【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光学叠堆
技术介绍
多层光学膜是已知的。此类膜可结合有由不同的透光材料形成的大量薄层,该层称为微层,这是因为它们足够薄使得光学膜的反射和透射特性在很大程度上取决于从层界面反射的光的相长干涉和相消干涉。根据各个微层所具有的双折射(如果有的话)的值和相邻微层的相对折射率差值并且另外根据其它设计特性,可将多层光学膜制备成具有这样的反射和透射特性:其可例如在一些情况下被表征为反射型偏振器,而在其它情况下被表征为反射镜。由多个微层构成的反射型偏振器为人们所知已有一段时间,所述多个微层的面内折射率被选择成提供沿着面内阻光轴的相邻微层之间的显著折射率失配和沿着面内透光轴的相邻微层之间的显著折射率匹配,并且具有足够数量的层以确保对于沿一个主方向(称为阻光轴)偏振的垂直入射光具有高反射率、同时对于沿正交主方向(称为透光轴)偏振的垂直入射光保持低反射率和高透射率。参见例如美国专利3,610,729(Rogers)、4,446,305(Rogers等人)和5,486,949(Schrenk等人)。
技术实现思路
在本说明书的一些方面,提供了一种光学叠堆,该光学叠堆包括第一反射型偏振器和邻近第一反射型偏振器设置的另外的部分反射型部件。在一些实施方案中,另外的部分反射型部件为第二反射型偏振器。在一些实施方案中,另外的部分反射型部件为准直反射器。在本说明书的一些方面,提供了一种光学叠堆,该光学叠堆包括第一反射型偏振器和邻近第一反射型偏振器设置的第二反射型偏振器。第一反射型偏振器具有第一透光轴和正交的第一阻光轴,并且包括具有第一f比率的第一多个交替聚合物层。第一反射型偏振器对于垂直入射的沿第一阻 ...
【技术保护点】
1.一种光学叠堆,所述光学叠堆包括:第一反射型偏振器,所述第一反射型偏振器具有第一透光轴和正交的第一阻光轴,并且包括具有第一f比率的第一多个交替聚合物层,所述第一反射型偏振器对于垂直入射的沿所述第一阻光轴偏振的光而言具有至少90%的第一平均可见光反射率,而对于垂直入射的沿所述第一透光轴偏振的光而言具有至少85%的第一平均可见光透射率;以及邻近所述第一反射型偏振器的第二反射型偏振器,所述第二反射型偏振器具有第二透光轴和正交的第二阻光轴,并且包括具有第二f比率的第二多个交替聚合物层,所述第二反射型偏振器对于垂直入射的沿所述第二阻光轴偏振的光而言具有第二平均可见光反射率,所述第二平均可见光反射率不大于所述第一平均可见光反射率减去10%,其中所述第二f比率不同于所述第一f比率,并且所述第二透光轴不平行于所述第一透光轴。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.11.29 US 62/427,4501.一种光学叠堆,所述光学叠堆包括:第一反射型偏振器,所述第一反射型偏振器具有第一透光轴和正交的第一阻光轴,并且包括具有第一f比率的第一多个交替聚合物层,所述第一反射型偏振器对于垂直入射的沿所述第一阻光轴偏振的光而言具有至少90%的第一平均可见光反射率,而对于垂直入射的沿所述第一透光轴偏振的光而言具有至少85%的第一平均可见光透射率;以及邻近所述第一反射型偏振器的第二反射型偏振器,所述第二反射型偏振器具有第二透光轴和正交的第二阻光轴,并且包括具有第二f比率的第二多个交替聚合物层,所述第二反射型偏振器对于垂直入射的沿所述第二阻光轴偏振的光而言具有第二平均可见光反射率,所述第二平均可见光反射率不大于所述第一平均可见光反射率减去10%,其中所述第二f比率不同于所述第一f比率,并且所述第二透光轴不平行于所述第一透光轴。2.根据权利要求1所述的光学叠堆,其中所述第一透光轴和所述第二透光轴之间的角度在10至90度的范围内。3.根据权利要求1所述的光学叠堆,其中所述第一f比率在0.4至0.6的范围内,并且所述第二f比率小于0.2或大于0.8。4.根据权利要求1所述的光学叠堆,其中所述第二反射型偏振器为准直反射型偏振器。5.根据权利要求4所述的光学叠堆,其中所述准直反射型偏振器对于p偏振光而言垂直入射时沿所述第二透光轴的平均可见光透射率为Tpassnormal,且对于p偏振光而言60度入射时沿所述第二透光轴的平均可见光透射率为Tpass60,并且Tpass60与Tpassnormal的比率小于0.75。6.根据权利要求1所述的光学叠堆,其中所述第二平均可见光反射率不大于所述第一平均可见光反射率减去20%。7.根据权利要求1所述的光学叠堆,其中所述第二平均可见光反射率不大于50%。8.根据权利要求1所述的光学叠堆,所述光学叠堆还包括吸收型偏振器,所述吸收型偏振器具有与所述第一透光轴对准的第三透光轴,所述吸收型偏振器与所述第二偏振器相反地附接到所述第一偏振器。9.根据权利要求1所述的光学叠堆,其中所述第一反射型偏振器已是大致单轴拉伸的,对于U=(1/MDDR-1)/(TDDR1/2-1),U为至少0.85,MDDR被定义为纵向拉伸比,并且TDDR被定义为横向拉伸比。10.一种光学叠堆,所述光学叠堆包括:第一...
【专利技术属性】
技术研发人员:吉勒·J·伯努瓦,蒂莫西·J·内维特,马修·B·约翰逊,
申请(专利权)人:三M创新有限公司,
类型:发明
国别省市:美国,US
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