The utility model discloses an optical component damage detection device based on optical parametric amplification. Pumping light is incident vertically to the non-linear crystal after the delay system; signal light is incident vertically to the measured sample and scatters at the damage point on the surface of the measured sample. Positive lens I imagines the measured sample and transforms the scattered light into parallel light, which is incident into the non-linear crystal and amplifies with the pump light to produce amplified signal; The amplified signal enters the receiving CCD through the positive lens II and receives the amplified signal from the CCD. The damage information of the tested component is obtained. The optical component damage detection device based on optical parametric amplification of the utility model improves the size of damage detection, has the advantages of low cost, simple structure and convenient adjustment.
【技术实现步骤摘要】
一种基于光参量放大的光学元件损伤检测装置
本技术属于光学元件损伤检测
,具体涉及一种基于光参量放大的光学元件损伤检测装置。
技术介绍
传统的大型高功率固体激光装置紫外段光学元件损伤检测技术基于暗场成像原理,该技术可以直观、完整地反映出大口径光学元件表面损伤点大小、分布等情况。中国专利文献库公开的名称为《大口径光学元件损伤在线检测装置》的专利技术专利(申请号:03129347.6)为一种大型高功率固体激光装置主放大系统中的钕玻璃片受到强激光辐照后的损伤情况检测方法;中国专利文献库公开的名称为《多自由度光学元件损伤在线检测装置》的专利技术专利(申请号:201110435830.3),该专利申请为了观察大型高功率固体激光装置中受到强激光辐照后的紫外段元件的损伤情况,设计了一种可搭载成像系统的多维调节的机械结构。但是,这两种技术的不足之处在于,只能检测受到激光照射后的光学元件损伤情况,无法探测激光照射过程中的损伤动力学特征;它的另一个缺点在于,损伤点较小时发出的光亮度太暗而探测不到。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种基于光参量放大的光学元件损伤检测装置。本技术的基于光参量放大的光学元件损伤检测装置,其特点是:所述的检测装置分为泵浦光光路和信号光光路两部分;在泵浦光入射方向上,依次放置延迟器和非线性晶体C1;泵浦光经过延迟器后垂直入射到非线性晶体C1中;在信号光入射方向上,放置被测元件S1;信号光在通过被测样品S1的后表面损伤点时发生散射;在散射光光路内,放置正透镜Ⅰ;正透镜Ⅰ对被测样品S1进行成像,并将散射光变为平行光,同时按相位匹配角入射到非线 ...
【技术保护点】
1.一种基于光参量放大的光学元件损伤检测装置,其特征在于:所述的检测装置分为泵浦光光路和信号光光路两部分;在泵浦光入射方向上,依次放置延迟器(1)和非线性晶体C1(2);泵浦光经过延迟器(1)后垂直入射到非线性晶体C1(2)中;在信号光入射方向上,放置被测样品S1(3);信号光在通过被测样品S1(3)的后表面损伤点时发生散射;在散射光光路内,放置正透镜Ⅰ(4);正透镜Ⅰ(4)对被测样品S1(3)进行成像,并将散射光变为平行光,同时按相位匹配角入射到非线性晶体C1(2)内;泵浦光与信号光在非线性晶体C1(2)内产生光放大信号;在放大信号出射方向上依次放置正透镜Ⅱ(5)和接收CCD(6);正透镜Ⅱ(5)作用是将平行光进行会聚,并将正透镜Ⅰ(4)对被测样品S1(3)成的像传递到接收CCD(6)上;所述的接收CCD(6)外接计算机,来自接收CCD(6)的信号最后进入计算机进行数据处理。
【技术特征摘要】
1.一种基于光参量放大的光学元件损伤检测装置,其特征在于:所述的检测装置分为泵浦光光路和信号光光路两部分;在泵浦光入射方向上,依次放置延迟器(1)和非线性晶体C1(2);泵浦光经过延迟器(1)后垂直入射到非线性晶体C1(2)中;在信号光入射方向上,放置被测样品S1(3);信号光在通过被测样品S1(3)的后表面损伤点时发生散射;在散射光光路内,放置正透镜Ⅰ(4);正透镜Ⅰ(4)对被测样品S1(3)进行成像,并将散射光变为平行光,同时按相位匹配角入射到非线性晶体C1(2)内;泵浦光与信号光在非线性晶体C1(2)内产生光放大信号;在放大信号出射方向上依次放置正透镜Ⅱ(5)和接收CCD(6);正透镜Ⅱ(5)作用是将平行...
【专利技术属性】
技术研发人员:元浩宇,朱日宏,夏彦文,朱启华,彭志涛,孙志红,郑奎兴,粟敬钦,陈波,
申请(专利权)人:中国工程物理研究院激光聚变研究中心,
类型:新型
国别省市:四川,51
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