一种测试流程动态调整方法及调整系统技术方案

本发明专利技术提供一种测试流程动态调整方法及调整系统，包括测试类型调整；所述测试类型调整包括：计算测试类型对应能测出坏芯片的次数总和；计算测试类型能测坏芯片对应时间总和；根据次数总和和时间总和计算测试类型的权重；按权重重新排序，得到新的测试类型顺序。与现有技术相比，本发明专利技术实施例提出一种分级动态调整测试类型和测试向量的方法，根据前期的测试结果，动态调整测试类型，将高质量的测试类型调整到最前面，让坏的被测电路最早测试出来。可以提高测试效率，降低测试成本。

【技术实现步骤摘要】
一种测试流程动态调整方法及调整系统
本专利技术涉及集成电路测试
，具体来说是一种测试流程动态调整方法及调整系统。
技术介绍
传统的集成电路测试过程，需要运行DC测试、功能测试、Iddq测试、内建自测试、延迟测试和扫描测试等不同类型的测试，每一种类型的测试都需要运行多条测试向量，测试时间非常长，在集成电路整个产业链中所占比重越来越大。在传统的集成电路测试过程中，对于每个芯片加载的测试类型是固定不变的，对于每个测试类型的测试向量的顺序也是固定不变的。不失一般性，设对于一个确定的集成电路的测试，需要的测试类型有：Y1，Y2，……，Yi，……，Yn；对于任一测试类型，其包含若干个确定的测试向量，其中的测试向量的加载顺序也是固定不变的，不失一般性，设Yi中包含的测试向量为：Vi1，Vi2，……，Vij，……，Vim。其中i，j，n，m均为整数。对于集成电路的测试主要是将坏的芯片挑出来，因此越早发现坏的芯片，测试效果越好。7前的集成电路测试时，对所有的被测电路采用的是同一流程同一测试顺序，未考虑故障之间的相关性。对具体被测电路，未考虑高质量的测试类型和高质量的测试向量。测试类型的顺序和测试向量的顺序在测试被测电路时是静态的，没有将测试效率发挥到极致。针对上述问题，专利技术专利CN201110317892.4提出直接根据前期的测试结果动态调整测试向量，其调整方法是先记录单个测试向量的运行次数a和该向量对应测的故障芯片数b，再通过故障芯片数b/测试向量的运行次数a的值，即的大小作为权值来调整测试向量的顺序。其存在两个方面的问题：1.集成电路测试时，是挑出故障的集成电路，因此碰到集成电路有故障时，对该集成电路测试就停止，后续的测试向量就不再加入，因此可能会存在后续高质量测试向量永远不会加载的情况，即存在不能完全按测试向量质量排序的可能。2.上述专利技术中仅考虑测试向量之间的顺序调整，未考虑测试类型的顺序问题。随着集成电路复杂度的增加，不同的电路需要开发新测试类型，如果只是将这种新的测试类型添加到最后，显然不是最优的。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种测试流程动态调整方法及调整系统，提高测试效率，减低测试成本。本专利技术通过以下技术方案来解决上述技术问题：一种测试流程动态调整方法，包括测试类型调整；所述测试类型调整包括：计算单个测试类型对应能测出坏芯片的次数总和；计算单个测试类型能测坏芯片对应时间总和；根据次数总和和时间总和计算单个测试类型的权重；按权重重新排序，得到新的测试类型序列。优选的，还包括针对每一个测试类型进行测试向量调整；每一个测试类型内包括多个测试向量；所述测试向量调整具体为：计算单个测试向量的权重，根据测试向量的权重排序，得到新的测试向量顺序。优选的，：对于确定测试类型Yi的测试向量Vi1，Vi2，……，Vij，……，Vim对应的运行时间分别为：Ti1，Ti2，……，Tij，……，Yim；单个测试向量Vij的权重Wj＝N’ij/Tij，计算j＝1，2，……，m时权重Wj的值；根据测试向量Vi1，Vi2，……，Vij，……，Vim对应权重Wj值的大小，将Wj按从大到小顺序排列对应测试向量，得到新的测试向量V’i1，V’i2，……，V’ij，……，V’im。