接，所述转接探针用于通过测试压板将第一检测探针获取的检测信息传递给测试系统。上述PCB测试机构，测试中，待测试PCB放置于测试基座上，测试压板按压待测试PCB，第一检测探针与待测试PCB上靠近测试基座一侧的触点抵接，转接探针通过测试压板将第一检测探针获取的信息传递给测试系统。转接探针的设置能够在测试压板按压待测试PCB时，通过转接探针与测试压板的配合将第一检测探针检测到的信息传递给测试系统。转接探针改变了第一检测探针与测试系统的连接方式，通过转接探针与测试压板的配合能够避免采用导线直接连接第一检测探针与测试系统，使得测试基座的位置移动不受导线的限制，方便了测试基座的移动；同时由于第一检测探针和测试系统的连接方式改变，改善了在采用导线连接第一检测探针和测试系统时，导线连接稳定性差的问题。在其中一个实施例中，所述测试基座包括测试托盘和承载基座，所述测试托盘可在靠近承载基座的方向上移动，所述第一检测探针和转接探针设置于承载基座上，所述测试托盘上开设有与第一检测探针对应的第一通孔和与转接探针对应的第二通孔；当测试托盘处于第一位置时，所述第一检测探针的端部伸出第一通孔并与待测试PCB上靠近承载基座一侧的触点抵接。需要检测测试托盘上的待测试PCB时，测试压板按压测试托盘，使测试托盘位于第一位置，此时第一检测探针与测试托盘上的待测试PCB的触点抵接。在其中一个实施例中，所述测试托盘上开设有用于安装待测试PCB的安装槽，所述第一通孔与所述安装槽连通。安装槽的设置能方便在测试托盘上对待测试PCB进行安装限位。在其中一个实施例中，所述测试托盘上设有第一导杆，所述承载基座上固设有导套，所述第一导杆安装于导套内，所述测试托盘通过第一导杆和导套在靠近承载基座的方向上移动。导套与第一导杆的配合能对限制测试托盘与承载基座之间的相对运动，保证第一检测探针与第一通孔的配合精度、及转接探针与第二通孔的配合精度，避免第一检测探针及转接探针与测试托盘发生干涉。在其中一个实施例中，所述的PCB测试机构还包括转接电路板，所述第一检测探针和转接探针通过所述转接电路板电性连接；或还包括转接导线，所述第一检测探针和转接探针通过所述转接导线电性连接。当第一检测探针和转接探针通过转接电路板电性连接时，可通过在转接电路板上设置对应的连接PIN角，第一检测探针和转接探针通过对应的PIN角电性连接，如此方便了第一检测探针和转接探针的连接；同时在第一检测探针和转接探针较多时，通过转接电路板能够较好地保证第一检测探针和转接探针一一对应连接的准确性。第一检测探针和转接探针通过转接导线电性连接的结构简单，连接方便。在其中一个实施例中，所述测试托盘与承载基座间设有弹性缓冲件，所述弹性缓冲件的一端与测试托盘抵接，弹性缓冲件的另一端与承载基座抵接。弹性缓冲件的设置能够避免测试压板按压待测试PCB时，待测试PCB与第一检测探针发生刚性接触。在其中一个实施例中，所述的PCB测试机构还包括滑轨，沿滑轨设有至少两个操作工位，所述承载基座滑动安装于滑轨上，承载基座可沿滑轨移动切换操作工位。滑轨的设置能限制承载基座的滑动方向；同时，滑轨能承载测试基座，如此方便了测试基座的位置切换。在其中一个实施例中，所述的PCB测试机构还包括辅助支撑座，所述辅助支撑座设置于承载基座滑动方向的一侧，辅助支撑座与滑轨位置相对固定，辅助支撑座用于分摊承载基座作用在滑轨上的载荷；如此降低滑轨的承载，避免滑轨由于承载过度而变形。在其中一个实施例中，所述测试托盘设有与承载基座对应的第一检测区和与辅助支撑座对应的第二检测区，所述第一通孔和第二通孔开设于所述第一检测区；所述辅助支撑座上设有用于与测试系统电性连接的第三检测探针，所述第二检测区开设有与第三检测探针对应的第三通孔；当测试托盘处于第一位置时，所述第三检测探针的端部通过第三通孔凸出于测试托盘并与待测试PCB上的触点抵接；当测试托盘处于第二位置时，所述第三检测探针退出第三通孔。由于测试托盘上第二检测区对应的第三检测探针设置于辅助支撑座上，测试中，测试压板对第三检测探针的作用力施加于辅助支撑座上，如此减少了滑轨的承载，避免了滑轨因为承载过度而变形。同时在需要切换测试基座在滑轨上的位置时，使测试托盘位于第二位置，此时第三检测探针退出第三通孔，避免了第三检测探针与测试托盘发生干涉。在其中一个实施例中，所述辅助支撑座上设第二导杆，所述测试托盘上开设有位于第二检测区内的导向孔，所述第二导杆安装于导向孔内，所述测试托盘沿第二导杆在靠近承载基座的方向上移动；当测试托盘处于第一位置时，所述第二导杆位于导向孔内；当测试托盘处于第二位置时，所述第二导杆退出导向孔。