The detection device of linear gradient filter for imaging spectrometer includes white light source, first reflector, second reflector, linear gradient filter, third reflector, diaphragm assembly, fourth reflector and detection module; white light source emits reference light, which is collimated by the first reflector and reflected to the second reflector, and then converged by the second reflector, linear gradient filter. The first imaging of the measured surface of the filter; the reference light transmitted through the linear gradient filter is collimated by the third mirror, and then reflected to the fourth mirror. After the fourth mirror is converged, the second imaging is performed on the detection module and the single point detection spectral characteristics are output. The precision displacement table adjusts the position of the linear gradient filter to realize the multi-point scanning measurement of the linear gradient filter. Distribution of spectral characteristics of linear gradient filters. The detection device of the invention is closer to the use state of the linear gradient filter in the imaging spectrometer, and the detection result is more accurate.
【技术实现步骤摘要】
成像光谱仪的线性渐变滤光片检测装置
本专利技术涉及一种光电
,更具体的,涉及一种成像光谱仪的线性渐变滤光片检测装置。
技术介绍
线性渐变滤光片(简称LVF)是一种光谱特性随位置线性变化的光学器件。它是采用离子辅助法或离子束溅射法等工艺,通过在基底表面镀制多层厚度变化的膜系而形成的。相比传统的窄带滤光片,LVF具有接近连续的光谱通道,因此采用LVF进行分光可以获得较高的光谱分辨率。LVF的另一个应用领域是光谱成像技术,相比于棱镜和光栅型成像光谱仪,基于LVF的成像光谱仪具有高集成度、高稳定性和高分辨率等特点,其整机结构紧凑,体积小重量轻,同时研发和制造成本较低,具有很好的应用前景。LVF还可用于便携式分光计、光栅二级次光分离/截至、激光反射镜设计等方面和领域。受镀膜工艺的限制,在LVF的镀膜过程中会引入各种误差,使得成品滤光片与设计特性产生偏差,并且使用环境,如温度、湿度、压力等的变化会造成滤光片特性的改变。若要将其应用于相关方面的设计,就必须对其实际特性进行检测以进行预标定。尤其是在工程项目中,对那些基于LVF的成像光谱仪,需要对LVF镀膜误差有一个定量化的描述手段。针对滤光片镀膜过程中所产生的误差,目前常用的测试系统如图1所示,由卤钨灯光源20、平行光管21、微动位移平台22、待测滤光片23和FieldSpec4光谱仪24等组成,在系统光路中,平行光管对钨灯出射光起着准直的作用,使得经平行光管出射的光垂直照射到待测的滤光片表面。在测量过程中,先测出不装夹滤光片情况下,经平行光管出射光的辐照度,然后将滤光片装夹在微动位移平台,调节夹持滤光片的装置使得 ...
【技术保护点】
1.成像光谱仪的线性渐变滤光片检测装置,其特征在于,包括白色光源(6)、第一反射镜(7)、第二反射镜(5)、线性渐变滤光片(3)、第三反射镜(2)、光阑组件(1)、第四反射镜(9)、精密位移台(4)、检测模块;所述白色光源(6)发射基准光,所述基准光经所述第一反射镜(7)准直,再经第二反射镜(5)汇聚后,入射到线性渐变滤光片的入射狭缝处,在线性渐变滤光片(3)的待测表面第一次成像;透射过所述线性渐变滤光片(3)的基准光经所述第三反射镜(2)准直,再经第四反射镜(9)汇聚后,在所述检测模块上第二次成像并输出线性渐变滤光片的单点检测光谱特性;所述精密位移台(4)与线性渐变滤光片(3)连接,用于调整线性渐变滤光片(3)的位置,实现对线性渐变滤光片(3)的多点扫描测量,得出线性渐变滤光片(3)的光谱特性分布规律。
【技术特征摘要】
1.成像光谱仪的线性渐变滤光片检测装置,其特征在于,包括白色光源(6)、第一反射镜(7)、第二反射镜(5)、线性渐变滤光片(3)、第三反射镜(2)、光阑组件(1)、第四反射镜(9)、精密位移台(4)、检测模块;所述白色光源(6)发射基准光,所述基准光经所述第一反射镜(7)准直,再经第二反射镜(5)汇聚后,入射到线性渐变滤光片的入射狭缝处,在线性渐变滤光片(3)的待测表面第一次成像;透射过所述线性渐变滤光片(3)的基准光经所述第三反射镜(2)准直,再经第四反射镜(9)汇聚后,在所述检测模块上第二次成像并输出线性渐变滤光片的单点检测光谱特性;所述精密位移台(4)与线性渐变滤光片(3)连接,用于调整线性渐变滤光片(3)的位置,实现对线性渐变滤光片(3)的多点扫描测量,得出线性渐变滤光片(3)的光谱特性分布规律。2.如权利要求1所述的成像光谱仪的线性渐变滤光片检测装置,其特征在于,所述第二反射镜(5)和线性渐变滤光(3)片之间设置斩波器(8),用于将连续基准光调成固定频率的...
【专利技术属性】
技术研发人员:薛浩,郑玉权,蔺超,纪振华,王龙,韦跃峰,
申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,
类型:发明
国别省市:吉林,22
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