一种处理器单板的状态检测装置及一种检测方法制造方法及图纸

技术编号:21771346 阅读:24 留言:0更新日期:2019-08-03 21:28
本申请公开了一种处理器单板的状态检测装置及一种检测方法,其中检测装置包括:MCU、背板、电源和若干第一电阻;所述背板的每一槽位内对应安装一个所述第一电阻,且各个所述第一电阻的阻值均不相同;所述MCU的采样管脚连接所述电源;所有所述第一电阻并联后连接所述电源,解决了现有对处理器业务单板的状态检测方法,因过多占用MCU管脚导致整个主控板硬件资源短缺的技术问题。

A State Detection Device for Processor Single Board and a Detection Method

【技术实现步骤摘要】
一种处理器单板的状态检测装置及一种检测方法
本申请属于视频处理器
,尤其涉及一种处理器单板的状态检测装置及一种检测方法。
技术介绍
随着科技技术的发展,视频处理器在控制中心被广泛应用。现有的视频处理器由各业务单板组成,采用背板总线架构构成,各业务单板通过背板连接器进行通讯。其中各业务单板由主控板进行管理,包括管理各业务单板上下线状态信息,现有技术中主控板检测各业务单板是否插入系统的电路如图1所示,主控板的MCU(以下简称为MCU)引出相应数量的IO管脚,设计为上拉状态,并将管脚引出到背板连接器,业务单板设计为接地,当业务单板插入背板时,将背板连接器对应的IO管脚拉低,即MCU通过检测相对应的IO管脚状态获取各单板的插入情况。但是上述方法对MCU的管脚需求量大,即每个槽位处业务单板的状态检测会占用一个MCU的IO管脚,过多占用MCU管脚导致整个主控板硬件资源短缺。
技术实现思路
有鉴于此,本申请提供了一种处理器单板的状态检测装置及一种检测方法,解决现有对处理器业务单板的状态检测方法,因过多占用MCU管脚导致整个主控板硬件资源短缺的技术问题。本申请第一方面提供了一种处理器单板的状态检测装置,包括:MCU、背板、电源和若干第一电阻;所述背板的每一槽位内对应安装一个所述第一电阻,且各个所述第一电阻的阻值均不相同;所述MCU的采样管脚连接所述电源;所有所述第一电阻并联后连接所述电源。优选地,还包括:第二电阻;所述第二电阻一端连接所述电源,另一端连接所述采样管脚、并联后的所有所述第一电阻。优选地,还包括滤波电路;所述滤波电路连接于所述第二电阻和所述采样管脚之间。本申请第二方面体用了一种检测方法,用于上述第一方面所述的处理器单板的状态检测装置运行或工作,包括:获取所述采样管脚处的检测电压;根据电压和单板组合的对应关系,确定所述检测电压对应的单板组合。优选地,所述方法还包括:获取所述背板上各槽位和各单板的连接关系;根据所述连接关系确定各单板对应的第一电阻的阻值信息;根据所有所述阻值信息和所述电源的电压信息,确定由第一电阻构成的所有电阻组合各自对应的电压。从以上技术方案可以看出,本申请实施例具有以下优点:本申请提供了一种处理器单板的状态检测装置,包括:MCU、背板、电源和若干第一电阻;所述背板的每一槽位内对应安装一个所述第一电阻,且各个所述第一电阻的阻值均不相同;所述MCU的采样管脚连接所述电源;所有所述第一电阻并联后连接所述电源。本申请在背板的每一槽位内安装一个第一电阻,且各第一电阻的阻值均不相同,背板上没有业务单板插入时,MCU采集到底的电压为电源电压,当有背板插入某一槽位时,该槽位处安装的电阻被导通,导致MCU采集到的电压会发生变化,根据采集到的电压,可以确定引起电压变化的电阻具体为哪个,即确定槽位信息,根据槽位信息即可确定插入的单板的信息,整个检测装置中不管业务单板有多少个,只用到了MCU的采样管脚,减少了对MCU管脚的使用,从而解决了现有对处理器业务单板的状态检测方法,因过多占用MCU管脚导致整个主控板硬件资源短缺的技术问题。附图说明图1为现有技术中各业务单板状态检测装置的结构示意图;图2为本申请实施例中一种处理器单板的状态检测装置的实施例的结构示意图;图3为本申请实施例中一种处理器单板的状态检测方法的实施例的流程示意图。具体实施方式本申请实施例提供了一种处理器单板的状态检测装置及一种检测方法,解决现有对处理器业务单板的状态检测方法,因占用主控板管脚较多,导致整个主控板硬件资源短缺的技术问题。为了使本
