短焦光扫描装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种短焦光扫描装置，包括光源半导体激光器、会聚透镜、光阑、整形透镜、同步传感器、反射体、同步光线折射镜、扫描透镜、感光鼓和光学盒。本实用新型专利技术在之前的激光扫描装置的基础上，做了设计上的创新，出射光设计为会聚焦点的激光，而不是此前的平行光，通过此新型设计可以极大的提高扫描装置的装调测试效率，具有很高的应用价值。

Short Focus Scanning Device

【技术实现步骤摘要】
短焦光扫描装置
本技术涉及使激光向规定方向偏转来扫描感光体表面的光扫描装置，以及具备该光扫描装置的图像成形装置，尤其是一种短焦光扫描装置。
技术介绍
以往，激光打印机中使用的光扫描装置中已为公众所知的是：通过多面体棱镜的转动使从光源射出的激光束偏转来进行扫描，并且根据通过成像透镜使激光束的一部分被折返镜反射入射到光电传感器的感光面时，从光传感器输出检测信号，来确定开始向感光体上写入信息。例如，在现有技术中，通过将出射激光准直成平行光后通过光阑，再通过主扫描方向上聚光的圆柱透镜配置在接近光电传感器的位置上，可以缩短从多面体棱镜到光传感器的距离，从而实现装置的小型化。然而这种方法可造作性差，不利于扫描装置的调试和精确定位。
技术实现思路
本技术的目的在于弥补现有技术的不足之处，提供一种可以提高调试效率、保证精确定位的短焦光扫描装置。本技术的目的是通过以下技术手段实现的：一种短焦光扫描装置，其特征在于：包括光源半导体激光器、会聚透镜、光阑、整形透镜、同步传感器、反射体、同步光线折射镜、扫描透镜、感光鼓和光学盒，光学盒内部左侧的激光电路板上安装光源半导体激光器；同步传感器置于激光电路板上，并处于激光器靠近扫描方向的一侧；会聚透镜安装于透镜座中加装光阑后再整体固定于激光电路板上，且会聚透镜位于光源半导体激光器的右侧；整形透镜安装于光学盒的卡槽内，且整形透镜位于会聚透镜的右侧；反射体安装在光学盒内，且位于扫描电机顶部；反射体的前方设置两个扫描透镜，该两个扫描透镜均安装在光学盒的卡槽内；两个扫描透镜之间设置同步棱镜，该同步棱镜安装在光学盒的卡槽内；感光鼓位于扫描透镜前方，且设置在光学盒外部。而且，所述的光源半导体激光器为一个或者多个。而且，所述的光源半导体激光器发射的激光朝向会聚透镜，会聚透镜和整形透镜的光路位于同一条直线上并朝向反射体。而且，所述的反射体的主体是由扫描电机驱动等速度转动的反射镜，该反射镜具有多个反射面。本技术的优点和积极效果是：本技术提供了一种激光扫描装置，其包括：光源，发射激光；会聚装置，激光出射后不再是平行光，而是设计成会聚光，并且结合扫描镜自由曲面的设计，可极大的提高调试效率；光阑，过滤杂光；整形透镜，在副扫描方向压缩激光，形成窄线；反射体，反射从所述光源出射的激光并使激光偏转；扫描透镜，使所述反射面反射的激光以等速对感光体的表面进行扫描；同步传感器，接收所述反射体反射的每面第一个光信号，并输出表示接收到所述激光的检测信号。感光体，接收扫描的激光并形成静电浅像，用以形成打印图像。本装置的特点在于区别以往前端激光出射装置准直为平行光的方案，本技术将前端设计为会聚光束，具有短焦距的特点，从而可以极大提高调试效率。附图说明图1是光扫描装置的配件图；图2是光扫描装置的装配结构图。图中的标记为：1、光源半导体激光器；2、会聚透镜；3、光阑；4、整形透镜；5、同步传感器；6、反射体；7、同步光线折射镜；8a、扫描透镜；8b、扫描透镜；9、感光鼓；10、光学盒。具体实施方式下面结合附图详细叙述本技术的实施例，需要说明的是，本实施例是叙述性的，不是限定性的，不能以此限定本技术的保护范围。一种短焦光扫描装置，包括光源半导体激光器1、会聚透镜2、光阑3、整形透镜4、同步传感器5、反射体6、同步光线折射镜7、扫描透镜、感光鼓9和光学盒10。光学盒内部左侧的激光电路板上安装光源半导体激光器，用于射出激光，并被准直成会聚光束。同步传感器置于激光电路板上，并处于激光器靠近扫描方向的一侧，用于接收所述反射体反射的所述激光，并输出表示接收到所述激光的检测信号。会聚透镜安装于透镜座中加装光阑后再整体固定于激光电路板上，且会聚透镜位于光源半导体激光器的右侧。会聚透镜及光阑可反射出所述光源射出的激光并使激光偏转。整形透镜安装于光学盒的卡槽内，且整形透镜位于会聚透镜的右侧，在副扫描方向压缩激光，形成窄线。反射体反射的激光通过第一扫描镜被射入到同步透镜，最终被同步传感器接收。光源半导体激光器为一个或者多个。