Android设备及其产测方法、装置、计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种Android设备产测方法，包括：Android设备系统开机后，读取USB接口状态；当所述USB接口的D+和D‑引脚未短接时，读取预设标志位；当所述预设标志位为非空值时，进入工厂测试模式。本发明专利技术还公开了一种Android设备产测装置、Android设备及计算机可读存储介质。本发明专利技术提高了Android设备产线生产、维修的效率。

【技术实现步骤摘要】
Android设备及其产测方法、装置、计算机可读存储介质
本专利技术涉及计算机
，尤其涉及一种Android设备及其产测方法、装置、计算机可读存储介质。
技术介绍
随着Android系统市场占有率提升，Android设备得到了广泛应用。目前，Android设备在生产出货前，一般将Android设备配置为用户模式，并进行质检，而Android设备一旦进入用户模式，就无法再进入工厂测试模式，若Android设备质检出现问题，通常需要拆开Android设备，更换Android设备的主板，这些操作耗时费力，从而导致Android设备质检效率低。
技术实现思路
本专利技术的主要目的是提供一种Android设备及其产测方法、装置、计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中Android设备质检效率低的问题。为实现上述目的，本专利技术提出Android设备产测方法，所述Android设备产测方法包括以下步骤：Android设备系统开机后，读取USB接口状态；当所述USB接口的D+和D-引脚未短接时，读取预设标志位；当所述预设标志位为非空值时，进入工厂测试模式。可选地，所述当所述USB接口的D+和D-引脚未短接时，读取预设标志位的步骤之后，还包括：当所述预设标志位为空值时，进入用户模式。可选地，所述Android设备系统开机后，读取USB接口状态的步骤之后，还包括：当所述USB接口的D+和D-引脚短接时，进入工厂测试模式。可选地，所述Android设备系统开机后，读取USB接口状态的步骤之后，还包括：当所述USB接口的D+和D-引脚短接时，重新赋值所述预设标志位。可选地，所述预设标志位为flag标志。此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种Android设备产测装置，所述Android设备产测装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的Android设备产测程序，所述Android设备产测程序被所述处理器执行时实现如上文所述的Android设备产测方法的步骤。此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种Android设备，所述Android设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的Android设备产测程序，所述Android设备产测程序被所述处理器执行时实现如上文所述的Android设备产测方法的步骤。此外，为实现上述目的，本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有Android设备产测程序，所述Android设备产测程序被处理器执行时实现如上文所述的Android设备产测方法的步骤。本专利技术技术方案中，当Android设备系统开机后，通过系统BootLoader读取USB接口状态，当USB接口的D+和D-引脚未短接时，读取预设标志位，若预设标志位为非空值，则进入工厂测试模式，在工厂测试模式下对Android设备进行质检，从而省去了拆开Android设备，更换Android设备的主板等操作，节省了时间成本，提高了Android设备的质检效率。附图说明图1是本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的Android设备产测装置结构示意图；图2是本专利技术的Android设备产测方法第一实施例的流程示意图；图3是本专利技术实施例方案涉及的一个可选的USB线处理示意图；图4是本专利技术的Android设备产测方法第二实施例的流程示意图。本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本专利技术实施例的解决方案主要是：当Android设备系统开机后，通过系统BootLoader读取USB接口状态，当USB接口的D+和D-引脚未短接时，读取预设标志位，若预设标志位为非空值，则进入工厂测试模式，在工厂测试模式下对Android设备进行质检，从而省去了拆开Android设备，更换Android设备的主板等操作，节省了时间成本，提高了Android设备的质检效率。通过本专利技术实施例的技术方案，解决了Android设备质检效率低的问题。本专利技术实施例提出一种Android设备产测装置。参照图1，图1为本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的Android设备产测装置结构示意图。在后续的描述中，使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或“单元”的后缀仅为了有利于本专利技术的说明，其本身没有特定的意义。因此，“模块”、“部件”或“单元”可以混合地使用。如图1所示，该Android设备产测装置可以包括：处理器1001、通信总线1002、用户接口1003、网络接口1004，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口)。存储器1005可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatilememory)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。本领域技术人员可以理解，图1中示出的Android设备产测装置结构并不构成对Android设备产测装置的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。如图1所示，作为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块以及Android设备产测程序。本专利技术中，Android设备产测装置通过处理器1001调用存储器1005中存储的Android设备产测程序，并执行以下操作：Android设备系统开机后，读取USB接口状态；当USB接口的D+和D-引脚未短接时，读取预设标志位；当预设标志位为非空值时，进入工厂测试模式。可选地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的Android设备产测程序，还执行以下操作：当预设标志位为空值时，进入用户模式。可选地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的Android设备产测程序，还执行以下操作：当USB接口的D+和D-引脚短接时，进入工厂测试模式。可选地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的Android设备产测程序，还执行以下操作：当USB接口的D+和D-引脚短接时，重新赋值预设标志位。本实施例通过上述方案，当Android设备系统开机后，通过系统BootLoader读取USB接口状态，当USB接口的D+和D-引脚未短接时，读取预设标志位，若预设标志位为非空值，则进入工厂测试模式，在工厂测试模式下对Android设备进行质检，从而省去了拆开Android设备，更换Android设备的主板等操作，节省了时间成本，提高了Android设备的质检效率。基于上述硬件结构，提出本专利技术Android设备产测方法实施例。参照图2，图2为本专利技术Android设备产测方法第一实施例的流程示意图。在第一实施例中，Android设备产测方法包括以下步骤：步骤S10，Android设备系统开机后，读取USB接口状态；步骤S20，当USB接口的D+和D-引脚未短接时，读取预设标志位；步骤S30，当预设标志位为非本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种Android设备产测方法，其特征在于，所述Android设备产测方法包括以下步骤：Android设备系统开机后，读取USB接口状态；当所述USB接口的D+和D‑引脚未短接时，读取预设标志位；当所述预设标志位为非空值时，进入工厂测试模式。

【技术特征摘要】
1.一种Android设备产测方法，其特征在于，所述Android设备产测方法包括以下步骤：Android设备系统开机后，读取USB接口状态；当所述USB接口的D+和D-引脚未短接时，读取预设标志位；当所述预设标志位为非空值时，进入工厂测试模式。2.如权利要求1所述的Android设备产测方法，其特征在于，所述当所述USB接口的D+和D-引脚未短接时，读取预设标志位的步骤之后，还包括：当所述预设标志位为空值时，进入用户模式。3.如权利要求1所述的Android设备产测方法，其特征在于，所述Android设备系统开机后，读取USB接口状态的步骤之后，还包括：当所述USB接口的D+和D-引脚短接时，进入工厂测试模式。4.如权利要求3所述的Android设备产测方法，其特征在于，所述Android设备系统开机后，读取USB接口状态的步骤之后，还包括：当所述USB接口的D+和D-引脚短接时，重新赋值所述预设标志位。5.如权利要求1-4任一项...

【专利技术属性】
技术研发人员：李绍祥，陈晨，
申请(专利权)人：歌尔科技有限公司，
类型：发明
国别省市：山东,37