一种恒温测试系统技术方案

本实用新型专利技术涉及温度测试技术领域，提供了一种恒温测试系统，包括控制盒以及测试盒，还包括用于制热或制冷的调温装置，以及用于检测所述控制盒和所述测试盒内温度的温度采集装置；所述控制盒内设有用于根据所述温度采集装置反馈的信号控制所述调温装置的输出功率的温度控制装置，以及用于将调温装置制造的冷气或热气导至所述测试盒的内腔中的导流装置；所述测试盒设有供待测物安装的接口，所述接口与所述测试盒的内腔连通。本实用新型专利技术的一种恒温测试系统，通过调温装置、温度采集装置、温度控制装置以及导流装置等的配合，打造出一个具有恒温空气的内腔，极大地方便了待测物的测试。

【技术实现步骤摘要】
一种恒温测试系统
本技术涉及温度测试
，具体为一种恒温测试系统。
技术介绍
很多产品生产出来后都需要经过各项参数的测试，例如，温度、强度等，需要测试合格后才能投入市场。目前光模块的生产制造环节都有对光模块进行各项参数测试，光模块的核心部分之一就是光器件。光器件包含激光器和探测器，其中激光器的核心部分LD有一个温度特性，就是LD输出光功率随温度增大而减小，所以光模块所处的环境温度对光模块的性能有直接影响。为测试验证光模块在各种恶劣气候条件下是否能可靠工作，必须模拟出极端气候温度环境来对光模块进行测试。在测试过程中各项参数是否准确，与光模块所处测试环境温度的波动和误差有直接关系。鉴于以上测试需求，急需一种能提供恒定温度测试环境的测试设备，来为光模块等需要被测试的产品的可靠性测试提供测试平台。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种恒温测试系统，通过调温装置、温度采集装置、温度控制装置以及导流装置等的配合，打造出一个具有恒温空气的内腔，极大地方便了待测物的测试。为实现上述目的，本技术实施例提供如下技术方案：一种恒温测试系统，包括控制盒以及测试盒，还包括用于制热或制冷的调温装置，以及用于检测所述控制盒和所述测试盒内温度的温度采集装置；所述控制盒内设有用于根据所述温度采集装置反馈的信号控制所述调温装置的输出功率的温度控制装置，以及用于将调温装置制造的冷气或热气导至所述测试盒的内腔中的导流装置；所述测试盒设有供待测物安装的接口，所述接口与所述测试盒的内腔连通。进一步，所述温度采集装置包括DS18B20芯片以及若干温度采集探头，各所述温度采集探头均与所述DS18B20芯片电连接，所述DS18B20芯片与所述温度控制装置电连接，至少一个所述温度采集探头置于所述控制盒内，至少一个所述温度采集探头置于所述测试盒内。进一步，所述温度控制装置包括74ALS02芯片，所述74ALS02芯片的第二引脚与所述DS18B20芯片的第二引脚电连接。进一步，所述导流装置包括鼓风机，所述鼓风机安装在所述控制盒内，且通过导流管将所述控制盒内的空气鼓入所述调温装置中，所述调温装置与所述测试盒连通。进一步，所述调温装置安装在所述导流管远离所述鼓风机的一端，所述调温装置的入风口与所述导流管连通，所述调温装置的出风口与所述测试盒连通。进一步，所述控制盒上开设有通风口。进一步，所述测试盒底部开设有排气孔。进一步，所述控制盒上安装有用于显示所述测试盒内的实时温度的显示屏，所述显示屏与所述温度采集装置电连接。进一步，所述控制盒上安装有用于给所述调温装置、所述温度采集装置、所述温度控制装置以及所述导流装置供电的启动按钮。进一步，所述接口与所述测试盒之间为可拆卸连接。与现有技术相比，本技术的有益效果是：通过调温装置、温度采集装置、温度控制装置以及导流装置等的配合，打造出一个具有恒温空气的内腔，极大地方便了待测物的测试。附图说明图1为本技术实施例提供的一种恒温测试系统的结构示意图；图2为本技术实施例提供的一种恒温测试系统的控制盒的第一视角结构示意图；图3为本技术实施例提供的一种恒温测试系统的控制盒的第二视角的结构示意图；图4为本技术实施例提供的一种恒温测试系统的导风管以及调温装置的结构示意图；图5为本技术实施例提供的一种恒温测试系统的测试盒的结构示意图；图6为本技术实施例提供的一种恒温测试系统的导流装置的结构示意图；图7为本技术实施例提供的一种恒温测试系统的光模块的结构示意图；图8为本技术实施例提供的一种恒温测试系统的控制电路图；附图标记中：1-控制盒；10-通风口；11-停止按钮；12-启动按钮；13-指示灯；14-电源接入口；2-测试盒；20-底板；21-顶板；22-射频线缆分布孔；3-调温装置；4-温度采集装置；5-温度控制装置；50-显示屏；60-鼓风机；61-导流管；61-连接管；62-鼓风机出风口；7-光模块；70-光模块管壳；71-拉环。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-图8，本技术实施例提供一种恒温测试系统，包括控制盒1，测试盒2，用于制热或制冷的调温装置3，以及用于检测所述控制盒1和所述测试盒2内温度的温度采集装置4。其中，所述控制盒1内设有用于根据所述温度采集装置4反馈的信号控制所述调温装置3的输出功率的温度控制装置5，以及用于将调温装置3制造的冷气或热气导至所述测试盒2的内腔中的导流装置；所述测试盒2设有供待测物安装的接口，所述接口与所述测试盒2的内腔连通。在本实施例中，控制盒1用于对温度进行控制，测试盒2用于对待测物进行测试。调温装置3安装在控制盒1内，它不仅能够制热还可以制冷，从而能够营造出恶劣气候条件，在此环境下测试的待测物才能够较为全面地反应其可靠性。温度采集装置4能够实时采集控制盒1和测试盒2内的温度，然后将该温度反馈给温度控制装置5，由温度控制装置5来根据温度状况来调节调温装置3的输出功率，从而可以实现恒温的效果。为了便于将调温装置3产生的热气或冷气导入到测试盒2的内腔中，因此采用导流装置，该导流装置也是自动运行，它与温度控制装置5电连接，受其控制，调温装置3先启动后，导流装置才启动，如此可以将冷气或热气吹到测试盒2的内腔中，以形成测试空间。请参阅图5和图7，可以根据实际的待测物来设定接口的形状，如本实施例中需要测试的待测物为光模块7，因此该接口可供光模块7插拔，光模块包括光模块管壳70和与之连接的拉环71，手持光模块7的拉环71，将光模块7的光模块管壳70插入接口直至内腔中，使得光模块管壳70处于测试空间中，即可实现对光模块7的测试。此处提及的光模块7可以为SFP、SFP+、XFP、QSFP+系列的光模块。以下为具体实施例：优化上述温度采集装置4，请查阅图8，所述温度采集装置4包括DS18B20芯片以及若干温度采集探头，各所述温度采集探头均与所述DS18B20芯片电连接，所述DS18B20芯片与所述温度控制装置5电连接，至少一个所述温度采集探头置于所述控制盒1内，至少一个所述温度采集探头置于所述测试盒2内。在本实施例中，采用DS18B02芯片来对温度进行采集，它与传统的热敏电阻相比，能够直接读出被测温度并且可以根据实际要求通过简单的编程实现9-12位的数字值读数方式，可以分别在93.75ms和750ms内完成9位和12位的数字量，并且从DS18B20读出的信息或写入DS18B20的信息仅需要一根口线(单线接口)读写，温度变换功率来源于数据总线，总线本身也可以向所挂接的DS18B20供电，而无需额外电源。因而，使用DS18B20可使系统结构更趋简单，可靠性更高。采用的温度采集探头可以根据实际情况来选择，数量越多，检测的越准确，温度采集探头可采用K型热电偶。进一步优化上述方案，请查阅图8，所述温度控制装置5包括74ALS02芯片，所述74ALS02芯片的第二引脚与所述DS18B20芯片的第二引本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种恒温测试系统，包括控制盒以及测试盒，其特征在于：还包括用于制热或制冷的调温装置，以及用于检测所述控制盒和所述测试盒内温度的温度采集装置；所述控制盒内设有用于根据所述温度采集装置反馈的信号控制所述调温装置的输出功率的温度控制装置，以及用于将调温装置制造的冷气或热气导至所述测试盒的内腔中的导流装置；所述测试盒设有供待测物安装的接口，所述接口与所述测试盒的内腔连通。