光源半导体激光器发射的激光朝向会聚透镜，会聚透镜和整形透镜的光路位于同一条直线上并朝向反射体。反射体安装在光学盒内，且位于扫描电机顶部，扫描电机基板固定于图2中所示光学盒相应位置；反射体的主体是由扫描电机驱动等速度转动的反射镜，该反射镜具有多个反射面，可将出射激光反射入扫描透镜。扫描透镜为两个，其均设置在反射体的前方，且该两个扫描透镜均安装在光学盒的卡槽内；两个扫描透镜之间设置同步棱镜8a和8b，该同步棱镜安装在光学盒的卡槽内。扫描透镜使所述反射面反射的激光以等速对感光体的表面进行扫描。感光鼓位于扫描透镜前方，且设置在光学盒外部。感光鼓接收扫描的激光并形成静电浅像，用以形成打印图像。本技术的工作原理是：感光体的感光鼓9为圆筒状，接受来自省略图示的主电机驱动，在图1中沿顺时针方向转动。光源半导体激光器1射出规定波长的激光，会聚透镜2和光阑3共同使从半导体激光器1射出的激光在规定位置会聚焦点。整形镜(整形柱面镜)4，使会聚的激光在副扫描方向压缩，并入射到反射体上。反射体6由扫描电机驱动等速度转动，反射体具有多个反射面，通过各反射面使伴随转动入射的激光成为连续改变角度的偏转光束，并朝向扫描透镜反射。扫描透镜组8对被多面反射体6反射而成为偏转光束的激光进行聚光，并且通过扫描透镜8a和扫描透镜8b的配合，将聚光后的激光沿主扫描方向以等速对感光鼓9进行水平扫描。同步传感器5与同步光线折射镜7的作用是使激光开始对感光鼓9进行水平扫描的时机与多面反射体6的转动同步。同步传感器5通过反射体6和同步光线折射镜7接收被多面反射体6反射的激光，并且在接收到的激光光量相当的电荷积累到规定量的时点，输出表示接收到该激光检测信号。由同步传感器5输出的检测信号用于使多面体转动与开始写入图像数据的时机同步。此外，同步传感器5为了对积蓄了与接收到的激光光量相当的电荷进行光电变换处理，需要被称为传感器固有响应延迟时间的规定时间，该规定时间的期间具有从开始接收到激光后到该规定时间的期间内不能输出上述检测信号的特性。本技术提及的扫描装置由主控器控制，主控制器控制激光驱动，多面反射体转动，以及出射激光与多面反射体转动同步，并且光源驱动控制器利用同步传感器(光电二极管)的检测信号，对激光二极管进行发光量控制，即自动功率控制。在光源驱动控制器的控制下，沿图像数据的主扫描方向对感光鼓9进行一行的水平扫描。然后在主控制器的控制下，感光鼓9仅沿副扫描方向转动一行，然后再进行下一行的扫描。此外，激光器1并不限于上述结构，也可以设置多个激光器，从多个半导体激光器沿副扫描方向并列射出激光，从而并列且同时对主扫描方向进行多行扫描。需要强调的是，本技术所述实施例是说明性的，而不是限定性的，因此本技术包括并不限于具体实施方式中所述实施例，凡是由本领域技术人员根据本技术的技术方案得出的其他实施方式，同样属于本技术保护的范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种短焦光扫描装置，其特征在于：包括光源半导体激光器、会聚透镜、光阑、整形透镜、同步传感器、反射体、同步光线折射镜、扫描透镜、感光鼓和光学盒，光学盒内部左侧的激光电路板上安装光源半导体激光器；同步传感器置于激光电路板上，并处于激光器靠近扫描方向的一侧；会聚透镜安装于透镜座中加装光阑后再整体固定于激光电路板上，且会聚透镜位于光源半导体激光器的右侧；整形透镜安装于光学盒的卡槽内，且整形透镜位于会聚透镜的右侧；反射体安装在光学盒内，且位于扫描电机顶部；反射体的前方设置两个扫描透镜，该两个扫描透镜均安装在光学盒的卡槽内；两个扫描透镜之间设置同步棱镜，该同步棱镜安装在光学盒的卡槽内；感光鼓位于扫描透镜前方，且设置在光学盒外部。

【技术特征摘要】
1.一种短焦光扫描装置，其特征在于：包括光源半导体激光器、会聚透镜、光阑、整形透镜、同步传感器、反射体、同步光线折射镜、扫描透镜、感光鼓和光学盒，光学盒内部左侧的激光电路板上安装光源半导体激光器；同步传感器置于激光电路板上，并处于激光器靠近扫描方向的一侧；会聚透镜安装于透镜座中加装光阑后再整体固定于激光电路板上，且会聚透镜位于光源半导体激光器的右侧；整形透镜安装于光学盒的卡槽内，且整形透镜位于会聚透镜的右侧；反射体安装在光学盒内，且位于扫描电机顶部；反射体的前方设置两个扫描透镜，该两个扫描透镜均安装在...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈涛，刁彦飞，张瑞波，李楠，魏江峰，李凤婷，
申请(专利权)人：中国船舶重工集团公司第七零七研究所，
类型：新型
国别省市：天津,12