利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法技术

一种利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法，属于玉米种质的鉴定方法技术领域，所述的方法是将种子胚乳朝上放置于照度计的光学测定点上，采用微型固定白光源，从上方紧贴果皮照射种子胚乳，记录照度计上光强读数，根据光源透过种子胚乳的光强强度判断种子是否为全粉质种子，如果透过种子胚乳的光强强度小于5lux，则该种子为全粉质糯玉米，如果透过种子胚乳的光强强度大于100lux，则该种子为腊质糯玉米。该方法根据不同结构淀粉的光学特性鉴定全粉质、蜡质糯玉米种质，该方法可辅助加快全粉质、蜡质糯玉米自交系的培育与鉴定，以及全粉质、蜡质糯玉米新品种的选育，具有很好的应用前景。

Rapid and Nondestructive Identification of Full Powdery and Waxy Maize Germplasms by Optical Illuminometer

【技术实现步骤摘要】
利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法
本专利技术涉及玉米种质的鉴定方法
，尤其涉及一种利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法。
技术介绍
糯玉米根据颜色差异区分为白糯、黄糯、彩糯三种，而根据其内在的淀粉结构，又可分为全粉质及蜡质糯玉米，以往的大都研究重点围绕玉米的口感，通过品尝来区分糯玉米的好坏，而忽略了内在的淀粉结构对糯玉米品质、口感的影响。相对于蜡质糯玉米，全粉质糯玉米存在口感较润、香甜，淀粉更易被吸收，粗纤维与营养成分比例适中，更适合蒸煮、烹饪等加工食用。而在糯玉米自交系的选育的过程中，由于外在颜色的掩盖，从外观上很难区分出全粉质、蜡质糯玉米，需要将玉米种质切开，通过观察玉米粒内部的粉质情况，判断该玉米种质的类型。此外，以往的育种家未从淀粉结构区分全粉质、蜡质糯玉米，忽略了全粉质糯玉米在品质、口感的优势，影响了全粉质糯玉米品种的选育与应用。常规鉴定方式对玉米种子产生了极大的损伤，切开后的玉米种子无法再用于后续种植，且玉米种子较小，当需要检测大量眼皮时，需要花费较大的时间和人力物力，且通过肉眼观察粉质情况时，由于没有量化指标，判断准确性也会降低。因此，需要开发一种适合大批量玉米种质的快速鉴定方法。
技术实现思路
为了解决以上问题，本专利技术提出一种利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法，以提供一种从淀粉结构快速、无损区分全粉质和蜡质玉米种质的方法。本专利技术采用以下技术方案来实现：一种利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法，该方法利用光学照度计测定种子胚乳透光强度，根据光学照度计的光源透过种子胚乳的光强强度来判断种子是全粉质或蜡质玉米种子，具体包括以下步骤：步骤1.将种子胚乳朝上放置于光学照度计的光学测定点上，采用微型固定白光源，从上方紧贴种皮照射种子胚乳，记录照度计上光强读数；步骤2.根据光强读数判断种子种质类型，若透过种子胚乳的光强强度小于全粉质糯玉米光强度阈值，则为全粉质糯玉米，若透过种子胚乳的光强强度大于蜡质糯玉米光强度阈值，则为蜡质糯玉米。所述微型固定白光源的光照强度为30000-100000lux。所述全粉质糯玉米光强度阈值为5lux，蜡质糯玉米光强度阈值为100lux。本专利技术的有益效果是：本专利技术根据不同结构淀粉的光学特性，提供了一种利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法，可快速鉴定出全粉质或蜡质玉米，为加快全粉质、蜡质糯玉米自交系的培育与鉴定提供了一种辅助方法，有利于全粉质、蜡质糯玉米新品种的选育，同时，该方法首次从透光率角度判断玉米种质种类，不仅对设备要求低，而且对待鉴定样品无任何损害，判定结果迅速准确，适合大批量样品的快速鉴定。附图说明图1为四份糯玉米种质外观颜色照片；图2为图1的四份糯玉米在光学照度计白光源照射下，种质胚乳的透光特性表现；图3为图1的四份糯玉米的横切剖面图；图中，A为玉米自交系7015、B为玉米自交系7058、C为玉米自交系7123、D为玉米自交系7156。具体实施方式为了使本专利技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本专利技术。实施例11、材料本实施例所用方法如无特别说明均为本领域的技术人员所知晓的常规方法，所用的试剂等材料，如无特别说明，均为市售购买产品。本实施例所涉及的玉米种质(自交系7015、7058、7123、7156)均来源于安徽省农业科学院烟草研究所的玉米种质库。2、方法(1).取待检测的高代稳定遗传玉米自交系7015(A)、7058(B)、7123(C)与7156(D)进行鉴定，其中，7015(A)与7058(B)颜色相近(图1A、B)，为白糯玉米种质；7123(C)与7156(D)颜色相近(图1C、D)，为黄糯玉米种质。(2).采用光学照度计测定种子胚乳透光的强度步骤1.将种子胚乳朝上放置于光学照度计的光学测定点上，采用微型固定白光源，从上方紧贴种皮照射种子胚乳；微型固定白光源的光照强度范围为30000-100000lux，本实施例选择的光照强度为50000lux；步骤2.记录照度计上光强读数：7015(A)与7123(C)的种子透光强度均为0lux，7058(B)与7156(D)种子透光强度为315lux、308lux，如图2所示。根据光强读数判断种子种质类型，若透过种子胚乳的光强强度小于全粉质糯玉米光强度阈值，则为全粉质糯玉米，若透过种子胚乳的光强强度大于蜡质糯玉米光强度阈值，则为蜡质糯玉米，即7015(A)与7123(C)为全粉质糯玉米种质，7058(B)与7156(D)为腊质糯玉米种质。(3).横切剖面验证7015(A)、7058(B)、7123(C)与7156(D)种质，肉眼观察横切剖面，结果如图3所示，图中，7015(A)与7123(C)的种子整个剖面都为白色粉质，为全粉质糯玉米种质，7058(B)与7156(D)的种子剖面仅有中间位置呈少量白色粉质，周围均呈黄色或白色蜡质，为蜡质糯玉米种质。这与步骤(2)采用光学照度计测定种子胚乳透光的强度方法判断种质结果一致，说明了本专利技术采用光学照度计无损检测快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质是可行的。以上显示和描述了本专利技术的基本原理、主要特征和优点。本行业的技术人员应该了解，本专利技术不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本专利技术的原理，在不脱离本专利技术精神和范围的前提下，本专利技术还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本专利技术范围内。本专利技术要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法，其特征在于，该方法利用光学照度计测定种子胚乳透光强度，根据光学照度计的光源透过种子胚乳的光强强度来判断种子是全粉质或蜡质玉米种子。

【技术特征摘要】
1.一种利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法，其特征在于，该方法利用光学照度计测定种子胚乳透光强度，根据光学照度计的光源透过种子胚乳的光强强度来判断种子是全粉质或蜡质玉米种子。2.根据权利要求1所述的一种利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1.将种子胚乳朝上放置于光学照度计的光学测定点上，采用微型固定白光源，从上方紧贴种皮照射种子胚乳，记录照度计上光强读数；步骤2.根据光强读数判断种子种质类型...

【专利技术属性】
技术研发人员：李廷春，董庆，杨华应，刘桂虎，周应兵，陈洪俭，李成，
申请(专利权)人：安徽省农业科学院烟草研究所，
类型：发明
国别省市：安徽,34