用于汽车进入的型式检测制造技术

本公开涉及型式检测单元和相关方法。所述单元包括：移位寄存器，所述移位寄存器被配置成过采样多比特输入信号，使得每一比特的所述输入信号由在所述移位寄存器中的多个样本表示；以及相关器，所述相关器被配置成进行以下操作：将目标型式与两个或更多个样本集比较，每个样本集包括来自每一比特的所述多个样本中的每个样本的对应样本；以及将每个比较的样本集分类为以下中的一个：与所述目标型式精确匹配，与所述目标型式不精确匹配，或与所述目标型式不匹配，以便确定所述输入信号是否匹配所述目标型式。

【技术实现步骤摘要】
用于汽车进入的型式检测
本专利技术涉及型式检测领域，并且具体地说，(但非排他地)涉及用于汽车进入系统中的收发器的型式检测单元。
技术介绍
近年来，被动无钥匙进入(PKE)和被动无钥匙启动(PKG)系统越来越受人欢迎。在操作中，当汽车用户具有配备有PKE芯片的钥匙设备且用户接近汽车并试图打开车门时，低频(LF)通信序列从汽车发送到钥匙且超高频(UHF)通信从钥匙经由不同的物理链路发送到汽车，从而车门解锁。在两个通信中涉及密码学，以确保识别正确的钥匙和汽车。对于使用PKG的车辆而言，互动可凭借启动按钮起作用。在用户按压启动按钮时，LF通信被发送到钥匙，该钥匙将UHF信号返回到车辆，使用户能够启动汽车。
技术实现思路
根据本公开的第一方面，提供型式检测单元，该型式检测单元包括：移位寄存器，该移位寄存器被配置成过采样多比特输入信号，使得每一比特的输入信号由移位寄存器中的多个样本表示；和相关器，该相关器被配置成进行以下操作：将目标型式与两个或更多个样本集比较，每个样本集包括来自每一比特的多个样本中的每个样本的对应样本；以及将每个比较的样本集分类为以下中的一个：与目标型式精确匹配；与目标型式不精确匹配；或与目标型式不匹配以便确定输入信号是否匹配目标型式。在一或多个实施例中，如果在预定数目的样本集内符合以下条件中的一个条件，那么确定输入信号匹配目标型式：两个或更多个样本集与目标型式精确匹配；或一个样本集与目标型式精确匹配并且一个或多个样本集与目标型式不精确匹配。预定数目的样本集可等于，或小于表示每一比特的多个样本的数目。在一个或多个实施例中，相关器被配置成将目标型式与样本集中的一个样本集比较。相关器可被配置成随后将目标型式与样本集中的另一个样本集比较以便将目标型式与两个或更多个样本集比较。在一个或多个实施例中，相关器被配置成将目标型式与来自移位寄存器的连续样本集比较。在一个或多个实施例中，相关器包括多个比特比较单元。每个比特比较单元可被配置成将来自移位寄存器的特定比特的一个样本与目标型式的对应比特值比较。每个比特比较单元可被配置成基于比较确定比特比较值。相关器可包括代码比较单元。代码比较单元可被配置成将对于一个样本集的比特比较值求和以便确定匹配指示信号，该匹配指示信号表示匹配目标型式的样本集中的样本的对应比特值的样本集中的样本的数目。相加可等效于求和。在一个或多个实施例中，相关器包括序列检测器，该序列检测器被配置成基于通过用于不同样本集的代码比较单元提供的两个或更多个匹配指示信号，确定输入信号是否匹配目标型式。在一个或多个实施例中，代码比较单元被配置成通过将匹配指示信号与以下比较产生匹配状态：至少一个不精确匹配阈值；和精确匹配阈值。在一个或多个实施例中，相关器包括序列检测器，该序列检测器被配置成基于通过用于不同样本集的代码比较单元提供的两个或更多个匹配状态，确定输入信号是否匹配目标型式。在一个或多个实施例中，相关器被配置成将目标型式与样本集中的一个样本集比较，并且并行地将目标型式与样本集中的另一个样本集比较，以便将目标型式与两个或更多个样本集比较。在一个或多个实施例中，相关器包括第一多个比特比较单元。每个比特比较单元可被配置成将来自移位寄存器的特定比特的第一样本与目标型式的对应比特值比较。每个比特比较单元可被配置成基于比较确定第一比特比较值。相关器可包括第二多个比特比较单元。每个比特比较单元可被配置成将来自移位寄存器的特定比特的第二样本与目标型式的对应比特值比较。每个比特比较单元可被配置成基于比较确定第二比特比较值。相关器可包括代码比较单元。代码比较单元可被配置成将第一比特比较值求和以便确定第一匹配指示信号，该第一匹配指示信号表示匹配目标型式的对应比特值的第一样本集中的样本的数目。代码比较单元可被配置成将第二比特比较值求和以便确定第二匹配指示信号，该第二匹配指示信号表示匹配目标型式的对应比特值的第二样本集中的样本的数目。在一个或多个实施例中，代码比较单元被配置成通过将相应第一匹配指示信号和第二匹配指示信号与以下比较产生对于第一样本的第一匹配状态和对于第二样本的第二匹配状态：不精确匹配阈值；和精确匹配阈值。精确匹配阈值可对应于所有的匹配目标型式的样本集中的样本的对应比特值的样本集中的样本。不精确匹配阈值可对应于一些但不是所有的匹配目标型式的样本集中的样本的对应比特值的样本集中的样本。匹配指示信号可为匹配目标型式的样本集中的样本的对应比特值的样本集中的样本的数目。匹配指示信号可为不匹配目标型式的样本集中的样本的对应比特值的样本集中的样本的数目。在一个或多个实施例中，型式检测单元可被配置成可在第一操作模式和第二操作模式中操作。在第一操作模式中，相关器可被配置成将目标型式与来自移位寄存器的每一比特的多个样本中的两个或更多个样本比较以便确定输入信号是否匹配目标型式。在第二操作模式中，相关器可被配置成仅将目标型式与来自移位寄存器的每一比特的多个样本中的一个样本比较以便确定输入信号是否匹配目标型式。型式检测单元可另外包括控制器，该控制器被配置成基于用户输入或自动地设置型式检测单元的操作模式。根据本专利技术的另一方面，提供汽车进入系统收发器，该收发器包括：用于接收多比特输入信号的接收器；包括型式检测单元的数据接收电路；传输器；和控制传输器和接收器的控制电路，用于与车辆基站通信而传达信号，其中目标型式与车辆基站相关联，并且其中控制器被配置成响应于发现在输入信号和目标型式之间的匹配，操作远程收发器电路的传输器以将授权信号发送到车辆基站。还公开进入系统收发器，该收发器包括：用于接收多比特输入信号的接收器；包括型式检测单元的数据接收电路；传输器；和控制传输器和接收器的控制电路，用于与基站通信而传达信号，其中目标型式与基站相关联，并且其中控制器被配置成响应于发现在输入信号和目标型式之间的匹配，操作远程收发器电路的传输器以将授权信号发送到基站。根据另一方面，提供检测输入信号中的型式的方法，该方法包括：在移位寄存器处接收多比特输入信号；使用移位寄存器过采样多比特输入信号，使得每一比特的输入信号由来自移位寄存器的多个样本表示；将目标型式与两个或更多个样本集比较，每个样本集包括来自每一比特的多个样本中的每个样本的对应样本；和将每个比较的样本集分类为以下中的一个：与目标型式精确匹配；与目标型式不精确匹配；或与目标型式不匹配以便确定输入信号是否匹配目标型式。还公开型式检测单元，该型式检测单元包括：移位寄存器，该移位寄存器被配置成过采样多比特输入信号，使得每一比特的输入信号由移位寄存器中的多个样本表示；和相关器，该相关器被配置成将目标型式与两个或更多个样本集比较，每个样本集包括来自每一比特的多个样本中的每个样本的对应样本，和将每个比较的样本集分类为以下中的一个：与目标型式精确匹配；与目标型式不精确匹配；或与目标型式不匹配，以便确定输入信号是否匹配目标型式。虽然本公开容许各种修改和替代形式，但是已经借助于例子在图式中示出其特殊性且将进行详细描述。然而，应理解，超出所描述的特定实施例的其它实施例也是可能的。也涵盖落入所附权利要求书的精神和范围内的所有修改、等效物和替代实施例。以上论述不旨在呈现在当前或将来权利要求集的范围内的每个例子实施例或每个实施方案。附本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种型式检测单元，其特征在于，所述型式检测单元包括：移位寄存器，所述移位寄存器被配置成过采样多比特输入信号，使得每一比特的所述输入信号由所述移位寄存器中的多个样本表示；以及相关器，所述相关器被配置成进行以下操作：将目标型式与两个或更多个样本集比较，每个样本集包括来自每一比特的所述多个样本中的每个样本的对应样本；以及将每个比较的样本集分类为以下中的一个：与所述目标型式精确匹配；与所述目标型式不精确匹配；或与所述目标型式不匹配以便确定所述输入信号是否匹配所述目标型式。

