光学检测系统技术方案

本实用新型专利技术涉及一种光学检测系统，用于对多联卡进行检测，包括卡托、移位驱动器、检测光源、转盘和第一光敏检测器；卡托用于放置多联卡，卡托设有多个检测孔；检测光源有多个且分别用于发射不同波长的检测光线，多个检测光源分布在转盘上，转盘能够转动以带动不同的检测光源转动至检测位；或者，检测光源为白光光源，检测光源位于检测位，光学检测系统还包括多个分布在转盘上的滤光片，转盘能够转动以带动不同的滤光片转动至与检测位对应，多个滤光片分别用于选择通过不同波长的检测光线；移位驱动器用于驱动卡托或检测光源以使检测光线依次通过多个检测孔；第一光敏检测器用于检测检测光线抵达多联卡之后的透射光或反射光。

Optical detection system

The utility model relates to an optical detection system, which is used to detect multiple cards, including a cator, a shift driver, a detection light source, a turntable and a first photosensitive detector; a cator is used for placing multiple cards, with a plurality of detection holes in the cator; a detection light source has a plurality of detection light sources and is used to emit different wavelengths of detection light, and a plurality of detection light sources are distributed on the turntable, and the turntable can rotate. The optical detection system also includes a plurality of filters distributed on the rotating disc, which can rotate to drive different filters to rotate to the corresponding detection position, and multiple filters are used to select the detection light passing through different wavelengths respectively. The first photosensitive detector is used to detect the transmitted or reflected light after the detection light arrives at the multiplex card.

【技术实现步骤摘要】
光学检测系统
本技术涉及光学检测
，特别是涉及一种光学检测系统。
技术介绍
随着光学检测技术的发展，医药领域越来越多的测试项目通过吸光度检测、荧光检测等光学技术进行检测。由于样品的不同检测项目所使用的检测波长有所不同，为了提高效率，减少样本量采集，多联卡(即将多种检测指标集中在一张卡片上，同时对样品进行多项指标检测的检测产品)的使用越来越广泛。传统的多联卡检测仪器多通过采用不同发光波长的LED进行固定位置排列，对应多联卡每个检测孔位只有一种检测波长，一种仪器往往只能检测一种固定项目组合的多联卡，适用范围窄。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种能够适用于多种检测项目组合的多联卡的光学检测系统。一种光学检测系统，用于对多联卡进行检测，所述光学检测系统包括卡托、检测光源、转盘、移位驱动器以及第一光敏检测器；所述卡托用于放置所述多联卡，所述卡托设有多个检测孔，多个所述检测孔分别对应所述多联卡的多个检测区域；所述检测光源有多个且分别用于发射不同波长的检测光线，多个所述检测光源分布在所述转盘上，所述转盘能够转动以带动不同的所述检测光源转动至检测位；或者，所述检测光源为白光光源，所述检测光源位于检测位，所述光学检测系统还包括多个滤光片，多个所述滤光片分布在所述转盘上，所述转盘能够转动以带动不同的所述滤光片转动至与所述检测位对应，多个所述滤光片分别用于对所述检测光源发射的白光进行过滤并选择通过不同波长的检测光线；所述移位驱动器用于驱动所述卡托或所述检测光源以使所述检测光线依次通过多个所述检测孔；所述第一光敏检测器用于检测所述检测光线抵达所述多联卡之后的透射光或反射光。在其中一个实施例中，多个所述检测光源在所述转盘上呈圈状分布，且沿顺时针方向或逆时针方向，多个所述检测光源所发射的检测光线的波长依次对应所述多联卡上顺次排列的多个所述检测区域所需的波长；或者，多个所述滤光片在所述转盘上呈圈状分布，且沿顺时针方向或逆时针方向，多个所述滤光片允许通过的检测光线的波长依次对应所述多联卡上顺次排列的多个所述检测区域所需的波长。在其中一个实施例中，所述光学检测系统还包括第一分光棱镜和第二光敏检测器，所述第一分光棱镜设置在所述检测光源与所述卡托之间，所述第一分光棱镜与所述检测位对应以从所述检测光线分出分光光线，所述第二光敏检测器用于检测所述分光光线。在其中一个实施例中，所述分光光线与所述检测光线垂直。在其中一个实施例中，所述光学检测系统还包括第二分光棱镜，所述第二分光棱镜用于从所述分光光线分出与所述检测光线同向的光线。在其中一个实施例中，所述第二分光棱镜有多个，多个所述分光棱镜沿所述分光光线排列。在其中一个实施例中，所述光学检测系统还包括挡光板，所述挡光板设置在所述转盘与所述卡托之间，所述挡光板上设有第一通光孔，所述第一通光孔与所述检测位对应。在其中一个实施例中，所述检测光线经过所述检测孔时能够通过所述检测孔小孔成像在所述多联卡上形成光斑。在其中一个实施例中，所述第一光敏检测器有多个，多个所述第一光敏检测器用于检测所述检测光线抵达所述多联卡之后的反射光，多个所述第一光敏检测器以所述检测光线呈中心对称分布。在其中一个实施例中，所述光学检测系统还包括检测器托盘，多个所述第一光敏检测器设置在所述检测器托盘上，所述检测器托盘设有第二通光孔，所述第二通光孔与所述检测位对应。在其中一个实施例中，所述第一光敏检测器为半积分球，所述第一光敏检测器上设有第三通光孔，所述第三通光孔与所述检测位对应，所述第一光敏检测器设置在所述卡托靠近所述检测光源的一侧。与现有方案相比，本技术具有以下有益效果：上述光学检测系统，可由移位驱动器驱动卡托或检测光源以使检测光线依次通过多个检测孔，通过转动转盘选择不同波长的检测光线对多联卡的不同检测区域分别进行光学检测，从而能够适用于多种检测项目组合的多联卡。附图说明图1为一实施例的光学检测系统的结构示意图；图2为另一实施例的光学检测系统的局部结构示意图；图3为又一实施例的光学检测系统的局部结构示意图；图4为一实施例的第一光敏检测器的结构示意图。具体实施方式为了便于理解本技术，下面将参照相关附图对本技术进行更全面的描述。附图中给出了本技术的较佳实施例。但是，本技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本技术的公开内容的理解更加透彻全面。需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。如图1所示，本技术一实施例的光学检测系统10，用于对多联卡20进行检测，包括卡托100、检测光源200、转盘300、移位驱动器(图未示)以及第一光敏检测器400。卡托100用于放置多联卡20，卡托100设有多个检测孔120，多个检测孔120对应多联卡20的多个检测区域。请参见图1，检测光源200有多个，多个检测光源200分别用于发射不同波长的检测光线，多个检测光源200分布在转盘300上，转盘300能够转动以带动不同的检测光源200转动至检测位，即通过转动转盘300，可切换不同检测光源200沿检测位朝向多联卡20发射检测光线；或者，请参阅图2，检测光源200为白光光源，检测光源200位于检测位，光学检测系统10还包括多个滤光片500，多个滤光片500分布在转盘300上，转盘300能够转动以带动不同的滤光片500转动至与检测位对应，多个滤光片500分别用于对检测光源200发射的白光进行过滤并选择通过不同波长的检测光线。移位驱动器用于驱动卡托100或检测光源200以使检测光线依次通过多个检测孔120。第一光敏检测器400用于检测检测光线抵达多联卡20之后的透射光或反射光，将光信号转化为电信号输出。在其中一个示例中，移位驱动器与卡托100连接以驱动卡托100运动使得多个检测孔120依次与检测位位置对应。其中，检测光源200可选择但不限于LED光源。在其中一个示例中，光学检测系统10该包括转动驱动器(图未示)，转动驱动器用于驱动转盘300转动。在多个检测光源200分别用于发射不同波长的检测光线的设置方式中，可以在检测光源200上套设光源套筒600，避免不同波长的检测光线之间的干扰而影响检测准确性。在其中一个示例中，光学检测系统10还包括挡光板700，挡光板700设置在转盘300与卡托100之间，挡光板700上设有第一通光孔620，第一通光孔620与检测位对应。设置挡光板700，使得仅有与检测位相对应的检测光线通过。在其中一个示例中，多个检测光源200在转盘300上呈圈状分布，且沿顺时针方向或逆时针方向，多个检测光源的波长依次对应多联卡上顺次排列的多个检测区域所需的波长；或者，多个滤光片在转盘上呈圈状分布，且沿顺时针方向或逆时针方向，多个滤光片允本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学检测系统，用于对多联卡进行检测，其特征在于，包括卡托、检测光源、转盘、移位驱动器以及第一光敏检测器；所述卡托用于放置所述多联卡，所述卡托设有多个检测孔，多个所述检测孔分别对应所述多联卡的多个检测区域；所述检测光源有多个且分别用于发射不同波长的检测光线，多个所述检测光源分布在所述转盘上，所述转盘能够转动以带动不同的所述检测光源转动至检测位；或者，所述检测光源为白光光源，所述检测光源位于检测位，所述光学检测系统还包括多个滤光片，多个所述滤光片分布在所述转盘上，所述转盘能够转动以带动不同的所述滤光片转动至与所述检测位对应，多个所述滤光片分别用于对所述检测光源发射的白光进行过滤并选择通过不同波长的检测光线；所述移位驱动器用于驱动所述卡托或所述检测光源以使所述检测光线依次通过多个所述检测孔；所述第一光敏检测器用于检测所述检测光线抵达所述多联卡之后的透射光或反射光。

