存储器的数据修复方法及存储器系统技术方案

本发明专利技术公开了一种存储器的数据修复方法及存储器系统，涉及集成电路技术领域。该存储器的数据修复方法包括：依次读取存储器数据的地址；检测当前地址的存储器数据、并输出检测状态；判断输出的所述检测状态为警告状态或正确状态；若输出的所述检测状态为警告状态，则记录该警告状态对应的存储器数据以及该存储器数据的当前地址，并将记录的存储器数据重新写入当前地址中，再重新读取当前地址及其对应存储器数据；若输出的所述检测状态为正确状态，则继续读取下一个地址的存储器数据进行检测；直至将所述存储器中所有数据的地址均检测完成。本发明专利技术技术方案通过将存储器中出错的数据及其对应的地址重新写入存储器中，以达到修复存储器数据的目的。

Data Repair Method of Memory and Memory System

The invention discloses a data repair method of a memory and a memory system, which relates to the technical field of integrated circuits. The data repair method of the memory includes: reading the address of the memory data in turn; detecting the memory data of the current address and outputting the detection state; judging that the detection state of the output is a warning state or a correct state; recording the memory data corresponding to the warning state and the current address of the memory data if the detection state of the output is a warning state; The recorded memory data is rewritten to the current address, and the current address and corresponding memory data are re-read. If the output of the detection state is in the correct state, the memory data of the next address is read for detection until all the addresses of the data in the memory are detected. The technical scheme of the invention achieves the purpose of repairing the memory data by rewriting the erroneous data in the memory and the corresponding address in the memory.

