光学器件及其检测方法、摄像装置、飞行装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种光学器件，其包括保护壳、测距装置及透光片，所述测距装置设于所述保护壳与透光片构成的密闭容置空间内，所述测距装置包括光发射组件和光接收组件，所述光发射组件用于发射光线，所述光接收组件用于接收所述光发射组件发射光线后被反射回来的光线。本发明专利技术的光学器件可通过所述测距装置检测其透光片是否存在异常，例如透光片表面附着有异物，透光片碎裂或存在划痕等，从而便于清洗或更换透光片，保证光学器件的正常工作。相应地，本发明专利技术还提供了一种运用了所述光学器件的摄像装置以及相应的飞行装置。此外，本发明专利技术还提供了一种光学器件检测方法。

【技术实现步骤摘要】
光学器件及其检测方法、摄像装置、飞行装置
本专利技术涉及飞行
及光学检测领域，尤其涉及一种光学器件及其检测方法，此外还涉及一种运用了所述光学器件的摄像装置和飞行装置。
技术介绍
随着无人机技术的飞速发展，无人机在众多领域如农业、军事、工业等领域得到了广泛领域。无人机除了可以实现运载作用之外，还可通过设置摄像头进行航拍、记录等。在无人机飞行的过程中或在恶劣的环境中，难以避免有异物附着于无人机的摄像头上，导致摄像功能受阻。例如，在植保无人机上，由于植保无人机会喷出药雾，并且工作环境中灰尘较多，因此无人机上的摄像头容易沾上喷雾和灰尘，导致摄像头“失明”。另外，当无人机的镜片出现划痕或者镜片碎裂时，也会导致摄像头不可用。因此，为了解决上述问题，需要检测出摄像头是否附着有异物或镜头的镜片是否被损坏，以便于及时进行清洗或更换。
技术实现思路
本专利技术的目的旨在提供一种光学器件，通过测距装置确定光发射和接收的总时长以检测透光片是否附着有异物或者透光片是否损坏。本专利技术还提供了一种摄像装置及一种飞行装置，二者皆具有所述光学器件的优点。本专利技术还提供一种光学器件检测方法，运用于所述光学器件中，能够检测其透光片是否附有异物或透光片是否损坏。为了实现上述目的，本专利技术提供以下技术方案：本专利技术提供一种光学器件，其包括保护壳、测距装置及透光片，所述测距装置设于所述保护壳与透光片构成的密闭容置空间内，所述测距装置包括光发射组件和光接收组件，所述光发射组件用于发射光线，所述光接收组件用于接收所述光发射组件发射光线后被反射回来的光线。较佳地，所述测距装置靠近所述透光片设置。优选地，所述测距装置为飞行时间测距装置。进一步地，所述光学器件还包括用于对所述透光片进行清洗的清洁组件。相应地，本专利技术还提供一种摄像装置，其包括摄像组件及上述任意一项技术方案所述的光学器件，所述摄像组件设于所述保护壳与透光片构成的密闭容置空间内。相应地，本专利技术还提供一种飞行装置，其包括处理模块和上述任意一项技术方案所述的摄像装置，所述处理模块与所述摄像装置电性连接。进一步地，所述的飞行装置包括至少两个所述摄像装置。此外，本专利技术还提供一种光学器件检测方法，其运用于上述任意一项所述的光学器件，包括：检测所述透光片上预设区域是否存在异常；当所述透光片上预设区域存在异常时，发出提示信号。进一步地，所述检测所述透光片上预设区域是否存在异常的步骤，包括连续记录多组从所述光发射组件发射光到所述光接收组件接收到对应的反射光所需的时间t；比较每组中t与从所述光发射组件发射的光被所述透光片反射至所述光接收组件所需的最大时间值t0的大小；在t≦t0出现的次数n大于预设次数n0时，确定所述透光片上预设区域存在异常。更进一步地，所述在t≦t0出现的次数n大于预设次数n0时确定所述透光片上预设区域存在异常还包括：在t≦t0连续出现的次数n1大于预设次数n0时确定所述透光片上预设区域存在异常。较佳地，所述n1至少为20。进一步地，当所述光学器件包括所述清洁组件时，还包括如下步骤：所述清洁组件接收到相应的控制信号后对所述透光片进行清洗。相比现有技术，本专利技术的方案具有以下优点：本专利技术的光学器件中，当所述透光片表面附着有异物时，所述光发射组件发射的光遇到附着在透光片上的异物会被反射，所述光接收组件用于接收这些被反射的光。而当所述透光片碎裂或者其表面有划痕时，与透光片完好时相比，所述光发射组件发射的光经过所述透光片异常的位置时光路发生变化，并且光容易被反射而为所述光接收组件所接收。通常可设定为，当所述光接收组件接收到反射光的次数达到一定值，并且对应的光发射与接收总时长小于一定值时，可判断所述透光片上附着有异物，或者，所述透光片已碎裂或存在划痕，从而可及时对透光片进行清洗或更换透光片。本专利技术的光学器件中，通过设置所述清洁组件，可便于检测到所述透光片表面附着有异物时对其进行清洗。本专利技术的摄像装置运用了所述光学器件，因此具有所述光学器件的优点。所述摄像组件设于所述密闭容置空间中，可减小所述摄像组件在所述摄像装置受到撞击时损坏的可能性。本专利技术的飞行装置运用了所述摄像装置，因此也具有所述光学器件的优点。