内置像素补偿功能的显示装置、显示面板及其制造方法制造方法及图纸

技术编号:21402978 阅读:35 留言:0更新日期:2019-06-19 08:07
本发明专利技术公开了一种内置像素补偿功能的显示装置、显示面板及其制造方法,所述显示面板,包括:衬底基板、电致发光EL器件、设置于所述EL器件和衬底基板之间的所述EL器件的驱动背板、设置于所述驱动背板与所述衬底基板之间的光检测单元;其中,所述EL器件的反射阳极中设有透光孔与所述光检测单元中的光敏探测元件相对;所述光检测单元用以通过所述透光孔检测所述EL器件的亮度信号,并输出作为所述EL器件的像素补偿依据的电信号。应用本发明专利技术可以进行实时的Demura补偿,且不会对电致发光元件的光线造成遮挡,提升顶发射OLED器件的开口率,避免影响显示装置的显示效果。

【技术实现步骤摘要】
内置像素补偿功能的显示装置、显示面板及其制造方法
本专利技术涉及显示
,特别是指一种内置像素补偿功能的显示装置、显示面板及其制造方法。
技术介绍
OLED(有机发光二极管,OrganicLight-EmittingDiode)或AMOLED(Active-matrixorganiclight-emittingdiode,主动矩阵有机发光二极体)作为一种电流型发光器件已越来越多地被应用于高性能显示中。由于它自发光的特性,与LCD相比具有高对比度、超轻薄等诸多优点。但是,亮度均匀性和残像仍然是它目前面临的两个主要难题,要解决这两个问题,除了工艺的改善,就不得不提到补偿技术。补偿方法可以分为内部补偿和外部补偿两大类。内部补偿是指在像素内部利用TFT(ThinFilmTransistor,薄膜晶体管)构建的子电路进行补偿的方法。外部补偿是指通过外部的驱动电路或设备感知像素的电学或光学特性然后进行补偿的方法。外部补偿根据数据抽取方法的不同又可以分为光学抽取式和电学抽取式。光学抽取式是指将背板点亮后通过光学CCD(电荷耦合器件图像传感器,ChargeCoupledDevice)照相的方法将亮度信号抽取出来,电学抽取式是指通过驱动芯片的感应电路将TFT和OLED的电学信号抽取出来。两种方法抽取的信号种类不同,因此数据处理的方式也不同。光学抽取的方式具有结构简单,方法灵活的优点,因此在现阶段被广泛采用,即为我们平时所说的Demura。Mura一词源于日本,原意指亮暗不均,后扩展至面板上任何人眼可识别的颜色差异。Demura补偿方法通常是通过高分辨率和高精度的CCD照相机拍摄数个灰阶画面;进而根据照相机采集的数据分析显示画面中像素颜色分布特征,并根据相关算法识别出Mura;根据Mura数据及相应的Demura补偿算法产生Demura数据即Mura补偿数据;将Demura数据烧录到FlashROM中,用以在显示画面时利用其进行Mura补偿。上述Demura补偿方法,补偿范围大,补偿精度高,驱动速度快,但是仅可在显示产品出厂前对显示产品中的像素进行补偿,即仅可进行一次补偿,不可对显示产品进行实时的补偿。现有技术提供了一种外部补偿方案可以对显示产品进行实时的补偿:一种集成于显示装置中的像素补偿电路包括一外部电学补偿子电路和外部光学补偿子电路,其中,外部光学补偿子电路用于在所述像素驱动电路的发光阶段,通过光敏探测元件检测所述电致发光元件的亮度信号,以根据亮度信号对电致发光元件进行补偿。具体地,如图1所示,该外部光学补偿子电路设置在所述显示装置的盖板上,且所述外部光学补偿子电路中的光敏探测元件与所述显示装置中的电致发光元件正对,以便检测所述电致发光元件的亮度信号。然而,通常显示装置的盖板为透明材质,如玻璃、有机薄膜等,以便电致发光元件的光线可以透过;然而,光敏探测元件及其驱动电路则不透明;因此,设置在盖板上的外部光学补偿子电路中的光敏探测元件及其驱动电路会对电致发光元件的光线造成遮挡,导致顶发射OLED器件的开口率较低,从而影响显示装置的显示效果。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术的目的在于提出一种内置像素补偿功能的显示装置、显示面板及其制造方法,可以进行实时的Demura补偿,且不会对电致发光元件的光线造成遮挡,避免影响显示装置的显示效果。基于上述目的本专利技术提供一种内置像素补偿功能的显示面板,包括:衬底基板、电致发光EL器件、设置于所述EL器件和衬底基板之间的所述EL器件的驱动背板、设置于所述驱动背板与所述衬底基板之间的光检测单元;其中,所述EL器件的反射阳极中设有透光孔与所述光检测单元中的光敏探测元件相对;所述光检测单元用以通过所述透光孔检测所述EL器件的亮度信号,并输出作为所述EL器件的像素补偿依据的电信号。进一步,所述显示面板还包括:设置于所述光检测单元与所述驱动背板之间的石墨烯层。进一步,所述显示面板还包括:设置于所述光检测单元与所述衬底基板之间的第一PI层;设置于所述石墨烯层与所述驱动背板之间的第二PI层、阻挡层。本专利技术还提供一种内置像素补偿功能的显示装置,包括:如上所述的显示面板;处理器,用于根据所述显示面板中的光检测单元输出的电信号,调整所述显示面板中相应EL器件的驱动晶体管的控制信号。本专利技术还提供一种内置像素补偿功能的显示面板的制造方法,包括:形成衬底基板上的光检测单元;在所述光检测单元上形成EL器件的驱动背板;在所述驱动背板上形成反射阳极中设有透光孔的EL器件;其中,所述EL器件的透光孔与所述光检测单元相对。其中,所述形成反射阳极中设有透光孔的EL器件的过程中,具体包括如下反射阳极的形成方法:在所述驱动背板上沉积一层ITO膜;在所述ITO膜上沉积一层金属层;对所述金属层进行掩膜、刻蚀形成所述透光孔;使用透明材质将所述透光孔填平后再沉积一层ITO膜,形成所述EL器件的反射阳极。进一步,在所述形成EL器件的驱动背板之前,还包括:在所述光检测单元上沉积一层石墨烯层。较佳地,所述形成衬底基板上的光检测单元,具体包括:在所述形成衬底基板上沉积第一PI层;在第一PI层上形成所述光检测单元;以及在所述光检测单元上沉积一层石墨烯层后,还包括:沉积第二PI层、阻挡层。本专利技术还提供一种内置像素补偿功能的显示面板的制造方法,包括:形成第一基板和第二基板;将第一基板和第二基板进行贴合;其中,第一基板包括衬底基板及其上的光检测单元;第二基板包括EL器件及其驱动背板;其中,所述EL器件的反射阳极中设有与所述光检测单元相对的透光孔。其中,所述形成第一基板,具体包括:在所述衬底基板上沉积第一PI层;在第一PI层上形成所述光检测单元;在所述光检测单元上沉积一层石墨烯层;以及所述形成第二基板,具体包括:在第二PI层上沉积阻挡层;在所述阻挡层上形成所述驱动背板;在所述驱动背板上形成反射阳极中设有透光孔的EL器件。本专利技术的技术方案中,将光检测单元设置于EL器件的驱动背板与衬底基板之间,同时EL器件的反射阳极中设有透光孔,光检测单元中的光敏探测元件与所述反射阳极的透光孔相对,通过所述透光孔光检测单元可以检测所述EL器件的亮度信号,并根据检测的亮度信号输出作为所述EL器件的像素补偿依据的电信号;从而实现对像素的实时Demura补偿;此外,由于光检测单元设置于EL器件的驱动背板下面,不会对电致发光元件的光线造成遮挡,不会影响顶发射EL器件的光线的射出,提升顶发射OLED器件的开口率,从而避免了影响显示面板的显示效果。进一步,在所述光检测单元与所述驱动背板之间还设置有石墨烯层,石墨烯层一方面可以允许EL器件的光线透过到达光检测单元的光敏探测元件,另一方面可以将EL器件的散热导出,防止EL器件的工作温度对光敏探测元件造成影响,保证光敏探测元件的检测精度。附图说明图1为现有技术的集成有外部光学补偿子电路的显示装置的结构示意图;图2、3为本专利技术实施例提供的一种内置像素补偿功能的显示面板的结构示意图;图4为本专利技术实施例提供的一种内置像素补偿功能的显示面板的制造方法流程图;图5为本专利技术实施例提供的一种形成衬底基板上的光检测单元的具体方法流程图;图6为本专利技术实施例提供的一种形成设有透光孔的反射阳极的具体方法流程图;图7为本专利技术实施例提供的另一种内置像素补偿功本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种内置像素补偿功能的显示面板,包括:衬底基板、电致发光EL器件、设置于所述EL器件和衬底基板之间的所述EL器件的驱动背板、设置于所述驱动背板与所述衬底基板之间的光检测单元;其中,所述EL器件的反射阳极中设有透光孔与所述光检测单元中的光敏探测元件相对;所述光检测单元用以通过所述透光孔检测所述EL器件的亮度信号,并输出作为所述EL器件的像素补偿依据的电信号。

