一种光性能监测器制造技术

本发明专利技术公开一种光性能监测器，其包括：一基于Etalon的可调谐滤波器，用于信号光输入；一基于MEMS的可调谐滤波器，用于过滤基于Etalon的可调谐滤波器的透过峰；一PD，用于监测光功率。通过扫描控制基于Etalon的可调谐滤波器与基于MEMS的可调谐滤波器的透过峰波长，PD监测光功率，再通过数据处理即可获得监测光的频谱分布，相比与采用可调谐滤波器，一个1×N光分路器或一个1XN光开关，N个WDM膜片和N个PD的方案具有光路简单、扫描速度快、系统光路插损小、可调谐滤波器加工工艺要求低的优点。

An Optical Performance Monitor

The invention discloses an optical performance monitor, which includes: a tunable filter based on Etalon for signal light input; a tunable filter based on MEMS for filtering the transmission peak of the tunable filter based on Etalon; and a PD for monitoring optical power. By controlling the transmission peak wavelength of Etalon-based tunable filter and MEMS-based tunable filter through scanning, PD monitors optical power, and then obtains the spectrum distribution of the monitored light through data processing. Compared with the scheme using tunable filter, a 1*N optical splitter or a 1XN optical switch, N WDM diaphragms and N PD, the scheme has the advantages of simple optical path, fast scanning speed and systematic light. The advantages of low insertion loss and low processing requirement of tunable filter are discussed.