【技术特征摘要】
1.一种光学检测系统，用于对多联卡进行检测，其特征在于，包括卡托、检测光源、转盘、移位驱动器以及第一光敏检测器；所述卡托用于放置所述多联卡，所述卡托设有多个检测孔，多个所述检测孔分别对应所述多联卡的多个检测区域；所述检测光源有多个且分别用于发射不同波长的检测光线，多个所述检测光源分布在所述转盘上，所述转盘能够转动以带动不同的所述检测光源转动至检测位；或者，所述检测光源为白光光源，所述检测光源位于检测位，所述光学检测系统还包括多个滤光片，多个所述滤光片分布在所述转盘上，所述转盘能够转动以带动不同的所述滤光片转动至与所述检测位对应，多个所述滤光片分别用于对所述检测光源发射的白光进行过滤并选择通过不同波长的检测光线；所述移位驱动器用于驱动所述卡托或所述检测光源以使所述检测光线依次通过多个所述检测孔；所述第一光敏检测器用于检测所述检测光线抵达所述多联卡之后的透射光或反射光。2.如权利要求1所述的光学检测系统，其特征在于，多个所述检测光源在所述转盘上呈圈状分布，且沿顺时针方向或逆时针方向，多个所述检测光源所发射的检测光线的波长依次对应所述多联卡上顺次排列的多个所述检测区域所需的波长；或者，多个所述滤光片在所述转盘上呈圈状分布，且沿顺时针方向或逆时针方向，多个所述滤光片允许通过的检测光线的波长依次对应所述多联卡上顺次排列的多个所述检测区域所需的波长。3.如权利要求1所述的光学检测系统，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴曼，王继华，
申请(专利权)人：广州万孚生物技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44