喷墨打印墨滴偏移补偿量测定方法、装置以及测定基板制造方法及图纸

本申请涉及一种喷墨打印墨滴偏移补偿量测定方法、装置、计算机设备、存储介质以及墨滴偏移补偿量测定基板。方法包括根据相邻像素单元的相同位置之间的实际间距，以及获取的实际间距与测定打印间距的差值关系，获取测定打印结果中合格像素单元矩阵的位置信息，根据位置信息、实际间距以及间隔差值，获得墨滴偏移补偿量。通过使得测定打印过程中的墨滴滴落位置与理论上的墨滴滴落位置错开，使得其中部分打印墨滴滴落在像素单元内，部分打印滴落在像素单元外，通过测定打印结果，获得打印墨滴未出现在像素单元外的连续像素单元组成的合格像素单元矩阵的位置信息，进而获得墨滴偏移补偿量，利用该方法得到的墨滴偏移补偿量，测定结果更为精确。

Measurement method, device and substrate for offset compensation of ink droplets in inkjet printing

The application relates to a measuring method, device, computer equipment, storage medium and ink drop offset compensation measuring substrate for inkjet printing. The method includes acquiring the position information of the qualified pixel unit matrix in the printing result according to the actual distance between the same positions of the adjacent pixel units and the difference between the actual distance and the measured print distance, and obtaining the ink drip offset compensation based on the position information, the actual distance and the difference between the intervals. By staggering the drop position of ink droplets in the determination of printing process with that of theoretical ink droplets, part of the printed ink droplets fall into the pixel unit and part of the printed ink droplets fall outside the pixel unit. By measuring the printing results, the position information of the qualified pixel unit matrix composed of the continuous pixel units that the printed ink droplets do not appear outside the pixel unit is obtained, and then the position information of the qualified pixel unit matrix is obtained. The ink drip offset compensation amount obtained by this method is more accurate.

