一种集成电路测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种集成电路测试装置，包括底座，所述底座的表面焊接有螺纹调节轴，所述螺纹调节轴的表面设置有第一滑动槽，所述第一滑动槽的内侧滑动连接有压环与定位板，所述压环的下表面连接有第一弹簧的一端，所述第一弹簧的另一端与定位板连接，所述定位板的下表面粘接有绝缘垫，所述螺纹调节轴的上端螺纹连接有调节螺帽，所述底座的上表面设置有绝缘板。该集成电路测试装置第一通过转动调节螺帽挤压压环，压环通过第一弹簧向下压缩定位板以此固定集成电路块；第二通过按压下压柄，利用压气板挤压气囊，使气囊内的空气通过导气管从喷气嘴喷出对集成电路表面进行处理。

An Integrated Circuit Testing Device

The utility model discloses an integrated circuit testing device, which comprises a base, the surface of which is welded with a threaded regulating shaft, the surface of which is provided with a first sliding groove, the inner side of the first sliding groove is sliding connected with a pressure ring and a positioning plate, the lower surface of the pressure ring is connected with one end of the first spring, and the other end of the first spring is connected with a positioning plate. The lower surface of the positioning plate is bonded with an insulating pad, the upper end of the threaded adjustment shaft is connected with an adjusting nut, and the upper surface of the base is provided with an insulating plate. The integrated circuit testing device first rotates the adjusting nut to extrude the pressure ring, and the pressure ring compresses the positioning plate downward through the first spring to fix the integrated circuit block. Secondly, by pressing down the pressure handle, the air in the air bag is extruded by the pressure plate, and the surface of the integrated circuit is treated by the air ejected from the nozzle through the air guide pipe.