【技术实现步骤摘要】
存储器的数据修复方法及存储器系统
本专利技术涉及集成电路
，特别是涉及存储器的数据修复方法及存储器系统。
技术介绍
MTP存储器是一种可多次编程的非易失性存储器，但实际上其所存储的数据会随着时间的推移缓慢的丢失数据。一般会通过增加ECC(ErrorCorrectingCode)功能来校正读出来的数据，以达到读出正确的数据的目的。但是，ECC功能并没有真正的修复存储器所保存的数据，只是修正的读出来的数据，当存储器所保存的数据丢失到一定的程度时，ECC功能就再也无法校正数据了。所以我们需要及时的修复存储器中的数据，防止无法校正的错误。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种存储器的数据修复方法及存储器系统，旨在及时修复存储器中存在错误的数据信息。为实现上述目的，本专利技术提供一种存储器的数据修复方法，包括以下步骤：依次读取存储器数据的地址；检测当前地址的存储器数据、并输出检测状态；判断输出的所述检测状态为警告状态或正确状态；若输出的所述检测状态为警告状态，则记录该警告状态对应的存储器数据以及该存储器数据的当前地址，并将记录的存储器数据重新写入当前地址中，再重新读取当前地址及其对应存储器数据进行检测；若输出的所述检测状态为正确状态，则继续读取下一个地址的存储器数据进行检测；直至将所述存储器中所有数据的地址均检测完成。优选地，若输出的所述检测状态为正确状态，则继续读取下一个地址的存储器数据进行检测还包括：判断当前地址是否为存储器数据中的最后地址，若当前地址是存储器数据中的最后地址，则结束检测；若当前地址不是存储器地址中的最后地址，则继续读取下一个地址的存储器数据进行检测，直至将所述存储器中所有数据的地址均检测完成。优选地，通过检测模块检测当前地址的存储器数据，所述检测模块为带数据错误检测的ECC检测模块。优选地，所述检测状态还包括错误状态。优选地，当检测状态为正确状态时，判断当前地址存储器数据正确，则继续读取下一个地址的存储器数据进行检测；当检测状态为警告状态时，判断当前地址存储器数据有误，但已被所述ECC检测模块校正，输出数据正确，则记录该警告状态对应的存储器数据以及该存储器数据的当前地址，并将记录的存储器数据重新写入存储器的当前地址中，再重新读取当前地址及其对应存储器数据进行检测；当检测状态为错误状态时，判断当前地址存储器数据有误，且无法被所述ECC检测模块校正，输出数据错误并结束当前检测。本专利技术还提供一种存储器系统，所述系统包括：存储器，用于存储数据以及所述数据对应的地址；检测模块，用于检测当前地址的存储器数据、并输出检测状态；控制模块，用于依次读取存储器数据的地址，接收检测模块输出的检测状态、并判断为警告状态或正确状态，若输出的所述检测状态为警告状态，则记录该警告状态对应的存储器数据以及该存储器数据的当前地址，并将记录的存储器数据重新写入当前地址中，再重新读取当前地址及其对应存储器数据进行检测；若输出的所述检测状态为正确状态，则继续读取下一个地址的存储器数据进行检测。优选地，所述控制模块还包括判断子模块，用于判断检测状态为警告状态或正确状态、以及判断当前存储器数据的地址是否为存储器数据中的最后地址，若当前地址是存储器数据中的最后地址，则结束检测，若当前地址不是存储器地址中的最后地址，则继续读取下一个地址的存储器数据进行检测，直至将所述存储器中所有数据的地址均检测完成。优选地，所述检测模块为带数据错误检测的ECC检测模块。优选地，所述判断子模块还包括：判断当前检测状态是否为错误状态。优选地，当检测状态为正确状态时，所述判断子模块判断当前地址存储器数据正确，所述控制模块继续读取下一个地址的存储器数据进行检测；当检测状态为警告状态时，所述判断子模块判断当前地址存储器数据有误，但已被所述ECC检测模块校正，输出数据正确；所述控制模块记录该警告状态对应的存储器数据以及该存储器数据的当前地址，并将记录的存储器数据重新写入存储器的当前地址中，再重新读取当前地址及其对应存储器数据进行检测；当检测状态为错误状态时，判断当前地址存储器数据有误，且无法被所述ECC检测模块校正，输出数据错误并结束当前检测。本专利技术技术方案通过读取存储器数据及其地址，检测其是否存在警告状态，若存在警告状态，则将该出错的且被修复的数据及其对应的地址重新写入存储器中，以达到修复存储器数据的目的。附图说明图1为本专利技术存储器的数据修复方法的流程示意图；图2为本专利技术存储器系统原理示意图。本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。下面结合附图对本专利技术进一步说明。本专利技术实施例提供一种存储器的数据修复方法，适用于芯片应用过程中的数据修复，如图1所示，该方法包括以下步骤：依次读取存储器数据的地址；检测当前地址的存储器数据、并输出检测状态；判断输出的所述检测状态为警告状态或正确状态；若输出的所述检测状态为警告状态，则记录该警告状态对应的存储器数据以及该存储器数据的当前地址，并将记录的存储器数据重新写入当前地址中，再重新读取当前地址及其对应存储器数据进行检测；若输出的所述检测状态为正确状态，则继续读取下一个地址的存储器数据进行检测；直至将所述存储器中所有数据的地址均检测完成。优选地，若输出的所述检测状态为正确状态，则继续读取下一个地址的存储器数据进行检测还包括：判断当前地址是否为存储器数据中的最后地址，若当前地址是存储器数据中的最后地址，则结束检测；若当前地址不是存储器地址中的最后地址，则继续读取下一个地址的存储器数据进行检测，直至将所述存储器中所有数据的地址均检测完成。优选地，通过检测模块检测当前地址的存储器数据，所述检测模块为带数据错误检测的ECC检测模块。优选地，所述检测状态还包括错误状态。优选地，当检测状态为正确状态时，判断当前地址存储器数据正确，则继续读取下一个地址的存储器数据进行检测；当检测状态为警告状态时，判断当前地址存储器数据有误，但已被所述ECC检测模块校正，输出数据正确，则记录该警告状态对应的存储器数据以及该存储器数据的当前地址，并将记录的存储器数据重新写入存储器的当前地址中，再重新读取当前地址及其对应存储器数据进行检测；当检测状态为错误状态时，判断当前地址存储器数据有误，且无法被所述ECC检测模块校正，输出数据错误并结束当前检测。在具体实施例中，如图1所示，从存储器的数据的首地址开始，依次读取存储器数据及其对应的地址，检测判断当前地址对应的数据的检测状态。当检测状态为正确状态时，判断当前地址是否为最后地址，若是最后地址则结束本轮检测，间隔预设时间后，再从存储器首地址开始依次检测存储器数据；若当前地址不是最后地址，则将当前地址加一继续检测。当检测状态为警告状态时，记录当前存储器数据以及该存储器数据的当前地址，并将记录的存储器数据重新写入存储器的当前地址中，再重新读取当前地址及其对应存储器数据进行检测。当检测状态为错误状态时，判断当前地址存储器数据有误，且无法修复数据，输出数据错误，结束当前检测。在存储器系统使用本专利技术的数据修复方法，及时修复数据，基本不会出现错误状态。本专利技术还提供一种存储器系统，如图2所示，所述系统包括：存储器本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种存储器的数据修复方法，其特征在于，包括以下步骤：依次读取存储器数据的地址；检测当前地址的存储器数据、并输出检测状态；判断输出的所述检测状态为警告状态或正确状态；若输出的所述检测状态为警告状态，则记录该警告状态对应的存储器数据以及该存储器数据的当前地址，并将记录的存储器数据重新写入当前地址中，再重新读取当前地址及其对应存储器数据进行检测；若输出的所述检测状态为正确状态，则继续读取下一个地址的存储器数据进行检测；直至将所述存储器中所有数据的地址均检测完成。

