The invention provides a weighted hardware circuit FMEA method, which belongs to the field of product and system reliability analysis technology. The invention first determines the evaluation factors of each influencing factor of each failure mode of hardware circuit; then establishes the judgment matrix of each influencing factor by using the analytic hierarchy process, and then obtains the weight of each influencing factor of the failure mode; obtains the risk coefficients of each failure mode by using the evaluation factors and weights obtained; finally, advances the risk coefficients of each failure mode according to the numerical value. Row sort. The invention solves the problem that the reliability analysis technology of the existing product and system can not simultaneously take into account the accuracy and the calculation amount. The invention can be used for fast analysis of fault mode effects of hardware circuits.
【技术实现步骤摘要】
一种考虑权重的硬件电路FMEA方法
本专利技术涉及一种硬件电路FMEA方法,属于产品与系统可靠性分析
技术介绍
故障模式影响分析(FMEA)是产品与系统可靠性分析的有效方法。主要是通过分析产品或系统可能出现的失效模式及其原因和影响,对可能的失效模式进行风险评估,然后合理分配有限资源,对高风险的失效模式制定预防措施加以控制,从而最大程度降低风险。FMEA过程中最重要的步骤是对可能的失效模式进行风险评估,传统FMEA法对风险评估指标(风险优先数RPN)的计算方法为:RPN=S(严重度)*O(发生度)*D(探测度)。但是用这种计算方式不但很难精确评估三个风险因子,而且由它们单一相乘得到的RPN重复率太高,无法科学有效地评估故障风险,准确性较低。为了解决上述问题,现在出现了很多改进方法,比如基于模糊评价的FMEA法、结合灰色关联理论的FMEA方法、基于模糊共因失效的FMEA法等;其中广泛应用的模糊理论中涉及的解模糊集方法也不胜枚举。但是它们虽然提高了传统计算方法的科学性(准确性),也极大地增加了算法的计算量。因此,急需一种在解决传统FMEA方法故障风险衡量偏差大的同时,避免出现像其他改进方法一样计算量过大的技术。
技术实现思路
本专利技术为解决现有产品与系统可靠性分析技术不能同时兼顾准确性与计算量的问题,提供了一种考虑权重的FMEA方法。本专利技术所述一种考虑权重的硬件电路FMEA方法,通过以下技术方案实现:步骤一、确定硬件电路每种故障模式的各影响因素的评价因子;步骤二、应用层次分析法建立各影响因素的判断矩阵,进而得到故障模式的各影响因素的权重;步骤三、利用 ...
【技术保护点】
1.一种考虑权重的硬件电路FMEA方法,其特征在于,具体包括以下步骤:步骤一、确定硬件电路每种故障模式的各影响因素的评价因子;步骤二、应用层次分析法建立各影响因素的判断矩阵,进而得到故障模式的各影响因素的权重;步骤三、利用上述步骤中得到的评价因子及权重得到各故障模式的风险系数;步骤四、将各种故障模式的风险系数的按照数值大小进行排序。
【技术特征摘要】
1.一种考虑权重的硬件电路FMEA方法,其特征在于,具体包括以下步骤:步骤一、确定硬件电路每种故障模式的各影响因素的评价因子;步骤二、应用层次分析法建立各影响因素的判断矩阵,进而得到故障模式的各影响因素的权重;步骤三、利用上述步骤中得到的评价因子及权重得到各故障模式的风险系数;步骤四、将各种故障模式的风险系数的按照数值大小进行排序。2.根据权利要求1所述一种考虑权重的硬件电路FMEA方法,其特征在于,步骤一中所述评价因子具体的确定过程为:确定硬件电路第k种故障模式的各影响因素为:发生度严重度探测度则,硬件电路第k种故障模式的发生度的评价因子P1k为:其中,表示向上取整,θk为第k种故障模式的发生率,σ为所有故障模式的发生率中的最大值;硬件电路第k种故障模式的严重度的评价因子为:其中,Q为硬件电路中器件的总数;当硬件发生第k种故障模式时,功能受到影响的模块中包含ρk个器件;硬件电路第k种故障模式的探测度的评价因子为:其中,第k...
【专利技术属性】
技术研发人员:俞洋,杨智明,肖紫文,贾绍华,彭喜元,
申请(专利权)人:哈尔滨工业大学,
类型:发明
国别省市:黑龙江,23
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