本专利技术的光学器件检测方法运用于所述光学器件中，包括如下检测步骤：检测所述透光片上预设区域是否存在异常；当所述透光片上预设区域存在异常时，发出提示信号。所述光学器件检测方法可检测所述透光片是否存在异常情况，例如透光片表面附着有异物，或者所述透光片发生碎裂或存在划痕，从而便于对所述透光片进行清洗或更换透光片。本专利技术的光学器件检测方法中，通过确定t≦t0连续出现的次数n1，当n1大于预设次数时，可判断所述透光片上预设区域存在异常，从而可提高检测的准确性。本专利技术附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，这些将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。附图说明本专利技术上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1为本专利技术的光学器件的一种典型实施例的结构示意图；图2为本专利技术的摄像装置中摄像组件设于密闭容置空间内的一种典型实施例的结构示意图；图3为本专利技术的光学器件检测方法的流程示意图；图4为本专利技术的检测透光片上预设区域是否存在异常的方法的流程示意图。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能解释为对本专利技术的限制。请结合图1，本专利技术的光学器件100包括测距装置10、透光片20及保护壳30，所述透光片20和所述保护壳30连接以形成密闭容置空间40，所述测距装置10设于所述密闭容置空间40中。具体地，所述测距装置10包括光发射组件101和光接收组件102，所述光发射组件101用于发射光线，所述光接收组件102用于接收所述光发射组件101发射光线后被反射回来的光线。当所述透光片20表面附着有异物时，所述光发射组件101发射的光遇到附着在所述透光片20上的异物会被反射，所述光接收组件102则用于接收被反射的光。由于某些异物肉眼不可见，或者在所述摄像装置100的工作过程中无法及时发现所述透光片20上附着有异物，因此需要进行检测。而当所述透光片20碎裂或者其表面有划痕时，与所述透光片20完好时相比，所述光发射组件101发射的光经过所述透光片20上碎裂或存在划痕的地方时光路发生变化，并且光易被反射而为所述光接收组件102所接收。当所述透光片20表面某一给定范围内附着有异物，或者发生碎裂或存在划痕时，一方面，从所述光发射组件101发生的光经过该给定范围时会被大量发射，另一方面，当所述测距装置10与透光片20距离一定时，光从所述光发射组件101发射并被所述透光片反射至所述光接收组件102所经过的路径长度存在一个最大值，因此对应的光发射与接收总时长也存在一个最大值。基于此，通常可设定为，当所述光接收组件102接收到反射光的次数达到一定值，并且每次对应的光发射与接收总时长皆小于等于一定值时(即光发射与接收总时长的最大值)，可判断所述透光片上附着有异物，或者，所述透光片已碎裂或存在划痕，从而可及时对所述透光片20进行清洗或更换透光片。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学器件，其特征在于，包括保护壳、测距装置及透光片，所述测距装置设于所述保护壳与透光片构成的密闭容置空间内，所述测距装置包括光发射组件和光接收组件，所述光发射组件用于发射光线，所述光接收组件用于接收所述光发射组件发射光线后被反射回来的光线。

【技术特征摘要】
1.一种光学器件，其特征在于，包括保护壳、测距装置及透光片，所述测距装置设于所述保护壳与透光片构成的密闭容置空间内，所述测距装置包括光发射组件和光接收组件，所述光发射组件用于发射光线，所述光接收组件用于接收所述光发射组件发射光线后被反射回来的光线。2.根据权利要求1所述的光学器件，其特征在于，所述测距装置靠近所述透光片设置。3.根据权利要求1所述的光学器件，其特征在于，所述测距装置为飞行时间测距装置。4.根据权利要求1所述的光学器件，其特征在于，还包括用于对所述透光片进行清洗的清洁组件。5.一种摄像装置，其特征在于，包括摄像组件及权利要求1-4中任意一项所述的光学器件，所述摄像组件设于所述保护壳与透光片构成的密闭容置空间内。6.一种飞行装置，其特征在于，包括处理模块和权利要求5所述的摄像装置，所述处理模块与所述摄像装置电性连接。7.根据权利要求6所述的飞行装置，其特征在于，包括至少两个所述摄像装置。8.一种光学器件检测方法，其特征在于，运用于权利要求1-4中任意一项所述的光学器件，包括：检测所...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘鹏，何建兵，彭斌，
申请(专利权)人：广州极飞科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44