【技术特征摘要】
1.一种存储器的数据修复方法，其特征在于，包括以下步骤：依次读取存储器数据的地址；检测当前地址的存储器数据、并输出检测状态；判断输出的所述检测状态为警告状态或正确状态；若输出的所述检测状态为警告状态，则记录该警告状态对应的存储器数据以及该存储器数据的当前地址，并将记录的存储器数据重新写入当前地址中，再重新读取当前地址及其对应存储器数据进行检测；若输出的所述检测状态为正确状态，则继续读取下一个地址的存储器数据进行检测；直至将所述存储器中所有数据的地址均检测完成。2.根据权利要求1所述的存储器的数据修复方法，其特征在于，若输出的所述检测状态为正确状态，则继续读取下一个地址的存储器数据进行检测还包括：判断当前地址是否为存储器数据中的最后地址，若当前地址是存储器数据中的最后地址，则结束检测；若当前地址不是存储器地址中的最后地址，则继续读取下一个地址的存储器数据进行检测，直至将所述存储器中所有数据的地址均检测完成。3.根据权利要求2所述的存储器的数据修复方法，其特征在于，通过检测模块检测当前地址的存储器数据，所述检测模块为带数据错误检测的ECC检测模块。4.根据权利要求3所述的存储器的数据修复方法，其特征在于，所述检测状态还包括错误状态。5.根据权利要求3所述的存储器的数据修复方法，其特征在于，当检测状态为正确状态时，判断当前地址存储器数据正确，则继续读取下一个地址的存储器数据进行检测；当检测状态为警告状态时，判断当前地址存储器数据有误，但已被所述ECC检测模块校正，输出数据正确，则记录该警告状态对应的存储器数据以及该存储器数据的当前地址，并将记录的存储器数据重新写入存储器的当前地址中，再重新读取当前地址及其对应存储器数据进行检测；当检测状态为错误状态时，判断当前地址存储器数据有误，且无法被所述ECC检测模块校正，输出数据错误并结束当前检测。6.一种存储器系...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈飞龙，
申请(专利权)人：成都锐成芯微科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：四川,51