【技术实现步骤摘要】
一种光性能监测器
本专利技术涉及光通讯领域，尤其涉及一种光性能监测器。
技术介绍
基于Etalon的可调谐滤波器具有周期性透过峰的特征，为了获得特定透过峰即特定波长处的光功率，需要对周期性的透过峰进行过滤，目前主要有以下几种方式来实现：1.通过1×N光分路器将光分成N路，每一路光接一个WDM与PD，由于WDM的存在，每个PD只能接收特定的透过峰，起到了监测特定波长光功率的作用。2.通过1×N光开关将光分成N路，每一路光接一个WDM与PD，由于WDM的存在，每个PD只能接收特定的透过峰，起到了监测特定波长光功率的作用。上述方式1由于1×N光分路器的存在，增大了系统的光路插损，降低了系统的探测能力，优势在于可调谐滤波器扫描一遍即可完成工作波段的光路监测；上述方式2由于采用的是1×N光开关，相比与方式1的优点是降低了系统的光路插损，有利于提高系统的探测能力，缺点是可调谐滤波器需要扫描N遍才能完成工作波段的光路监测。上述方式1与方式2为了提高光性能监测器的分辨能力，需要可调谐滤波器的带宽尽可能的窄，在保持工作波段内透过峰数量不变的情况下，要求Etalon标准具尽可能的薄，这对工艺提出了更高的要求，同时也会造成加工成本的上升；在增加工作波段内透过峰数量的情况下，能够降低Etalon标准具的工艺难度，但是会相应的增加WDM与PD的数量，提高了系统的复杂度。
技术实现思路
为了解决现有技术中的不足，本专利技术的目的在于提供一种光路简单、扫描速度快、系统光路插损小、可调谐滤波器加工工艺要求低的光性能监测器。为实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案：一种光性能监测器，包括：一基于Etalon的可调谐滤波器，用于信号光输入；一基于MEMS的可调谐滤波器，用于过滤基于Etalon的可调谐滤波器的透过峰；一PD，用于监测光功率。所述的基于Etalon的可调谐滤波器，具有周期性透过峰的特征，在工作波段的透过峰数量为N。所述的基于MEMS的可调谐滤波器，具有一个透过峰的特征。所述的基于Etalon的可调谐滤波器和基于MEMS的可调谐滤波器级联后，具有至多一个透过峰作用于PD。所述的基于MEMS的可调谐滤波器的调谐速度大于基于Etalon的可调谐滤波器。所述的基于MEMS的可调谐滤波器的带宽大于基于Etalon的可调谐滤波器。本专利技术采用以上结构，通过扫描控制基于Etalon的可调谐滤波器与基于MEMS的可调谐滤波器的透过峰波长，PD监测光功率，再通过数据处理即可获得监测光的频谱分布，相比与采用可调谐滤波器，一个1×N光分路器或一个1XN光开关，N个WDM膜片和N个PD的方案具有光路简单、扫描速度快、系统光路插损小、可调谐滤波器加工工艺要求低的优点。附图说明以下结合附图和具体实施方式对本专利技术做进一步详细说明；图1是本专利技术的一种结构示意图。图2是基于Etalon的可调谐滤波器滤波曲线示意图。图3是基于MEMS的可调谐滤波器滤波曲线示意图。图4是级联基于Etalon的可调谐滤波器和基于MEMS的可调谐滤波器曲线示意图。具体实施方式如图1是本专利技术一种结构示意图。本专利技术光性能监测器包括：一基于Etalon的可调谐滤波器101（EtalonTOF），用于信号光输入；一基于MEMS的可调谐滤波器102（MEMSTOF），用于过滤基于Etalon的可调谐滤波器101的透过峰；一PD103，用于监测光功率。信号光输入基于Etalon的可调谐滤波器101，然后经过基于MEMS的可调谐滤波器102作用到PD103上。图2是基于Etalon的可调谐滤波器101的滤波曲线图，在工作波段内（这里以C波段为例）有25个透过峰，即N=25，透过峰的位置以F1、F2…F25表示，透过峰对应的波长以λ1、λ2…λ25表示；图3是基于MEMS的可调谐滤波器102的滤波曲线图，在工作波段内只有一个透过峰；级联基于Etalon的可调谐滤波器101与基于MEMS的可调谐滤波器102后，当基于MEMS的可调谐滤波器102的透过峰与基于Etalon的可调谐滤波器101中的一个透过峰重叠时，由于基于MEMS的可调谐滤波器102的透过峰带宽大于基于Etalon的可调谐滤波器101的透过峰带宽，级联后的透过峰带宽与基于Etalon的可调谐滤波器101透过峰带宽相近，如图4所示基于MEMS的可调谐滤波器102透过峰与基于Etalon的可调谐滤波器101的透过峰F1重叠，此时PD103获得的监测功率即为λ1对应的功率记为P1，此时控制MEMS可调谐滤波器进行扫描，由于基于MEMS的可调谐滤波器102的调谐速度远大于基于Etalon的可调谐滤波器101的调谐速度（通常在两个数量级以上，例如基于MEMS的可调谐滤波器102在工作波段内的调谐时间可达10ms，基于Etalon的可调谐滤波器101的调谐时间可至2000ms）,当基于MEMS的可调谐滤波器102的透过峰与基于Etalon的可调谐滤波器101的透过峰F2重叠时，可认为透过峰F2对应的λ2仅发生了可容忍范围内的微小变化，由PD103可获得λ2对应的功率记为P2，依此类推，可获得λ1、λ2…λ25对应的功率P1、P2…P25；同理，当基于Etalon的可调谐滤波器101扫描时，其透过峰位置位于F1、F2、…F25，对应的透过峰波长为λ1、λ2、…λ25，通过基于MEMS的可调谐滤波器102扫描由PD103可获得对应透过峰波长的功率为P1、P2、…P25；由此可见，当基于Etalon的可调谐滤波器101在一个FSR范围内不停的重复扫描时，通过基于MEMS的可调谐滤波器102对基于Etalon的可调谐滤波器101的透过峰进行过滤，由PD103可记录下对应透过峰的功率，通过数据处理即可获得工作波段内波长-功率曲线，即完成了对光路的光性能监测。尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本专利技术，但所属领域的技术人员应该明白，在不脱离所附权利要求书所限定的本专利技术的精神和范围内，在形式上和细节上对本专利技术做出的各种变化，均为本专利技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光性能监测器，其特征在于：包括：一基于Etalon的可调谐滤波器，用于信号光输入；一基于MEMS的可调谐滤波器，用于过滤基于Etalon的可调谐滤波器的透过峰；一PD，用于监测光功率。

【技术特征摘要】
1.一种光性能监测器，其特征在于：包括：一基于Etalon的可调谐滤波器，用于信号光输入；一基于MEMS的可调谐滤波器，用于过滤基于Etalon的可调谐滤波器的透过峰；一PD，用于监测光功率。2.根据权利要求1所述的一种光性能监测器，其特征在于：所述的基于Etalon的可调谐滤波器，具有周期性透过峰的特征，在工作波段的透过峰数量为N。3.根据权利要求1所述的一种光性能监测器，其特征在于：所述的基于MEMS的可调谐滤波器，具有一...

【专利技术属性】
技术研发人员：李阳，池哲强，潘忠灵，
申请(专利权)人：福州高意通讯有限公司，
类型：发明
国别省市：福建,35