导向孔与第二导杆的配合能对限制测试托盘与辅助支撑座之间的相对运动，保证第三检测探针与第三通孔的配合精度，避免第三检测探针与测试托盘发生干涉。在其中一个实施例中，所述第一检测区内设有多个第一PCB安装位，所述第一检测探针及转接探针均有多个，所述第一检测探针与第一PCB安装位一一对应设置，所述转接探针与第一PCB安装位一一对应设置，对应同一第一PCB安装位的第一检测探针和转接探针弹性电性连接，所述第一通孔和第二通孔均有多个，所述第一通孔与第一PCB安装位一一对应设置，对应同一第一PCB安装位的第一检测探针和第一通孔安装配合，所述第二通孔与第一PCB安装位一一对应设置，对应同一第一PCB安装位的转接探针和第二通孔安装配合；所述第二检测区内设有多个第二PCB安装位，所述第三检测探针有多个，所述第二PCB安装位与第三检测探针一一对应设置，所述第三通孔有多个，所述第三通孔与第二PCB安装位一一对应设置，对应同一第二PCB安装位的第三检测探针和第三通孔安装配合。第一PCB安装位和第二PCB安装位数量的增加能待测试PCB的数量，提高了检测效率。一种测试压板包括压板本体及设置于所述压板本体上的第二检测探针和对接探针，所述第二检测探针用于与待测试PCB其中一侧上的触点对应抵接，所述对接探针用于与转接探针对接并将获取的信息传递给测试系统。测试中，测试压板向靠近测试基座本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种PCB测试机构，其特征在于，包括测试基座，所述测试基座上有第一检测探针和转接探针，所述第一检测探针用于与待测试PCB其中一侧上的触点抵接，所述第一检测探针和所述转接探针电性连接，所述转接探针用于通过测试压板将所述第一检测探针获取的检测信息传递给测试系统。

【技术特征摘要】
1.一种PCB测试机构，其特征在于，包括测试基座，所述测试基座上有第一检测探针和转接探针，所述第一检测探针用于与待测试PCB其中一侧上的触点抵接，所述第一检测探针和所述转接探针电性连接，所述转接探针用于通过测试压板将所述第一检测探针获取的检测信息传递给测试系统。2.根据权利要求1所述的PCB测试机构，其特征在于，所述测试基座包括测试托盘和承载基座，所述测试托盘可在靠近所述承载基座的方向上移动，所述第一检测探针和所述转接探针设置于所述承载基座上，所述测试托盘上开设有与所述第一检测探针对应的第一通孔和与转接探针对应的第二通孔；当所述测试托盘处于第一位置时，所述第一检测探针的端部伸出所述第一通孔并与待测试PCB上靠近所述承载基座一侧的触点抵接。3.根据权利要求2所述的PCB测试机构，其特征在于，所述测试托盘上开设有用于安装待测试PCB的安装槽，所述第一通孔与所述安装槽连通。4.根据权利要求2所述的PCB测试机构，其特征在于，所述测试托盘上设有第一导杆，所述承载基座上固设有导套，所述第一导杆安装于所述导套内，所述测试托盘通过第一导杆和所述导套在靠近承载基座的方向上移动。5.根据权利要求1所述的PCB测试机构，其特征在于，还包括转接电路板，所述第一检测探针和所述转接探针通过所述转接电路板电性连接；或还包括转接导线，所述第一检测探针和转接探针通过所述转接导线电性连接。6.根据权利要求2所述的PCB测试机构，其特征在于，所述测试托盘与所述承载基座间设有弹性缓冲件，所述弹性缓冲件的一端与所述测试托盘抵接，所述弹性缓冲件的另一端与所述承载基座抵接。7.根据权利要求2所述的PCB测试机构，其特征在于，还包括滑轨，沿所述滑轨设有至少两个操作工位，所述承载基座滑动安装于所述滑轨上，所述承载基座可沿所述滑轨移动切换操作工位。8.根据权利要求7所述的PCB测试机构，其特征在于，还包括辅助支撑座，所述辅助支撑座设置于所述承载基座滑动方向的一侧，所述辅助支撑座与所述滑轨位置相对固定，所述辅助支撑座用于分摊所述承载基座作用在所述滑轨上的载荷。9.根据权利要求8所述的PCB测试机构，其特征在于，所述测试托盘设有与所述承载基座对应的第一检测区和与所述辅...

【专利技术属性】
技术研发人员：王洋，
申请(专利权)人：广州视源电子科技股份有限公司，广州镭晨智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44