【技术特征摘要】
1.一种恒温测试系统，包括控制盒以及测试盒，其特征在于：还包括用于制热或制冷的调温装置，以及用于检测所述控制盒和所述测试盒内温度的温度采集装置；所述控制盒内设有用于根据所述温度采集装置反馈的信号控制所述调温装置的输出功率的温度控制装置，以及用于将调温装置制造的冷气或热气导至所述测试盒的内腔中的导流装置；所述测试盒设有供待测物安装的接口，所述接口与所述测试盒的内腔连通。2.如权利要求1所述的恒温测试系统，其特征在于：所述温度采集装置包括DS18B20芯片以及若干温度采集探头，各所述温度采集探头均与所述DS18B20芯片电连接，所述DS18B20芯片与所述温度控制装置电连接，至少一个所述温度采集探头置于所述控制盒内，至少一个所述温度采集探头置于所述测试盒内。3.如权利要求2所述的恒温测试系统，其特征在于：所述温度控制装置包括74ALS02芯片，所述74ALS02芯片的第二引脚与所述DS18B20芯片的第二引脚电连接。4.如权利要求1所述的恒温测试系...

【专利技术属性】
技术研发人员：程国锦，李林科，吴天书，杨现文，张健，
申请(专利权)人：武汉联特科技有限公司，
类型：新型
国别省市：湖北,42