优选的，在对测试向量排序之前，先进行初始化，具体为：51)设置初始化参数num，所述num为正整数；52)判断是否所有测试向量的运行次数均大于mum，若不是，选择第一条测试向量为当前测试向量，跳转到步骤53)；若是，跳转到步骤57)；53)将当前测试向量提前到测试向量最前，跳转到步骤54)；54)判断是否有下一个测试向量，如果是，选择下一个测试向量为当前测试向量，跳转到步骤53)；如果否，跳转到步骤55)；55)选择当前的测试向量对任一未测的集成电路进行测试，更新该测试向量的运行次数，判断该集成电路是否存在故障，如果该集成电路有故障，更新该测试向量所测的故障数，跳转到步骤52)；如果该集成电路无故障，跳转到步骤56)；56)选择下一个测试向量为当前的测试向量，跳转到步骤55)；57)初始化结束。优选的，还包括动态组合调整，具体为：51)判断是否还有集成电路未测试完，若已全部测试完，转到48)；52)任选一待测芯片，依排序后的测试类型和测试向量，按顺序加载测试向量，如果测试该芯片无故障，重复步骤51)；如果测试该芯片有故障，转到步骤53)；53)记录测试到集成电路故障的对应测试向量和测试类型，累加测试向量测试到的故障集成电路数；54)判断当前测试向量V″ij是否需要与它前一的测试向量V″i(j-1)交换顺序，具体如下：判断测试向量V″ij测试到故障集成电路的次数N″ij与测试向量V″i(j-1)测试到故障集成电路的次数N″i(j-1)的大小，若N″i(j-1)≥N″ij，不需要调整向量的顺序，转到步骤51)；若N″i(j-1)＜N″ij，将测试向量V″ij与它前面的测试向量V″i(j-1)交换顺序，并同时交换能测的故障集成电路数量；55)判断交换到前面的测试向量是否还需要继续向前交换，具体为：将V″i(j-1)更新为当前测试向量，重复步骤54)，判断该测试向量V″i(j-1)是否需要与前一测试向量V″i(j-2)，若不需要交换，转到步骤56)，若需要交换，重复步骤55)；56)判断当前测试类型Yi″需不需要与它前一的测试类型Y″i-1交换顺序，具体为：分别计算Yi″与Y″i-1的权重和比较和的大小，若转到步骤51)，否则交换测试类型Yi″和Y″i-1的顺序，转到步骤51)；57)判断交换到前面的测试类型是否还要继续向前交换。将Y″i-1更新为当前测试类型，重复步骤56)，判断该测试类型Y″i-1是否需要与前一测试类型Y″i-2；若不需要交换，转到步骤56)，若需要交换，重复步骤57)。48)结束测试。优选的，所述Yi″与Y″i-1的权重计算公式为和其中，为测试类型Yi″对应能测出坏芯片的次数总和，为测试类型Yi″能测坏芯片对应时间总和，T″ij为确定测试类型Yi″中的测试向量V″ij对应的运行时间，N″ij为运行到某个时间点，统计到坏的芯片是由于测试向量V″ij所测的对应次数。本专利技术还提供一种测试流程动态调整系统，包括测试类型调整模块；所述测试类型调整模块包括：测试类型次数计算单元：计算测试类型对应能测出坏芯片的次数总和；测试类型时间权重计算单元：计算测试类型能测坏芯片对应时间总和；测试类型权重计算单元：根据次数总和和时间总和计算测试类型的权重；测试类型排序单元：按权重重新排序，得到新的测试类型序列。优选的，还包括针对每一个测试类型进行测试向量调整的测试向量调整模块，每一个测试类型内包括多个测试向量；所述测试向量调整模块用以计算单个测试向量的权重，根据单个测试向量的权重排序，得到新的测试向量顺序。优选的，还包括初始化模块；所述初始化模块用以设置初始化参数num，所述num为正整数；然后判断当前测试向量运行次数是否小于num，如果是，则将当前测试向量提前到测试向量最前，继续运行下一个测试向量；如果否，初始化结束。优选的，还包括动态组合调整模块；所述动态组合调整模块具体为：51)判断是否还有集成电路未测试完，若已全部测试完，转到步骤48)；52)任本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试流程动态调整方法，其特征在于：包括测试类型调整；所述测试类型调整包括：计算单个测试类型对应能测出坏芯片的次数总和；计算单个测试类型能测坏芯片对应时间总和；根据次数总和和时间计算单个测试类型的权重；按权重重新排序，得到新的测试类型序列。