【技术实现步骤摘要】
喷墨打印墨滴偏移补偿量测定方法、装置以及测定基板
本申请涉及喷墨打印
，特别是涉及一种喷墨打印墨滴偏移补偿量测定方法、装置、计算机设备、存储介质以及墨滴偏移补偿量测定基板。
技术介绍
随着科学技术的发展，出现了喷墨打印技术，依据喷墨打印工艺的特性，在像素单元内填充墨水材料的膜厚均匀性是喷墨打印工艺的重要考察点。正因为像素内的墨水填充材料的膜厚均匀性要求，所以对喷墨打印的精度也提出了要求，即在指定的像素内填充规定的墨滴滴数，假设有一些墨滴滴落在像素单元外，必然会导致相应的像素单元内墨水材料减少，因此膜厚均匀性也无法保证。传统的喷墨打印工艺程序中，在进行喷墨打印工艺前，要先进行喷墨打印头的墨滴偏移量测定，这样在喷墨打印工艺的参数中要提前设置墨滴偏移量的补偿量，只有这样才能更加精确的完成墨滴滴落在像素单元内。因为设备功能的缺失以及人员操作习惯的差异，墨滴滴落位置偏移量的测定结果不精确，导致墨滴偏出到像素单元外的情况。在这样的情况下，进行喷墨打印工艺产出的OLED(OrganicLight-EmittingDiode，有机发光二极管)器件，会因为墨水材料膜厚不均匀，导致OLED器件效果变差。
技术实现思路
基于此，有必要针对墨滴滴落位置偏移量的测定结果不精确技术问题，提供一种提高测定精确度的喷墨打印墨滴偏移补偿量测定方法、装置、计算机设备、存储介质以及墨滴偏移补偿量测定基板。一种喷墨打印墨滴偏移补偿量测定方法，方法包括：获取相邻像素单元的相同位置之间的实际间距，所述相邻像素单元是指待打印基板的打印移动方向上的相邻像素单元；根据所述实际间距，以及获取的实际间距与测定打印间距的差值关系，确定测定打印间距；根据所述测定打印间距，进行测定打印，获取测定打印结果；获取所述测定打印结果中合格像素单元矩阵的位置信息，所述合格像素单元矩阵是指打印墨滴未出现在像素单元外的连续像素单元组成的像素单元矩阵；根据所述位置信息、所述实际间距以及所述间隔差值，获得墨滴偏移补偿量。在其中一个实施例中，所述获取所述测定打印结果中合格像素单元矩阵的位置信息包括：获取所述测定打印结果中的墨滴滴落图像信息；根据所述墨滴滴落图像信息，检测各像素单元的墨滴是否滴落在所述像素单元外；根据检测结果，确定墨滴未滴落在所述像素单元外的连续像素单元组成的合格像素单元矩阵；获取所述合格像素单元矩阵中打印的第一行与最后一行的位置信息。在其中一个实施例中，所述根据所述位置信息、所述实际间距以及所述间隔差值，获得墨滴偏移补偿量包括：根据所述位置信息，获取的第一行与最后一行的位置信息，获取所述合格像素单元矩阵的中间行位置信息；根据所述实际间距与所述间隔差值，获取墨滴滴落在所述像素单元内的理论矩阵中间行位置信息；根据所述理论矩阵中间行位置信息与所述中间行位置信息的位置差，获得墨滴偏移补偿量。在其中一个实施例中，所述根据所述实际间距，以及获取的实际间距与测定打印间距的差值关系，确定所述测定打印间距之前，还包括：将实际间距与测定打印间距的差值关系，设置为所述测定打印间距比所述实际间距小1μm。在其中一个实施例中，所述根据所述实际间距，以及获取的实际间距与测定打印间距的差值关系，确定所述测定打印间距之前，还包括：根据预设的打印允许误差范围标准，获取所述实际间距与测定打印间距的差值关系。在其中一个实施例中，所述根据所述位置信息、所述实际间距以及所述间隔差值，获得墨滴偏移补偿量之后，还包括：获取所述测定打印结果中，多个所述合格像素单元矩阵的位置信息；根据所述多个所述合格像素单元矩阵的位置信息、所述实际间距以及所述间隔差值，获得多个墨滴偏移补偿结果；根据多个所述墨滴偏移补偿结果，获得优化的墨滴偏移补偿量。一种墨滴偏移补偿量测定基板，基板集成多种像素尺寸的测定基板，根据的任意一种喷墨打印墨滴偏移补偿量测定方法，分别测定多种像素尺寸的基板在打印时分别所需的墨滴偏移补偿量。一种喷墨打印墨滴偏移补偿量测定装置，装置包括：像素单元实际间隔确定模块，用于获取相邻像素单元的相同位置之间的实际间距，相邻像素单元是指待打印基板的打印移动方向上的相邻像素单元；测定打印间距确定模块，用于根据实际间距，以及获取的实际间距与测定打印间距的差值关系，确定测定打印间距；测定打印模块，用于根据测定打印间距，进行测定打印，获取测定打印结果；位置信息获取模块，用于获取测定打印结果中合格像素单元矩阵的位置信息，合格像素单元矩阵是指打印墨滴未出现在像素单元外的连续像素单元组成的像素单元矩阵；墨滴偏移补偿量确定模块，用于根据位置信息、实际间距以及间隔差值，获得墨滴偏移补偿量。一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现喷墨打印墨滴偏移补偿量测定方法的步骤。一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现喷墨打印墨滴偏移补偿量测定方法的步骤。传统的喷墨打印工艺，理论上应按照待打印基板上像素单元的实际间距完成打印，由于在打印过程中，待打印基板处于移动状态，会使滴落的墨滴产生角度偏移，以及玻璃基板机械运动造成的精度偏移，从而导致所有的墨滴滴落位置都不在理论滴落位置。上述喷墨打印墨滴偏移补偿量测定方法、装置、计算机设备、存储介质以及墨滴偏移补偿量测定基板，通过获取到待打印基板上像素单元的实际间距待打印基板上像素单元的实际间距，以及实际间距与测定打印间距的差值关系，使得测定打印过程中的墨滴滴落位置与理论上的墨滴滴落位置错开，其中部分打印墨滴滴落在像素单元内，部分打印滴落在像素单元外，通过测定打印结果，获得打印墨滴未出现在像素单元外的连续像素单元组成的合格像素单元矩阵的位置信息，进而根据位置信息、实际间距以及间隔差值，获得墨滴偏移补偿量，利用该方法得到的墨滴偏移补偿量，测定结果更为精确。附图说明图1为一个实施例中喷墨打印偏移产生原理示意图；图2为一个实施例中喷墨打印墨滴偏移补偿量测定方法的流程示意图；图3为另一个实施例中喷墨打印墨滴偏移补偿量测定方法的流程示意图；图4为另一个实施例中喷墨打印墨滴偏移补偿量测定方法的流程示意图；图5为另一个实施例中喷墨打印墨滴偏移补偿量测定方法的流程示意图；图6为另一个实施例中喷墨打印墨滴偏移补偿量测定方法的流程示意图；图7为一个实施例中墨滴偏移补偿量测定基板的结构示意图；图8为一个实施例中喷墨打印墨滴偏移补偿量测定装置的结构框图；图9为另一个实施例中喷墨打印墨滴偏移补偿量测定装置的结构框图；图10为一个实施例中计算机设备的内部结构图。具体实施方式为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。采用喷墨打印工艺的方法制作OLED显示屏是未来大尺寸OLED显示屏制作的主要工艺方法，目前，OLED器件制作工艺中，已经采用了喷墨打印工艺。依据喷墨打印工艺的特性，在像素单元内填充墨水材料的膜厚均匀性是工艺的重要考察点。正因为像素内的墨水填充材料的膜厚均匀性要求，所以对喷墨打印的精度也提出了要求，即在指定的像素内填充规定的墨滴滴数，假设有一些墨滴滴落在像素单元外，必然会导致相应的像素单元内墨水材料减少，因此膜厚均匀本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种喷墨打印墨滴偏移补偿量测定方法，其特征在于，所述方法包括：获取相邻像素单元的相同位置之间的实际间距，所述相邻像素单元是指待打印基板的打印移动方向上的相邻像素单元；根据所述实际间距，以及获取的实际间距与测定打印间距的差值关系，确定所述测定打印间距；根据所述测定打印间距，进行测定打印，获取测定打印结果；获取所述测定打印结果中合格像素单元矩阵的位置信息，所述合格像素单元矩阵是指打印墨滴未出现在像素单元外的连续像素单元组成的像素单元矩阵；根据所述位置信息、所述实际间距以及所述间隔差值，获得墨滴偏移补偿量。

