一种LED灯条的测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种LED灯条的测试装置。其技术方案是万用连接器包括“+”极输入端、“—”极输入端，多组导电轨道、多组螺纹探针、多组导电弹片、多组滑轨支撑体和多组导电螺丝，每组导电轨道分别安装在滑轨支撑体上，导电轨道的左端通过左侧的导电弹片电连接到左侧的导电线，导电轨道的右端通过右侧的导电弹片电连接到右侧的导电线，且导电轨道通过导电螺丝调节上下左右的移动间距，螺纹探针与导电轨道配合连接。有益效果是：通过通断延时继电器参数的设置，根据所需测试实验的LED灯条电压和电流限制的设定，利用万用连接器进行任意线路设计的LED灯条电气性能的老化实验，实现了兼容性，节省专用连接器的询价购买时间。

A Testing Device for LED Lamps

【技术实现步骤摘要】
一种LED灯条的测试装置
本专利技术涉及一种LED灯条的测试装置，特别涉及一种LED灯条的测试装置。
技术介绍
现代社会，信息化电子产品制造业发展迅速，线路设计多样化的LED灯条的测试越来越趋于需要兼容匹配的通用老化实验仪器。为了保证LED灯条测试的兼容性，节省某些LED灯条专用连接器的生产、采购成本及时间滞后，LED灯条电气性能测试的通用性将成为LED灯条产品可靠性实验中的一个考虑点。在现在LED灯条测试老化实验中，一般是利用功能测试治具或者使用专用的连接器进行的。因有些专用连接器的封装工艺较为复杂，有的国内还无法生产，需要进口，这样带来的成本相对较高，并且采购周期较长，生产测试滞后。专用连接器因封装工艺的限制，外形、尺寸甚至各个引脚的功能都受到了限制，无法实现不同线路设计的LED灯条的电源手指的兼容测试。也就是说现有的技术问题是：当前LED灯条性能老化实验没有通用的、可兼容所有线路设计的测试仪器和通用连接器。
技术实现思路
本专利技术的目的就是针对现有技术存在的上述缺陷，提供一种LED灯条的测试装置。其技术方案是包括仪器主体（1）、液晶显示器（3）、组合通断开关继电器（2）、电压可调电流可限制交流转直流模块（4）、直流输出模组（5）和连接器，其特征是：所述连接器采用万用连接器（a），万用连接器（a）包括“+”极输入端（a1）、“—”极输入端（a2），多组导电轨道（a3）、多组螺纹探针（a4）、多组导电弹片（a5）、多组滑轨支撑体（a6）和多组导电螺丝（a7），每组导电轨道（a3）分别安装在滑轨支撑体（a6）上，导电轨道（a3）的左端通过左侧的导电弹片（a5）电连接到左侧的导电线（a8），导电轨道（a3）的右端通过右侧的导电弹片（a5）电连接到右侧的导电线（a8），且导电轨道（a3）通过导电螺丝（a7）调节上下左右的移动间距，螺纹探针（a4）与导电轨道（a3）配合连接。上述的螺纹探针（a4）包括绝缘帽（a4.1）、金属外螺纹（a4.2）、金属球（a4.3）、金属探针（a4.4）、金属弹簧（a4.5）和探针主体（a4.6），所述的探针主体（a4.6）的顶部包裹有绝缘帽（a4.1），探针主体（a4.6）的中部外侧设有金属外螺纹（a4.2），探针主体（a4.6）的内腔设有金属弹簧（a4.5），金属弹簧（a4.5）的下侧通过金属球（a4.3）与金属探针（a4.4）连接。上述的导电轨道（a3）设有八组，每组导电轨道的纵向间距调整可到最小相邻间距3mm；且可以横向调整导电轨道，其调整间距范围0-15mm。本专利技术的有益效果是：通过通断延时继电器参数的设置，根据所需测试实验的LED灯条电压和电流限制的设定，利用万用连接器进行任意线路设计的LED灯条电气性能的老化实验；与现有的仪器相比，可实现任意线路设计的LED灯条电气性能老化实验的兼容，节省专用连接器的询价购买时间，并且通过两组通断延时继电器模块组合，实现通断电延时和循环间隙的老化实验设定。附图说明附图1是本专利技术的连接示意图；附图2是万用连接器的结构示意图；附图3是万用连接器B处放大图；附图4是螺纹探针的结构示意图；上图中：仪器主体1、液晶显示器3、组合通断开关继电器2、电压可调电流可限制交流转直流模块4、直流输出模组5、连接插头6、电源插头7；“+”极输入端a1、“—”极输入端a2、导电轨道a3、螺纹探针a4、导电弹片a5、滑轨支撑体a6、导电螺丝a7、导电线a8；绝缘帽a4.1、金属外螺纹a4.2、金属球a4.3、金属探针a4.4、金属弹簧a4.5和探针主体a4.6。