的人员更好地理解本申请方案,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。本申请实施例第一方面提供一种处理器单板的状态检测装置。请参见图2,本申请实施例中一种处理器单板的状态检测装置的第一实施例的结构示意图。本实施例中的一种处理器单板的状态检测装置,包括:MCU、背板、电源和若干第一电阻;背板的每一槽位内对应安装一个第一电阻,且各个第一电阻的阻值均不相同;MCU的采样管脚连接电源;所有第一电阻并联后连接电源。本实施例中,在背板的每一槽位内安装一个第一电阻,且各第一电阻的阻值均不相同,背板上没有业务单板插入时,MCU采集到底的电压为电源电压,当有背板插入某一槽位时,该槽位处安装的电阻被导通,导致MCU采集到的电压会发生变化,根据采集到的电压,可以确定引起电压变化的电阻具体为哪个,即确定槽位信息,根据槽位信息即可确定插入的单板的信息,整个检测装置中不管业务单板有多少个,只用到了MCU的采样管脚,减少了对MCU管脚的使用,从而解决了现有对处理器业务单板的状态检测方法,因过多占用MCU管脚导致整个主控板硬件资源短缺的技术问题。以上为本申请实施例提供的一种处理器单板的状态检测装置的第一实施例,以下为本申请实施例提供的一种处理器单板的状态检测装置的第二实施例,具体请参见图2。本申请实施例中一种处理器单板的状态检测装置,包括:MCU、背板、电源和若干第一电阻;背板的每一槽位内对应安装一个第一电阻,且各个第一电阻的阻值均不相同;MCU的采样管脚连接电源;所有第一电阻并联后连接电源。需要说明的是,如图2所示,本实施例中因为不需要从将MCU的IO管脚一一对应连接引出至背板,使得整个主控板的管脚使用也减少了,增加了主控板的管脚使用率。对比图1和图2可知,假设业务单板的数量为4个时,MCU的管脚使用数量由4减少为1,主控板与背板连接的管脚需求量由4减少为1。参见图2,本实施例中对处理器单板的状态检测装置的原理为:假设VCC=5V,R2=1k、R3=2k、R4=3k、R5=4k为例,当背板中无业务单板接入时(R2、R3、R4、R5处于悬空状态),ADC采样点获得的电压等于VCC,其中VCC电压等于5V,即MCU以ADC采样点值为5V作为无单板接入状态标识,当业务单板1接入槽位1,则电阻R2通过业务单板1接地,ADC采样点电压等于(VCC*R_2)/((R_1+R_2))=2.5V,则以2.5V作为只有槽位1单板在线的状态标识。当不同的业务单板接入背板时,则可获得不同的电压值,MCU通过读取ADC电压,可获得各槽位处业务单板的状态信息。本实施例中不同的业务单板接入系统对应的电压如下表所示,其中1表示该槽位对应的单板在线,0表示不在线。本实施例中的处理器单板的状态检测装置还包括第二电阻,将电源电压上拉至稳定值,确保电源电压的稳定,第二电阻一端连接电源,另一端连接采样管脚、并联后的所有第一电阻。本实施例中为了采样的准确,在第二电阻和采样管脚之间设置有滤波电路。本实施例中,在背板的每一槽位内安装一个第一电阻,且各第一电阻的阻值均不相同,背板上没有业务单板插入时,MCU采集到底的电压为电源电压,当有背板插入某一槽位时,该槽位处安装的电阻被导通,导致MCU采集到的电压会发生变化,根据采集到的电压,可以确定引起电压变化的电阻具体为哪个,即确定槽位信息,根据槽位信息即可确定插入的单板的信息,整个检测装置中不管业务单板有多少本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种处理器单板的状态检测装置,其特征在于,包括:MCU、背板、电源和若干第一电阻;所述背板的每一槽位内对应安装一个所述第一电阻,且各个所述第一电阻的阻值均不相同;所述MCU的采样管脚连接所述电源;所有所述第一电阻并联后连接所述电源。

【技术特征摘要】
1.一种处理器单板的状态检测装置,其特征在于,包括:MCU、背板、电源和若干第一电阻;所述背板的每一槽位内对应安装一个所述第一电阻,且各个所述第一电阻的阻值均不相同;所述MCU的采样管脚连接所述电源;所有所述第一电阻并联后连接所述电源。2.根据权利要求1所述的处理器单板的状态检测装置,其特征在于,还包括:第二电阻;所述第二电阻一端连接所述电源,另一端连接所述采样管脚、并联后的所有所述第一电阻。3.根据权利要求2所述的处理器单板的状态检测装置,其特征在于,还包括滤波电路;所述滤波电...

【专利技术属性】
技术研发人员:林文韬
申请(专利权)人:威创集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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