【技术特征摘要】
1.一种内置像素补偿功能的显示面板,包括:衬底基板、电致发光EL器件、设置于所述EL器件和衬底基板之间的所述EL器件的驱动背板、设置于所述驱动背板与所述衬底基板之间的光检测单元;其中,所述EL器件的反射阳极中设有透光孔与所述光检测单元中的光敏探测元件相对;所述光检测单元用以通过所述透光孔检测所述EL器件的亮度信号,并输出作为所述EL器件的像素补偿依据的电信号。2.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,还包括:设置于所述光检测单元与所述驱动背板之间的石墨烯层。3.根据权利要求2所述的显示面板,其特征在于,还包括:设置于所述光检测单元与所述衬底基板之间的第一聚酰亚胺PI层;设置于所述石墨烯层与所述驱动背板之间的第二PI层、阻挡层。4.一种内置像素补偿功能的显示装置,其特征在于,包括:如权利要求1-3任一所述的显示面板;处理器,用于根据所述显示面板中的光检测单元输出的电信号,调整所述显示面板中相应EL器件的驱动晶体管的控制信号。5.一种内置像素补偿功能的显示面板的制造方法,其特征在于,包括:形成衬底基板上的光检测单元;在所述光检测单元上形成EL器件的驱动背板;在所述驱动背板上形成反射阳极中设有透光孔的EL器件;其中,所述EL器件的透光孔与所述光检测单元相对。6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述形成反射阳极中设有透光孔的...

【专利技术属性】
技术研发人员:张永峰焦志强
申请(专利权)人:京东方科技集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:北京,11

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