具体实施方式结合附图1-4，对本专利技术作进一步的描述：本专利技术包括仪器主体1、液晶显示器3、组合通断开关继电器2、电压可调电流可限制交流转直流模块4、直流输出模组5和连接器，其特征是：所述连接器采用万用连接器a，万用连接器a包括“+”极输入端a1、“—”极输入端a2，多组导电轨道a3、多组螺纹探针a4、多组导电弹片a5、多组滑轨支撑体a6和多组导电螺丝a7，每组导电轨道a3分别安装在滑轨支撑体a6上，导电轨道a3的左端通过左侧的导电弹片a5电连接到左侧的导电线a8，导电轨道a3的右端通过右侧的导电弹片a5电连接到右侧的导电线a8，且导电轨道a3通过导电螺丝a7调节上下左右的移动间距，螺纹探针a4与导电轨道a3配合连接。参照附图4，螺纹探针a4包括绝缘帽a4.1、金属外螺纹a4.2、金属球a4.3、金属探针a4.4、金属弹簧a4.5和探针主体a4.6，所述的探针主体a4.6的顶部包裹有绝缘帽a4.1，探针主体a4.6的中部外侧设有金属外螺纹a4.2，探针主体a4.6的内腔设有金属弹簧a4.5，金属弹簧a4.5的下侧通过金属球a4.3与金属探针a4.4连接。另外，优选的，参照附图，导电轨道a3设有八组，每组导电轨道的纵向间距调整可到最小相邻间距3mm；且可以横向调整导电轨道，其调整间距范围0-15mm。使用时，将“万用连接器”与通断开关延时继电器、电压可调电流可限制交流转直流模块、直流输出模组连接到一起构成老化实验仪器，可以设定输出电压和限制电流以及老化实验的条件（通断电延时以及循环间隙）；本专利技术可以根据要测试的LED灯条所需的电压和限制电流进行调节，一次设定通断开关即可进行老化实验。与现有的仪器相比，可实现任意线路设计的LED灯条电气性能老化实验的兼容，节省专用连接器的询价购买时间，并且通过两组通断延时继电器模块组合，实现通断电延时和循环间隙的老化实验设定。以上所述，仅是本专利技术的部分较佳实施例，任何熟悉本领域的技术人员均可能利用上述阐述的技术方案加以修改或将其修改为等同的技术方案。因此，依据本专利技术的技术方案所进行的任何简单修改或等同置换，尽属于本专利技术要求保护的范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种LED灯条的测试装置，包括仪器主体（1）、液晶显示器（3）、两组通断延时继电器模块，电压可调电流可限制交流转直流模块（4）、直流输出模组（5）和连接器，其特征是：所述连接器采用万用连接器（a），万用连接器（a）包括“+”极输入端（a1）、“—”极输入端（a2），多组导电轨道（a3）、多组螺纹探针（a4）、多组导电弹片（a5）、多组滑轨支撑体（a6）和多组导电螺丝（a7），每组导电轨道（a3）分别安装在滑轨支撑体（a6）上，导电轨道（a3）的左端通过左侧的导电弹片（a5）电连接到左侧的导电线（a8），导电轨道（a3）的右端通过右侧的导电弹片（a5）电连接到右侧的导电线（a8），且导电轨道（a3）通过导电螺丝（a7）调节上下左右的移动间距，螺纹探针（a4）与导电轨道（a3）配合连接；所述的螺纹探针（a4）包括绝缘帽（a4.1）、金属外螺纹（a4.2）、金属球（a4.3）、金属探针（a4.4）、金属弹簧（a4.5）和探针主体，所述的探针主体的顶部包裹有绝缘帽（a4.1），探针主体的中部外侧设有金属外螺纹（a4.2），探针主体的内腔设有金属弹簧（a4.5），金属弹簧（a4.5）的下侧通过金属球（a4.3）与金属探针（a4.4）连接。...

【技术特征摘要】
1.一种LED灯条的测试装置，包括仪器主体（1）、液晶显示器（3）、两组通断延时继电器模块，电压可调电流可限制交流转直流模块（4）、直流输出模组（5）和连接器，其特征是：所述连接器采用万用连接器（a），万用连接器（a）包括“+”极输入端（a1）、“—”极输入端（a2），多组导电轨道（a3）、多组螺纹探针（a4）、多组导电弹片（a5）、多组滑轨支撑体（a6）和多组导电螺丝（a7），每组导电轨道（a3）分别安装在滑轨支撑体（a6）上，导电轨道（a3）的左端通过左侧的导电弹片（a5）电连接到左侧的导电线（a8），导电轨道（a3）的右端通过右侧的导电弹片（a5）电连接到右侧的导电线（a8），且导电轨道（a3）通过导电螺...

【专利技术属性】
技术研发人员：不公告发明人，
申请(专利权)人：李敏，
类型：发明
国别省市：山东,37