【技术特征摘要】
1.一种测试流程动态调整方法，其特征在于：包括测试类型调整；所述测试类型调整包括：计算单个测试类型对应能测出坏芯片的次数总和；计算单个测试类型能测坏芯片对应时间总和；根据次数总和和时间计算单个测试类型的权重；按权重重新排序，得到新的测试类型序列。2.根据权利要求1所述的一种测试流程动态调整方法，其特征在于：还包括针对每一个测试类型进行测试向量调整；每一个测试类型内包括多个测试向量；所述测试向量调整具体为：计算单个测试向量的权重，根据测试向量的权重排序，得到新的测试向量顺序。3.根据权利要求2所述的一种测试流程动态调整方法，其特征在于：对于确定测试类型Yi的测试向量Vi1，Vi2，……，Vij，……，Vim对应的运行时间分别为：Ti1，Ti2，……，Tij，……，Yim；单个测试向量Vij的权重Wj＝N’ij/Tij，计算j＝1，2，……，m时权重Wj的值；根据测试向量Vi1，Vi2，……，Vij，……，Vim对应权重Wj值的大小，将Wj按从大到小顺序排列对应测试向量，得到新的测试向量V’i1，V’i2，……，V’ij，……，V’im。4.根据权利要求2或3所述的一种测试流程动态调整方法，其特征在于：在对测试向量排序之前，先进行初始化，具体为：51)设置初始化参数num，所述num为正整数；52)判断是否所有测试向量的运行次数均大于mum，若否，选择第一条测试向量为当前测试向量，跳转到步骤43)；若是，跳转到步骤57)；43)将当前测试向量提前到测试向量最前，跳转到步骤54)；54)判断是否有下一个测试向量，如果是，选择下一个测试向量为当前测试向量，跳转到步骤43)；如果否，跳转到步骤55)；55)选择当前的测试向量对任一未测的集成电路进行测试，更新该测试向量的运行次数，判断该集成电路是否存在故障，如果该集成电路有故障，则更新该测试向量所测的故障数，跳转到步骤52)；如果该集成电路无故障，跳转到步骤56)；56)选择下一个测试向量为当前的测试向量，跳转到步骤55)；57)初始化结束。5.根据权利要求2或3所述的一种测试流程动态调整方法，其特征在于：还包括动态组合调整，具体为：51)判断是否还有集成电路未测试完，若已全部测试完，转到48)；52)任选一待测芯片，依排序后的测试类型和测试向量，按顺序加载测试向量，如果测试成功，重复步骤51)；如果测试失败，转到步骤53)；53)记录测试到集成电路故障的对应测试向量和测试类型，累加测试向量测试到的故障集成电路数；54)判断当前测试向量V”ij是否需要与它前一的测试向量V”i(j-1)交换顺序，具体如下：判断测试向量V”ij测试到故障集成电路的次数N”ij与测试向量V”i(j-1)测试到故障集成电路的次数N”i(j-1)的大小，若N”i(j-1)≥N”ij，不需要调整向量的顺序，转到步骤51)；若N”i(j-1)＜N”ij，将测试向量V”ij与它前面的测试向量V”i(j-1)交换顺序，并同时交换能测的故障集成电路数量；55)判断交换到前面的测试向量是否还要继续向前交换，具体为：将V”i(j-1)更新为当测测试向量，重复步骤54)，判断该测试向量V”i(j-1)是否需要与前一测试向量V”i(j-2)，若不需要交换，转到步骤56)，若需要交换，重复步骤55)；56)判断当前测试类型Y”i需不需要与它前一的测试类型Y”i-1交换顺序，具体为：分别计算Y”i与Y”i-1的权重和比较和的大小，若转到步骤51)，否则交换测试类型Y”i和Y”i-1的顺序，转到步骤51)；57)判断交换到前面的测试类型是否还要继续向前交换；将Y”i-1更新为当测测试类型，重复步骤56)，判断该测试向量Y”i-1...

【专利技术属性】
技术研发人员：詹文法，彭勇，蔡雪原，王钊，江健生，金郡，张振林，韩彦召，刘娟，
申请(专利权)人：安庆师范大学，池州华宇电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽,34