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试装置
本技术涉及集成电路检测
，具体为一种集成电路测试装置。
技术介绍
集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。1.现有的运算放大器集成电路块的检测一般人工使用万用表直流电压档，而诸如此类的手工检测，都要手持检测表相连的探针去接触集成电路检测部位的定位检测点，但如运算放大器集成电路的检测，还需要手动给集成电路加入干扰信号，则单人双手完成检测较为困难。2.一些厂商在大批量生产集成电路之后剩余产品会进行封存，当再需要时重新拿出销售，但在出厂时需要进行最后检查，由于堆积许久集成电路块表面会附着灰尘，在最后的检查过程中需要进行处理。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种集成电路测试装置，以解决集成电路块固定的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种集成电路测试装置，包括底座，所述底座的表面焊接有螺纹调节轴，所述螺纹调节轴的表面设置有第一滑动槽，所述第一滑动槽的内侧滑动连接有压环与定位板，所述压环的下表面连接有第一弹簧的一端，所述第一弹簧的另一端与定位板连接，所述定位板的下表面粘接有绝缘垫，所述螺纹调节轴的上端螺纹连接有调节螺帽，所述底座的上表面设置有绝缘板。优选的，所述底座的表面设置有安装槽，所述安装槽的侧壁设置有第二滑动槽，所述第二滑动槽的内侧滑动连接有压气板，所述压气板的表面设置有下压柄，所述压气板与安装槽的底部之间连接有第二弹簧，所述安装槽的内侧安装有气囊，所述气囊的出气孔处连接有导气管的一端，所述导气管的另一端安装有喷气嘴。优选的，所述底座的侧面设置有预留孔，所述预留孔的内侧穿插有导气管。与现有技术相比，本技术的有益效果是：该集成电路测试装置第一通过转动调节螺帽挤压压环，压环通过第一弹簧向下压缩定位板以此固定集成电路块；第二通过按压下压柄，利用压气板挤压气囊，使气囊内的空气通过导气管从喷气嘴喷出对集成电路表面进行处理。附图说明图1为本技术的整体结构示意图；图2为本技术的底座及螺纹调节轴侧视剖面图；图3为本技术的底座及安装槽剖面图；图4为本技术的底座俯视图。图中：1底座、2绝缘板、3螺纹调节轴、4调节螺帽、5压环、6第一弹簧、7第一滑动槽、8定位板、9绝缘垫、10下压柄、11导气管、12喷气嘴、13安装槽、14压气板、16第二弹簧、17气囊、18预留孔、19第二滑动槽。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1，一种集成电路测试装置，包括底座1，底座1的表面焊接有螺纹调节轴3，螺纹调节轴3的表面设置有第一滑动槽7，第一滑动槽7的内侧滑动连接有压环5与定位板8，压环5的下表面连接有第一弹簧6的一端，第一弹簧6的另一端与定位板8连接，利用第一弹簧6的伸缩性支撑定位板8固定集成电路块，有效的避免了固定集成电路块时定位板8与集成电路块边缘产生硬接触而导致集成电路块边缘受到挤压造成损坏，定位板8的下表面粘接有绝缘垫9，绝缘垫9及绝缘板2在集成电路块测试时起到绝缘保护的作用，螺纹调节轴3的上端螺纹连接有调节螺帽4，转动调节螺帽4挤压压环5通过定位板8固定集成电路块，底座1的上表面设置有绝缘板2。请参阅图3及图4，底座1的表面设置有安装槽13，安装槽13的侧壁设置有第二滑动槽19，第二滑动槽19起到定位导向的作用防止向下挤压时压气板14发生倾斜，第二滑动槽19的内侧滑动连接有压气板14，压气板14的表面设置有下压柄10，压气板14与安装槽13的底部之间连接有第二弹簧16，第二弹簧16的设置方便压气板14的复位，安装槽13的内侧安装有气囊17，气囊17采用橡胶材质本身具有弹性，当气囊17内的空气受到挤压排出时气囊17本身会立即复位，气囊17的出气孔处连接有导气管11的一端，导气管11的另一端安装有喷气嘴12。请参阅图3，底座1的侧面设置有预留孔18，预留孔18的内侧穿插有导气管11。本技术在具体实施时：需要固定集成电路板时，将集成电路板的边缘放置在绝缘板2与绝缘垫9之间，然后通过旋转调节螺帽4，使调节螺帽4沿螺纹调节轴3向下转动，转动的过程中，调节螺帽4的下表面会挤压压环5，带动压环5沿第一滑动槽7向下移动，因为压环5与定位板8之间通过第一弹簧6连接，在压环5向下的过程中第一弹簧6会将定位板8向下挤压，待调节螺帽4转动到一定位置时，利用第一弹簧6的弹力向下挤压定位板8将集成电路板固定；在对集成电路板表面灰尘进行处理时，将喷气嘴12对准集成电路块表面，因为安装槽13内安装有气囊17，且安装槽13及第二滑动槽19内侧滑动连接有压气板14，通过压气板14向下挤压气囊17使气囊17内的空气通过导气管11从喷气嘴12中喷出对集成电路块表面进行处理，又因为压气板14与安装槽13底部之间连接有第二弹簧16，利用第二弹簧16的伸缩性及气囊17本身的弹力将压气板14顶起复位以方便下一次的挤压清理。尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路测试装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的表面焊接有螺纹调节轴(3)，所述螺纹调节轴(3)的表面设置有第一滑动槽(7)，所述第一滑动槽(7)的内侧滑动连接有压环(5)与定位板(8)，所述压环(5)的下表面连接有第一弹簧(6)的一端，所述第一弹簧(6)的另一端与定位板(8)连接，所述定位板(8)的下表面粘接有绝缘垫(9)，所述螺纹调节轴(3)的上端螺纹连接有调节螺帽(4)，所述底座(1)的上表面设置有绝缘板(2)。

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的表面焊接有螺纹调节轴(3)，所述螺纹调节轴(3)的表面设置有第一滑动槽(7)，所述第一滑动槽(7)的内侧滑动连接有压环(5)与定位板(8)，所述压环(5)的下表面连接有第一弹簧(6)的一端，所述第一弹簧(6)的另一端与定位板(8)连接，所述定位板(8)的下表面粘接有绝缘垫(9)，所述螺纹调节轴(3)的上端螺纹连接有调节螺帽(4)，所述底座(1)的上表面设置有绝缘板(2)。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述底座(1)的表面设置...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱志辉，
申请(专利权)人：深圳市金道微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44