【技术特征摘要】
2017.11.10 EP 17201003.51.一种型式检测单元，其特征在于，所述型式检测单元包括：移位寄存器，所述移位寄存器被配置成过采样多比特输入信号，使得每一比特的所述输入信号由所述移位寄存器中的多个样本表示；以及相关器，所述相关器被配置成进行以下操作：将目标型式与两个或更多个样本集比较，每个样本集包括来自每一比特的所述多个样本中的每个样本的对应样本；以及将每个比较的样本集分类为以下中的一个：与所述目标型式精确匹配；与所述目标型式不精确匹配；或与所述目标型式不匹配以便确定所述输入信号是否匹配所述目标型式。2.根据权利要求1所述的型式检测单元，其特征在于，当在预定数目的样本集内符合以下条件中的任何一个条件时，确定所述输入信号匹配所述目标型式：两个或更多个所述样本集与所述目标型式精确匹配；或一个样本集与所述目标型式精确匹配并且一个或多个样本集与所述目标型式不精确匹配。3.根据权利要求1或权利要求2所述的型式检测单元，其特征在于，所述相关器被配置成将所述目标型式与所述样本集中的一个样本集比较，并且随后将所述目标型式与所述样本集中的另一个样本集比较，以便将所述目标型式与所述两个或更多个样本集比较。4.根据权利要求3所述的型式检测单元，其特征在于，所述相关器被配置成将所述目标型式与来自所述移位寄存器的连续样本集比较。5.根据权利要求3或权利要求4所述的型式检测单元，其特征在于，所述相关器包括：多个比特比较单元，每个比特比较单元被配置成将来自所述移位寄存器的特定比特的一个样本与所述目标型式的对应比特值比较，并且基于所述比较确定比特比较值；代码比较单元，其中所述代码比较单元被配置成将对于一个样本集的所述比特比较值求和以便确定匹配指示信号，所述匹配指示信号表示匹配所述目标型式的所述样本集中的样本的对应比特值的所述样本集中的样本的数目。6.根据权利要求5所述的型式检测单元，其特征在于，所述相关器包括序列检测器，所述序列检测器被配置成...

【专利技术属性】
技术研发人员：斯蒂利亚诺斯·佩里萨基斯，马丁·珀施，
申请(专利权)人：恩智浦有限公司，
类型：发明
国别省市：荷兰,NL