【技术特征摘要】
1.一种喷墨打印墨滴偏移补偿量测定方法，其特征在于，所述方法包括：获取相邻像素单元的相同位置之间的实际间距，所述相邻像素单元是指待打印基板的打印移动方向上的相邻像素单元；根据所述实际间距，以及获取的实际间距与测定打印间距的差值关系，确定所述测定打印间距；根据所述测定打印间距，进行测定打印，获取测定打印结果；获取所述测定打印结果中合格像素单元矩阵的位置信息，所述合格像素单元矩阵是指打印墨滴未出现在像素单元外的连续像素单元组成的像素单元矩阵；根据所述位置信息、所述实际间距以及所述间隔差值，获得墨滴偏移补偿量。2.根据权利要求1所述的喷墨打印墨滴偏移补偿量测定方法，其特征在于，所述获取所述测定打印结果中合格像素单元矩阵的位置信息包括：获取所述测定打印结果中的墨滴滴落图像信息；根据所述墨滴滴落图像信息，检测各像素单元的墨滴是否滴落在所述像素单元外；根据检测结果，确定墨滴未滴落在所述像素单元外的连续像素单元组成的合格像素单元矩阵；获取所述合格像素单元矩阵中打印的第一行与最后一行的位置信息。3.根据权利要求2所述的喷墨打印墨滴偏移补偿量测定方法，其特征在于，所述根据所述位置信息、所述实际间距以及所述间隔差值，获得墨滴偏移补偿量包括：根据所述位置信息，获取的第一行与最后一行的位置信息，获取所述合格像素单元矩阵的中间行位置信息；根据所述实际间距与所述间隔差值，获取墨滴滴落在所述像素单元内的理论矩阵中间行位置信息；根据所述理论矩阵中间行位置信息与所述中间行位置信息的位置差，获得墨滴偏移补偿量。4.根据权利要求1所述的喷墨打印墨滴偏移补偿量测定方法，其特征在于，所述根据所述实际间距，以及获取的实际间距与测定打印间距的差值关系，确定所述测定打印间距之前，还包括：将实际间距与测定打印间距的差值关系，设置为所述测定打印间距比所述实际间距小1μm。5.根据权利要求1所述的喷墨打印墨滴偏移补偿量测定方法，其特征在于，所述根据所述实际间距，以及获...

【专利技术属性】
技术研发人员：柳开郎，
申请(专利权)人：广东聚华印刷显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44